레이저 제염 시스템
    2.
    发明申请

    公开(公告)号:WO2020067809A1

    公开(公告)日:2020-04-02

    申请号:PCT/KR2019/012658

    申请日:2019-09-27

    Abstract: 본 발명의 일 실시예에 따른 레이저 제염 시스템은 레이저 빔을 발생시키는 레이저 발생기, 배관 내부에 삽입되며 상기 레이저 빔을 상기 배관 내부의 오염 물질에 집광하여 레이저 어블레이션하는 광학 헤드, 상기 레이저 발생기와 상기 광학 헤드를 연결하며 상기 레이저 빔을 상기 광학 헤드로 전달하는 제1 광섬유, 상기 레이저 어블레이션에 의해 상기 배관에서 발생한 플라즈마 스펙트럼을 분석하는 분광기, 상기 분광기와 상기 광학 헤드를 연결하며 상기 플라즈마 스펙트럼을 상기 분광기로 전달하는 제2 광섬유, 상기 레이저 어블레이션에 의해 상기 배관에서 발생한 분진을 집진하는 집진기, 상기 집진기와 상기 배관 내부를 연결하며 상기 분진을 상기 집진기로 전달하는 집진관, 그리고 상기 광학 헤드와 상기 배관 사이에 위치하여 상기 분진을 차단하는 차단막을 포함한다.

    포커스 측정 기능을 가지는 레이저 가공 장치 및 레이저 가공 방법
    4.
    发明申请
    포커스 측정 기능을 가지는 레이저 가공 장치 및 레이저 가공 방법 审中-公开
    具有焦点测量功能和激光加工方法的激光加工设备

    公开(公告)号:WO2015016624A1

    公开(公告)日:2015-02-05

    申请号:PCT/KR2014/007026

    申请日:2014-07-31

    CPC classification number: B23K26/046

    Abstract: 별도의 포커스 측정용 레이저 설비를 구비하지 않고 가공용 레이저를 이용하여 가공 대상물의 제1 포커스 위치를 측정할 수 있는 레이저 가공 장치 및 이를 이용한 레이저 가공 방법을 제공한다. 레이저 가공 장치는 레이저 광원, 빔 스플리터, 제1 광 집속부, 및 빔 프로파일러를 포함한다. 빔 스플리터는 레이저 광원에서 방출된 레이저 빔을 반사 빔과 투과 빔으로 분리시키고, 제1 광 집속부는 투과 빔을 가공 대상물로 집속시킨다. 빔 프로파일러는 가공 대상물에서 반사되어 제1 광 집속부와 빔 스플리터를 거친 레이저 빔을 수광하고, 가공 대상물의 위치 변화에 따른 레이저 빔의 프로파일 변화를 측정한다.

    Abstract translation: 提供一种能够通过使用没有用于聚焦测量的单独的激光装置的处理激光来测量待处理对象的第一焦点位置的激光加工设备,以及使用该激光加工设备的激光加工方法。 激光加工装置包括激光光源,分束器,第一光聚焦单元和光束轮廓仪。 分束器将从激光光源发射的激光束分离成反射光束和透射光束,第一光聚焦单元使透射光束聚焦在被处理物体上。 光束轮廓仪接收由待处理物体反射并穿过第一聚光单元和分束器的激光束,并根据被处理物体的位置变化来测量激光束的轮廓变化。

    위조 방지 패턴 생성 장치
    6.
    发明授权
    위조 방지 패턴 생성 장치 有权
    防伪图案发生器

    公开(公告)号:KR101764835B1

    公开(公告)日:2017-08-03

    申请号:KR1020140169132

    申请日:2014-11-28

    Abstract: 본발명의한 실시예에따른위조방지패턴생성장치는레이저빔을방출하는레이저발진기, 레이저발진기로부터발생된레이저빔을복수의가공빔으로분기시키는회절광학소자, 회절광학소자를회전시키는회전구동부, 가공빔을각각반사하여가공대상물에상기가공빔을함께조사시켜상기가공대상물을가공하는한 쌍의반사거울을포함한다.

    Abstract translation: 示例性的保护元件,根据本发明的示例性图案生成装置是用于衍射光学元件的旋转的旋转驱动单元,用于分离从一个激光振荡器产生的激光束的衍射光学元件,用于发射激光束分成多个处理束的激光振荡器, 以及一对反射镜,每个反射镜反射处理光束并用处理光束照射处理对象以处理对象。

    광학장치를 이용한 관내부 검사 시스템
    7.
    发明公开
    광학장치를 이용한 관내부 검사 시스템 有权
    使用光学设备的管检查系统

    公开(公告)号:KR1020170028079A

    公开(公告)日:2017-03-13

    申请号:KR1020150124901

    申请日:2015-09-03

    Inventor: 강희신 노지환

    Abstract: 본발명광학장치를이용한관내부검사시스템은, 실린더가수직하게거치되고, 실린더를상하이동시키는시편거치대와, 시편거치대가장착되고, 시편거치대를실린더의길이방향중심축을중심으로회전시키는베이스와, 실린더에수직하게삽입되는경통이구비된촬영장치와, 촬영장치가장착되고, 촬영장치를실린더의길이방향을향해수직이동시키고, 촬영장치를실린더의폭방향을향해수평이동시키는촬영장치거치대를포함하며, 촬영장치거치대를통해서, 촬영장치에구비된경통의단부가빠르고정확하게실린더내부에특정깊이로이동되는효과가있는광학장치를이용한관내부검사시스템을제공한다.

    미세 패턴 금형 가공 시스템
    8.
    发明公开
    미세 패턴 금형 가공 시스템 无效
    精细图案模具制造系统

    公开(公告)号:KR1020160131733A

    公开(公告)日:2016-11-16

    申请号:KR1020150064732

    申请日:2015-05-08

    Abstract: 본발명의목적은패턴의양측에서열영향부를최소화하면서미세선폭의패턴을형성하는미세패턴금형가공시스템을제공하는것이다. 본발명의일 실시예에따른미세패턴금형가공시스템은, 설정된펄스폭의레이저빔을생산하는레이저발진부, 레이저빔을상기베이스에설치되는타겟에조사하여설정된선폭의패턴을가공하는폴리곤스캐너, 및상기폴리곤스캐너를장착하고상기베이스에설치되어상기타겟에대한상기폴리곤스캐너의위치를조절하는스테이지를포함한다.

    패널의 3차원 형상 정보를 얻는 방법
    9.
    发明公开
    패널의 3차원 형상 정보를 얻는 방법 有权
    获取面板三维形状信息的方法

    公开(公告)号:KR1020110010300A

    公开(公告)日:2011-02-01

    申请号:KR1020090067786

    申请日:2009-07-24

    Abstract: PURPOSE: A method for collecting 3-dimensional shape information of panels is provided to correct distorted two-dimensional coordinate into ideal two-dimensional coordinate. CONSTITUTION: A method for collecting 3-dimensional shape information of panels comprises following steps. Line-shaped laser is emitted to a panel(S10). The emitted laser is sensed by a visual sensor(S20). Two-dimensional coordinate is calculated using distorted coordinates sensed by a visual sensor(S30). The two-dimensional coordinate is changed into three-dimensional coordinate which expresses the surface shape of a panel(S40).

    Abstract translation: 目的:提供一种用于收集面板三维形状信息的方法,以将失真的二维坐标校正为理想的二维坐标。 构成:用于收集面板的三维形状信息的方法包括以下步骤。 线状激光发射到面板(S10)。 发射的激光由视觉传感器感测(S20)。 使用由视觉传感器感测到的失真坐标来计算二维坐标(S30)。 将二维坐标变为表示面板的表面形状的三维坐标(S40)。

    포커스 측정 기능을 가지는 레이저 가공 장치 및 레이저 가공 방법
    10.
    发明授权
    포커스 측정 기능을 가지는 레이저 가공 장치 및 레이저 가공 방법 有权
    具有焦点测量功能的激光加工设备和激光加工方法

    公开(公告)号:KR101688612B1

    公开(公告)日:2016-12-21

    申请号:KR1020140097629

    申请日:2014-07-30

    Abstract: 본발명은레이저광원, 레이저광원에서방출된레이저빔을반사빔과투과빔으로분리시키는빔 스플리터, 투과빔을가공대상물로집속시키는제1 광집속부, 가공대상물에서반사되어제1 광집속부와빔 스플리터를거친레이저빔을수광하고, 가공대상물의위치변화에따른레이저빔의프로파일변화를측정하는빔 프로파일러및 빔스플리터와빔 프로파일러사이에배치되어제1 광집속부와빔 스플리터를거친레이저빔을빔 프로파일러로집속시키는제2 광집속부를포함하는레이저가공장치를제공한다.

    Abstract translation: 本发明是由分束器反射的第1部分的光聚焦于所发送的光束聚焦与所述对象的,从激光光源,激光光源发射的激光束分离成反射光束与透射光束的第一光聚焦单元的对象,并 接收通过分束器的激光束,和被布置在光束分析仪,和一个分束器作为光束分析仪之间,用于根据经由激光的第一光聚焦单元和分束器中的物体的位置的变化测量激光束的轮廓变化 第二个聚焦部分用于将光束聚焦到光束分析仪中。

Patent Agency Ranking