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公开(公告)号：WO2017090895A1
公开(公告)日：2017-06-01
申请号：PCT/KR2016/011992
申请日：2016-10-25
Abstract: 본 발명의 질량분석장치 및 질량분석법은 초음파를 이용하여 시료를 액상입자로 변환시켜 플라즈마를 가함으로써, 다양한 시료의 성분 검출이 가능하며, 장소에 구애받지 않고 다양한 현장에서 시료의 검출이 가능한 효과가 있다.
Abstract translation: 本发明的质谱仪和质谱仪可以通过使用超声波将样品转化为液体颗粒并施加等离子体来检测各种样品的成分， 可以检测样本中的样本。
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公开(公告)号：WO2012157868A3
公开(公告)日：2012-11-22
申请号：PCT/KR2012/003464
申请日：2012-05-03
Abstract: 본 발명의 목적은 비행시간 기반으로 질량 분석을 수행함에 있어서 종래에 비해 질량분해능을 훨씬 우수하게 하며, 이에 따라 다양한 약물/대사체/지질/펩타이드/유전자/단백질 등의 분석이 모두 가능하게끔 하는, 비행시간 기반 질량 분석을 위한 펄싱 클러스터 가스 이온건을 제공함에 있다.
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公开(公告)号：WO2017155363A1
公开(公告)日：2017-09-14
申请号：PCT/KR2017/002662
申请日：2017-03-13
Abstract: 본 발명은 목표 화합물 및 적어도 하나의 방해 화합물을 포함하는 시료에 상기 적어도 하나의 방해 화합물보다 하전 입자(charged particle) 친화도가 높은 첨가제를 혼합한 시료 혼합물로부터 하전 입자의 전이 반응에 의하여 목표 화합물을 선택적으로 이온화시키는 것을 포함하는 질량분석 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 질량분석 방법에 의하면, 시료에 포함된 목표 화합물 이외의 방해 화합물이 소정의 첨가제의 첨가에 수반하여 양성자, 전자 등의 하전 입자의 전이 반응에 의한 이온화되는 것이 효율적으로 제어됨으로써 시료 중의 목표 화합물 유래의 이온이 질량측정기에 의해서 분석되는 감도를 선택적으로 향상시킬 수 있다.
Abstract translation:
本发明带电从目标化合物和至少一个干扰化合物的样品的样品混合物中的至少一个带电粒子（带电粒子）的亲和力比在含有干扰化合物添加剂更高的颗粒 对于通过目标化合物的转换反应选择性地电离目标化合物的质谱方法。 在根据质谱法根据本发明，由此比样品中包含的所希望的化合物以外的干扰的化合物中加入伴随着有效地控制由带电粒子，例如质子，预定的添加剂样品的电子的过渡反应离子化 质谱仪分析的目标化合物衍生离子的灵敏度可以有选择地提高。
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公开(公告)号：WO2012157867A2
公开(公告)日：2012-11-22
申请号：PCT/KR2012/003463
申请日：2012-05-03
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/142 , H01J49/164 , H01J49/40 , H01J49/406
Abstract: 본 발명의 목적은 분석하고자 하는 대상의 분자량에 제한받지 않고 약물/대사체/지질/펩타이드와 같은 저분자량 분석이나 유전자/단백질과 같은 고분자량 분석이 모두 가능하도록 레이저빔 또는 이온빔을 동시에 사용하고, 또한 주사형 방법이 아닌 현미경 방법을 사용함으로써 측정 속도를 비약적으로 증대시키는, 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템을 제공함에 있다.
Abstract translation: 本发明旨在提供一种用于超高速多模式质量分析的基于飞行时间的质量显微镜系统，用于同时使用激光束或离子束以实现低分子量分析，例如用于药物/代谢物/ 脂质/肽或高分子量分析，例如基因/蛋白质，而不受被分析物体的分子量的限制，并且通过使用显微镜法而不是扫描方法显着提高测量速度。
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公开(公告)号：WO2012153987A2
公开(公告)日：2012-11-15
申请号：PCT/KR2012/003657
申请日：2012-05-10
CPC classification number: H01J37/12
Abstract: 본 발명은 정전 렌즈의 구조에 관한 것으로서, 제 1 전극, 제 3 전극, 및 상기 제 1 전극과 상기 제 3전극의 사이에 일정 간격을 두고 이격 배치되는 제 2 전극을 포함하며, 세 전극의 중앙부에는 하전 입자 빔이 통과하는 관통구가 각기 형성되어 있으며, 세 전극의 관통구는 일렬로 정렬 배치되는 정전 렌즈의 구조를 개선한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及静电透镜的结构。 本发明的静电透镜包括第一电极，第三电极和插在第一电极和第三电极之间的第二电极，使得在三个电极之间存在预定的间隔。 三个电极中的每一个具有通孔，通过该通孔。 三个电极的通孔排列成一行。 因此，可以获得用于静电透镜的改进的结构。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101766637B1
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：KR1020110045272
申请日：2011-05-13
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J49/142
Abstract: 본발명의목적은비행시간기반으로질량분석을수행함에있어서종래에비해질량분해능을훨씬우수하게하며, 이에따라다양한약물/대사체/지질/펩타이드/유전자/단백질등의분석이모두가능하게끔하는, 비행시간기반질량분석을위한펄싱클러스터가스이온건을제공함에있다. 본발명의비행시간기반질량분석을위한펄싱클러스터가스이온건은, 클러스터가스이온빔을발생시키는이온건(10)에있어서, 연속적인이온빔에 2번의초핑(chopping) 및 1번의번칭(bunching) 과정을순차적으로거치게하여펄스형태의이온빔을발생시키는것을특징으로한다. 이때, 상기이온건(10)은펄스폭이수십 ns 범위내의이온빔을발생시키는것을특징으로한다.
Abstract translation: 发明内容本发明的目的是提供一种质谱分析方法和装置，其能够基于飞行时间来执行质谱分析， 并为基于时间的质谱提供脉冲群气体离子枪。 基于本发明的质谱分析，中度，在飞行时间脉冲簇gaseuyi中等（10），用于在连续的离子束生成簇气体离子束，依次2倍斩波（斩波）和1个beonching（聚束）处理时间 产生脉冲形状的离子束。 此时，离子枪10产生具有几十纳秒范围内的脉冲宽度的离子束。
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公开(公告)号：KR1020170060895A
公开(公告)日：2017-06-02
申请号：KR1020150165636
申请日：2015-11-25
Abstract: 본발명의질량분석장치및 질량분석법은초음파를이용하여시료를액상입자로변환시켜플라즈마를가함으로써, 다양한시료의성분검출이가능하며, 장소에구애받지않고다양한현장에서시료의검출이가능한효과가있다.
Abstract translation: 本发明的质谱仪和质谱仪能够通过使用超声波将样品转换成液体颗粒并施加等离子体来检测各种样品的成分，并且可以在没有任何位置的情况下在各种位置检测样品 。
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公开(公告)号：KR101790534B1
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：KR1020110045281
申请日：2011-05-13
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/142 , H01J49/164 , H01J49/40 , H01J49/406
Abstract: 본발명의목적은분석하고자하는대상의분자량에제한받지않고약물/대사체/지질/펩타이드와같은저분자량분석이나유전자/단백질과같은고분자량분석이모두가능하도록레이저빔또는이온빔을동시에사용하고, 또한주사형방법이아닌현미경방법을사용함으로써측정속도를비약적으로증대시키는, 초고속멀티모드질량분석을위한비행시간기반질량현미경시스템을제공함에있다. 본발명의초고속멀티모드질량분석을위한비행시간기반질량현미경시스템은, 시료의질량화학분석을수행하는질량현미경시스템(100)에있어서, 저분자량시료내지고분자량시료모두에대하여분석이가능하도록, 상기시료상에레이저빔, 이온빔, 레이저빔또는이온빔중 선택되는어느한 가지를디포커스(defocus)된상태로주사하고, 상기시료의이미지를촬영함과동시에레이저빔또는이온빔이주사되었을때 상기시료에서발생되는이차이온을비행시간기반(TOF, time-of-flight)으로위치를측정하여검출함으로써, 현미경모드(microscope mode)로상기시료의질량이미징분석을수행하는것을특징으로한다.
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公开(公告)号：KR101776599B1
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：KR1020160029415
申请日：2016-03-11
Abstract: 본발명은목표화합물및 적어도하나의방해화합물을포함하는시료에상기적어도하나의방해화합물보다하전입자(charged particle) 친화도가높은첨가제를혼합한시료혼합물로부터하전입자의전이반응에의하여목표화합물을선택적으로이온화시키는것을포함하는질량분석방법에관한것이다. 본발명에따른질량분석방법에의하면, 시료에포함된목표화합물이외의방해화합물이소정의첨가제의첨가에수반하여양성자, 전자등의하전입자의전이반응에의한이온화되는것이효율적으로제어됨으로써시료중의목표화합물유래의이온이질량측정기에의해서분석되는감도를선택적으로향상시킬수 있다.
Abstract translation: 本发明选择性地通过从目标化合物中的带电粒子和比样品中干扰化合物的至少一个带电粒子（带电粒子）的亲和力的至少一个的过渡反应目标化合物含有干扰化合物度高添加剂样品混合物的混合物 采用质谱法。 根据根据本发明的质量分析方法，样品中所含的目的化合物伴随的扰动添加的添加剂化合物yisojeong其他得到有效控制由作为样品中的目标是一个质子，通过带电粒子，例如电子的跃迁反应离子化 质谱仪分析的化合物衍生离子的灵敏度可以有选择地提高。
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公开(公告)号：KR101219194B1
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：KR1020110044266
申请日：2011-05-11
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J37/12
Abstract: 본 발명은 정전 렌즈의 구조에 관한 것으로서, 제 1 전극, 제 3 전극, 및 상기 제 1 전극과 상기 제 3전극의 사이에 일정 간격을 두고 이격 배치되는 제 2 전극을 포함하며, 세 전극의 중앙부에는 하전 입자 빔이 통과하는 관통구가 각기 형성되어 있으며, 세 전극의 관통구는 일렬로 정렬 배치되는 정전 렌즈의 구조를 개선한 것이다. 제 1 전극과 제 3 전극이 체결수단에 의해 서로 통전되도록 접촉 결합되어 내부에 중공이 형성된 기준전극을 형성하고, 기준전극은 상기 제 2 전극을 이격되게 둘러싸 외부 전계로부터 차폐하고, 상기 제 2 전극에는 전계를 생성할 수 있는 전압이 인가되어, 외부 전계와 영향을 주고받지 않는 구조이므로 집속 성능이 보다 안정되고 향상된다. 이때, 기준전극은 접지되고, 고전압이 인가되는 제 2 전극은 제 1 전극 및 제 3전극 보다 반경이 작은 원판형상으로, 제 1 전극 또는 상기 제 3전극에 절연체인 체결수단과 스페이서에 의해 일정한 간격을 두고 이격 고정되어, 보다 정확하게 정렬되므로 하전 입자 빔 경로가 흐트러지지 않는 집속 성능이 향상된 구조의 정전 렌즈이다.
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