公开(公告)号：KR101437438B1

公开(公告)日：2014-09-16

申请号：KR1020120152713

申请日：2012-12-26

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 김남수 ,  홍원식 ,  한창운

IPC: H01L31/042

CPC classification number: Y02E10/50

Abstract: 경량화 태양전지 모듈이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 경량화 태양전지 모듈은 태양전지판; 태양전지판 양면에 각각 부착되는 EVA 시트; 태양전지판의 전면 방향에 배치되는 것으로 EVA 시트에 부착되는 투명 기재; 태양전지판의 후면 방향에 배치되는 것으로 EVA 시트에 부착되는 백시트; 및 태양전지판, EVA 시트, 투명 기재 및 백시트의 결합 모듈을 내측에 수용하여 결합되는 모듈 프레임을 포함하고, 투명 기재는 투명 플라스틱 재료로 형성되고, 모듈 프레임은 합성 고분자 재료로 형성된다.

公开(公告)号：KR101436403B1

公开(公告)日：2014-09-01

申请号：KR1020120153260

申请日：2012-12-26

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 한창운

IPC: G01B11/25

Abstract: 본 발명은 정현파 격자를 이용한 섀도우모아레 방법 및 이를 이용한 측정 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 측정대상이 되는 구조물의 표면형상이나 평탄도를 측정함에 있어서 정현파 격자를 이용한 섀도우모아레 방법 및 이를 이용한 측정 장치에 관한 것으로 기존 섀도우모아레 방법에서 발생하는 탈봇거리 효과를 없애 수직측정가능영역을 개선하였고 섀도우모아레 방법에 위상이동법을 적용함에 있어서 구조적 오차를 방지하여 측정해상도를 증가시키는 효과가 있다.

公开(公告)号：KR1020130083498A

公开(公告)日：2013-07-23

申请号：KR1020110142826

申请日：2011-12-26

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 김남수 ,  한창운 ,  박노창 ,  정재성

IPC: G06F19/00 ,  G06F17/10

CPC classification number: G06F17/10

Abstract: PURPOSE: A product life span estimating method of the variable environment is provided to consider the using condition in which the surrounding environment of the product changes according to the time, thereby improving the reliability of the product life span. CONSTITUTION: The stress factors of a product are determined and the degradation per time of the stress factors is added up for the predetermined time (S130). The D value is calculated by substituting the degradation per time into the equation (S140). If the D value becomes 1, the life span of the product is defined to be ended up (S150). The stress factors comprise the temperature, humidity, the solar radiation, the speed of wind, and the atmospheric pressure. [Reference numerals] (AA) Start; (BB) End; (S110) Set the relationship between the product life and a deterioration rate; (S120) Identify stress factors of the product; (S130) Sum up all the deterioration rates of the stress factors by time slot for a entire period of t; (S140) Calculate the value of t by substituting the time slot-specific deterioration rate; (S150) Set the value of t as the end of the product life

Abstract translation: 目的：提供可变环境的产品寿命估算方法，以考虑产品周围环境根据时间变化的使用条件，从而提高产品使用寿命的可靠性。 构成：确定产品的应力因子，并在预定时间内将应力因子的每次时间的退化相加（S130）。 通过将时间的退化代入式（S140）来计算D值。 如果D值变为1，则将产品的使用寿命定义为最终（S150）。 应力因素包括温度，湿度，太阳辐射，风速和大气压力。 （附图标记）（AA）开始; （BB）结束; （S110）设定产品寿命与劣化率之间的关系; （S120）识别产品的应力因素; （S130）通过时间段整个t的累积应力因子的所有恶化率; （S140）用时隙特有的劣化率代替t来计算t的值; （S150）将t的值设置为产品寿命结束

公开(公告)号：KR1020170077005A

公开(公告)日：2017-07-05

申请号：KR1020150187023

申请日：2015-12-27

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 한창운 ,  박승일

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/333 ,  G01R27/02

Abstract: IGBT의 C-E간온 저항을이용한고장예지방법및 시스템이제공된다. 본발명의실시예에따른고장예지시스템은, 트랜지스터에전압을인가하여트랜지스터의온 저항을측정하고, 온저항을기초로트랜지스터의고장을예지한다. 이에의해, IGBT의열화에따라비교적민감하게변화하는 IGBT의온 저항으로 IGBT의고장을비교적정확하게예지할수 있게된다.

Abstract translation: 提供了一种利用IGBT的C-E低温电阻的故障预测方法和系统。 根据本发明实施例的故障预测系统通过向晶体管施加电压并基于导通电阻预测晶体管的故障来测量晶体管的导通电阻。 这使得可以相对准确地预测由于根据IGBT的热膨胀而相对敏感地变化的IGBT的温度电阻引起的IGBT故障。

公开(公告)号：KR1020150075752A

公开(公告)日：2015-07-06

申请号：KR1020130164010

申请日：2013-12-26

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 한창운 ,  윤주환

IPC: H01L23/60

CPC classification number: H01L23/60

Abstract: ESD를이용한전력반도체소자결함인가시스템및 방법이제공된다. 본발명의실시예에따른반도체소자결함인가시스템은, 반도체소자에결함을발생시키기위해 ESD를인가하는인가부와인가부의 ESD 인가동작을제어하는제어부를포함한다. 이에의해, ESD를이용하여반도체소자에결함을인가할수 있게되어, 인가크기나인가횟수구분을통해반도체소자에인가할결함을정량적으로구분할수 있게된다.

Abstract translation: 公开了使用ESD的功率半导体器件缺陷授权系统及其方法。 根据本发明的实施例的半导体器件缺陷授权系统包括授权ESD在半导体器件上产生缺陷的权限单元和控制权限单元的ESD权限运动的控制单元。 在这方面，本发明可以通过使用ESD来在半导体器件上授权缺陷。 因此，本发明可以通过权限大小和权限频率来定量地识别在半导体器件上授权的缺陷。

公开(公告)号：KR101481534B1

公开(公告)日：2015-01-14

申请号：KR1020120150240

申请日：2012-12-21

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 김남수 ,  한창운

IPC: H01L31/052

CPC classification number: Y02B10/10 ,  Y02E10/50

Abstract: 건물 일체형 태양전지 모듈이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 건물 일체형 태양전지 모듈은 건물의 외벽에 설치되는 건물 일체형 태양전지 모듈에 있어서, 박막 태양전지; 및 박막 태양전지의 후면에 배치되는 것으로, 일면 또는 양면에 저방사 코팅층이 형성되는 투명기재를 포함한다.

公开(公告)号：KR101466687B1

公开(公告)日：2014-12-01

申请号：KR1020130157203

申请日：2013-12-17

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 한창운

IPC: H02S50/10 ,  H01L31/04 ,  G01R31/00

CPC classification number: H02S50/10

Abstract: 어레이 타입 회로 모델을 이용한 박막태양전지 모듈의 수명예측방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 박막태양전지 모듈의 수명예측방법은 전류원, 다이오드전류, 누설저항 및 직렬저항으로 구성되는 원다이오드(1-diode) 모델의 태양전지 등가회로를 m×n개 어레이하여, m×n개의 가상 격자로 구획되는 박막태양전지 모듈 전체를 모델링하는 1단계; 박막태양전지 모듈 내부의 시간에 따른 수분 침투량 변화를 각각의 가상 격자 별로 산출하는 2단계; 측정된 수분 침투량 변화와 가상 격자들에 대응하는 태양전지 등가회로들의 저항 변화와의 관계를 각각 산출하는 3단계; 및 시간에 따른 저항 변화를 태양전지 등가회로들에 각각 입력하여 박막태양전지 모듈 전체의 시간에 따른 전류-전압 특성 변화를 산출하고, 산출된 전류-전압 특성 변화에 기반하여 상기 박막태양전지 모듈의 수명을 추정하는 4단계를 포함한다.

Abstract translation: 公开了使用阵列型电路模型来估计薄太阳能电池模块的寿命的方法。 根据一个实施例的估计薄太阳能电池模块的寿命的方法包括：第一步骤，通过排列一个二极管（1二极管）的太阳能电池等效电路来对分为m×n个虚拟晶格的整个薄膜太阳能电池模块进行建模 ）模块，包括m×n矩阵中的电流源，二极管电流，漏电阻和串联电阻; 计算相对于每个虚拟网格作为时间的函数的渗入薄膜太阳能电池模块的水分的变化量的第二步骤; 计算所计算的过滤水分量的变化与对应于虚拟晶格的太阳能电池等效电路之间的电阻变化之间的关系的第三步骤; 以及第四步骤，将作为时间的函数的电阻变化输入到每个太阳能电池等效电路中，以相对于整个薄膜太阳能电池模块计算作为时间的函数的电流 - 电压特性变化，并且估计 基于计算出的电流 - 电压特性变化，薄膜太阳能电池模块的寿命。

公开(公告)号：KR1020140083470A

公开(公告)日：2014-07-04

申请号：KR1020120153260

申请日：2012-12-26

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 한창운

IPC: G01B11/25

Abstract: The present invention relates to a shadow moire method with sine wave grating and a measuring apparatus using the same and, more specifically, to a shadow moire method with sine wave grating which is used to measure the surface flatness or the shape of a structure of an object to be measured and to a measuring apparatus using the same. Talbot effect which arises in the existing shadow moire method is removed, thereby increasing vertical measurement areas. Measurement resolution is also increased in the present invention using a phase shift method that prevents structural errors.

Abstract translation: 本发明涉及一种具有正弦波光栅的阴影莫尔法及其使用的测量装置，更具体地，涉及一种用于测量表面平坦度或其结构形状的正弦波光栅的阴影波纹法 被测量物体和使用其的测量装置。 去除在现有阴影莫尔法中出现的Talbot效应，从而增加垂直测量区域。 在本发明中，使用防止结构错误的相移方法也提高了测量分辨率。

公开(公告)号：KR1020120072087A

公开(公告)日：2012-07-03

申请号：KR1020100133869

申请日：2010-12-23

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 한창운

IPC: G01B11/25 ,  G01B11/30

Abstract: PURPOSE: A device and a method for measuring a surface shape are provided to rapidly measure a surface shape of a structure having a reflection surface and an large area by using an ultraviolet ray source. CONSTITUTION: A device for measuring a surface shape comprises a lattice(100), an ultraviolet ray source(200), an ultraviolet ray camera(300), and a measuring unit(400). The lattice having regular patterns is mounted in the front side of a structure. The ultraviolet ray source irradiates lights of an ultraviolet ray range to the lattice and structure. The ultraviolet ray camera photographs moire patterns in which a shadow of the lattice is formed by the ultraviolet ray source according to a shape of the structure. The measuring unit analyzes the moire patterns, thereby measuring a surface shape of the structure.

Abstract translation: 目的：提供一种用于测量表面形状的装置和方法，以通过使用紫外线源快速测量具有反射表面和大面积的结构的表面形状。 构成：用于测量表面形状的装置包括格子（100），紫外线源（200），紫外线照相机（300）和测量单元（400）。 具有规则图案的格子安装在结构的前侧。 紫外线源将紫外线的光线照射到晶格和结构上。 紫外线照相机根据结构的形状拍摄由紫外线源形成的格子的阴影的波纹图案。 测量单元分析莫尔图案，从而测量结构的表面形状。

公开(公告)号：KR1020150076944A

公开(公告)日：2015-07-07

申请号：KR1020130165692

申请日：2013-12-27

Applicant: 전자부품연구원

Inventor： 정재성 ,  한창운

IPC: H01L23/29

CPC classification number: H01L2224/48091 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2924/19107 ,  H01L23/29 ,  H01L23/3171 ,  H01L2924/00014

Abstract: 베어다이적용하이브리드전자전기모듈의보호층이개시된다. 본발명의일 실시예에따른베어다이적용하이브리드전자전기모듈의보호층은케이스내부저면에배치되는기판상부에복수개의전자전기소자가실장되는베어다이적용하이브리드전자전기모듈의보호층에있어서, 보호층은전자전기소자의윗 부분에형성되고, 산화알루미늄(AlO), 질화알루미늄(AlN), 산화실리콘(SiOx) 및질화실리콘(SiNx) 중에서선택되는소재로형성된층을적어도한 층이상포함하는것을특징으로한다.

Abstract translation: 公开了应用裸芯片的混合电子和电气模块的保护层。 根据本发明的一个实施例的应用了裸芯片的混合电子电气模块的保护层包括安装在基板的上侧上的多个电子和电气装置，该基板的上侧布置在 一个案例。 保护层形成在电子和电气设备的上侧，并且包括由Al_2O_3，AlN，SiOx和SiNx中选择的材料制成的至少一层。