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公开(公告)号：WO2012157867A2
公开(公告)日：2012-11-22
申请号：PCT/KR2012/003463
申请日：2012-05-03
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/142 , H01J49/164 , H01J49/40 , H01J49/406
Abstract: 본 발명의 목적은 분석하고자 하는 대상의 분자량에 제한받지 않고 약물/대사체/지질/펩타이드와 같은 저분자량 분석이나 유전자/단백질과 같은 고분자량 분석이 모두 가능하도록 레이저빔 또는 이온빔을 동시에 사용하고, 또한 주사형 방법이 아닌 현미경 방법을 사용함으로써 측정 속도를 비약적으로 증대시키는, 초고속 멀티 모드 질량 분석을 위한 비행시간 기반 질량 현미경 시스템을 제공함에 있다.
Abstract translation: 本发明旨在提供一种用于超高速多模式质量分析的基于飞行时间的质量显微镜系统，用于同时使用激光束或离子束以实现低分子量分析，例如用于药物/代谢物/ 脂质/肽或高分子量分析，例如基因/蛋白质，而不受被分析物体的分子量的限制，并且通过使用显微镜法而不是扫描方法显着提高测量速度。
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公开(公告)号：WO2012157868A3
公开(公告)日：2012-11-22
申请号：PCT/KR2012/003464
申请日：2012-05-03
Abstract: 본 발명의 목적은 비행시간 기반으로 질량 분석을 수행함에 있어서 종래에 비해 질량분해능을 훨씬 우수하게 하며, 이에 따라 다양한 약물/대사체/지질/펩타이드/유전자/단백질 등의 분석이 모두 가능하게끔 하는, 비행시간 기반 질량 분석을 위한 펄싱 클러스터 가스 이온건을 제공함에 있다.
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公开(公告)号：WO2012153987A2
公开(公告)日：2012-11-15
申请号：PCT/KR2012/003657
申请日：2012-05-10
CPC classification number: H01J37/12
Abstract: 본 발명은 정전 렌즈의 구조에 관한 것으로서, 제 1 전극, 제 3 전극, 및 상기 제 1 전극과 상기 제 3전극의 사이에 일정 간격을 두고 이격 배치되는 제 2 전극을 포함하며, 세 전극의 중앙부에는 하전 입자 빔이 통과하는 관통구가 각기 형성되어 있으며, 세 전극의 관통구는 일렬로 정렬 배치되는 정전 렌즈의 구조를 개선한 것이다.
Abstract translation: 本发明涉及静电透镜的结构。 本发明的静电透镜包括第一电极，第三电极和插在第一电极和第三电极之间的第二电极，使得在三个电极之间存在预定的间隔。 三个电极中的每一个具有通孔，通过该通孔。 三个电极的通孔排列成一行。 因此，可以获得用于静电透镜的改进的结构。
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公开(公告)号：KR1020120127054A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：KR1020110045281
申请日：2011-05-13
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/142 , H01J49/164 , H01J49/40 , H01J49/406 , H01J49/0418 , H01J49/067 , H01J49/408
Abstract: PURPOSE: A flight time based mass microscope system is provided to change lens conditions by measuring mass imaging analysis of a sample with a TOF(Time of flight) base microscope mode. CONSTITUTION: A laser input unit(110) radiates laser beam to a sample. An ion gun assembly(120) radiates ion beam to the sample. A sample inlet chamber(130) introduces the sample through a sample inlet unit(131). The sample is arranged on a sample plate(140). A sample plate manipulator(150) controls the location of the sample plate. A CCD(Charge Coupled Device) camera takes a photograph of an image of the sample. A source lens assembly controls focus of the laser beam or the ion beam. A position measuring TOF detector measures the location of secondary ion generated in the sample.
Abstract translation: 目的：提供基于飞行时间的质量显微镜系统，通过测量具有TOF（飞行时间）基底显微镜模式的样品的质量成像分析来改变透镜状态。 构成：激光输入单元（110）向样品辐射激光束。 离子枪组件（120）将离子束辐射到样品。 样品入口室（130）将样品引入样品入口单元（131）。 样品被布置在样品板（140）上。 样品板机械手（150）控制样品板的位置。 CCD（电荷耦合器件）相机拍摄样品的图像。 源透镜组件控制激光束或离子束的焦点。 位置测量TOF检测器测量样品中产生的二次离子的位置。
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公开(公告)号：KR101766637B1
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：KR1020110045272
申请日：2011-05-13
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J49/142
Abstract: 본발명의목적은비행시간기반으로질량분석을수행함에있어서종래에비해질량분해능을훨씬우수하게하며, 이에따라다양한약물/대사체/지질/펩타이드/유전자/단백질등의분석이모두가능하게끔하는, 비행시간기반질량분석을위한펄싱클러스터가스이온건을제공함에있다. 본발명의비행시간기반질량분석을위한펄싱클러스터가스이온건은, 클러스터가스이온빔을발생시키는이온건(10)에있어서, 연속적인이온빔에 2번의초핑(chopping) 및 1번의번칭(bunching) 과정을순차적으로거치게하여펄스형태의이온빔을발생시키는것을특징으로한다. 이때, 상기이온건(10)은펄스폭이수십 ns 범위내의이온빔을발생시키는것을특징으로한다.
Abstract translation: 发明内容本发明的目的是提供一种质谱分析方法和装置，其能够基于飞行时间来执行质谱分析， 并为基于时间的质谱提供脉冲群气体离子枪。 基于本发明的质谱分析，中度，在飞行时间脉冲簇gaseuyi中等（10），用于在连续的离子束生成簇气体离子束，依次2倍斩波（斩波）和1个beonching（聚束）处理时间 产生脉冲形状的离子束。 此时，离子枪10产生具有几十纳秒范围内的脉冲宽度的离子束。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101790534B1
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：KR1020110045281
申请日：2011-05-13
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/142 , H01J49/164 , H01J49/40 , H01J49/406
Abstract: 본발명의목적은분석하고자하는대상의분자량에제한받지않고약물/대사체/지질/펩타이드와같은저분자량분석이나유전자/단백질과같은고분자량분석이모두가능하도록레이저빔또는이온빔을동시에사용하고, 또한주사형방법이아닌현미경방법을사용함으로써측정속도를비약적으로증대시키는, 초고속멀티모드질량분석을위한비행시간기반질량현미경시스템을제공함에있다. 본발명의초고속멀티모드질량분석을위한비행시간기반질량현미경시스템은, 시료의질량화학분석을수행하는질량현미경시스템(100)에있어서, 저분자량시료내지고분자량시료모두에대하여분석이가능하도록, 상기시료상에레이저빔, 이온빔, 레이저빔또는이온빔중 선택되는어느한 가지를디포커스(defocus)된상태로주사하고, 상기시료의이미지를촬영함과동시에레이저빔또는이온빔이주사되었을때 상기시료에서발생되는이차이온을비행시간기반(TOF, time-of-flight)으로위치를측정하여검출함으로써, 현미경모드(microscope mode)로상기시료의질량이미징분석을수행하는것을특징으로한다.
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公开(公告)号：KR101219194B1
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：KR1020110044266
申请日：2011-05-11
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J37/12
Abstract: 본 발명은 정전 렌즈의 구조에 관한 것으로서, 제 1 전극, 제 3 전극, 및 상기 제 1 전극과 상기 제 3전극의 사이에 일정 간격을 두고 이격 배치되는 제 2 전극을 포함하며, 세 전극의 중앙부에는 하전 입자 빔이 통과하는 관통구가 각기 형성되어 있으며, 세 전극의 관통구는 일렬로 정렬 배치되는 정전 렌즈의 구조를 개선한 것이다. 제 1 전극과 제 3 전극이 체결수단에 의해 서로 통전되도록 접촉 결합되어 내부에 중공이 형성된 기준전극을 형성하고, 기준전극은 상기 제 2 전극을 이격되게 둘러싸 외부 전계로부터 차폐하고, 상기 제 2 전극에는 전계를 생성할 수 있는 전압이 인가되어, 외부 전계와 영향을 주고받지 않는 구조이므로 집속 성능이 보다 안정되고 향상된다. 이때, 기준전극은 접지되고, 고전압이 인가되는 제 2 전극은 제 1 전극 및 제 3전극 보다 반경이 작은 원판형상으로, 제 1 전극 또는 상기 제 3전극에 절연체인 체결수단과 스페이서에 의해 일정한 간격을 두고 이격 고정되어, 보다 정확하게 정렬되므로 하전 입자 빔 경로가 흐트러지지 않는 집속 성능이 향상된 구조의 정전 렌즈이다.
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公开(公告)号：KR1020120126462A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：KR1020110044266
申请日：2011-05-11
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J37/12
Abstract: PURPOSE: A high accuracy electrostatic lens for vacuum is provided to apply an external power source by forming contact pin assembly with high voltage applied to a second electrode. CONSTITUTION: A second electrode is arranged between a first electrode(110) and a third electrode(130). A penetration hole in which a charged particle beam is passed is formed on the center of the first electrode, the second electrode, and the third electrode. The penetration hole is arranged in a row. The first electrode and the third electrode are combined in order to apply an electric current with a fastening means. A reference electrode which is hollowed is formed inside the first electrode and the third electrode.
Abstract translation: 目的：提供用于真空的高精度静电透镜，通过形成具有高电压施加到第二电极的接触销组件来施加外部电源。 构成：第二电极布置在第一电极（110）和第三电极（130）之间。 在第一电极，第二电极和第三电极的中心形成有通过带电粒子束的穿透孔。 穿透孔排列成一列。 组合第一电极和第三电极以便用紧固装置施加电流。 在第一电极和第三电极内部形成有中空的参考电极。
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公开(公告)号：KR1020120127049A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：KR1020110045272
申请日：2011-05-13
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: H01J49/142 , H01J49/408 , H01J49/0004 , H01J49/0418 , H01J49/405
Abstract: PURPOSE: A pulsing cluster gas ion gun is provided to obtain a TOF(Time of Flight) mass spectrum by creating an argon cluster pulse beam through chopping and bunching. CONSTITUTION: An ion gun source generates continuous ion beam. A first chopper(4) firstly chops the continuous ion beam coming from the ion gun source. A second chopper(7) secondly chops the continuous ion beam chopped from the first chopper. A buncher(11) performs bunching of the continuous ion beam chopped from the second chopper. An MCP(9) and an ion reflector(10) are placed between the second chopper and the buncher.
Abstract translation: 目的：提供脉冲串气体离子枪，通过切割和聚束产生氩簇脉冲束来获得TOF（飞行时间）质谱。 构成：离子枪源产生连续的离子束。 第一台斩波器（4）首先切断离子枪源的连续离子束。 第二台切碎机（7）二次切碎从第一台切碎机切碎的连续离子束。 聚束器（11）对从第二台切碎机切碎的连续离子束进行聚束。 MCP（9）和离子反射器（10）被放置在第二斩波器和分束器之间。
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公开(公告)号：KR101189719B1
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：KR1020110044311
申请日：2011-05-12
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: H01L21/66
Abstract: PURPOSE: A replaceable sample transferring and fixing device is provided to prevent the position of a sample holder from being changed by flexibly fixing the sample holder to a guide roller unit. CONSTITUTION: A sample stage(200) supports a sample holder and moves in X and Y axes(520) to locate a sample in a measurement point. A guide roller unit guides and fixes the sample holder at a preset position. A stop block(400) is installed on the upper side of the sample stage to limit the horizontal movement of the sample holder within a preset distance. A position determining roller(500) is fixed by a recess part(120) formed on one side of the sample holder in a transverse direction.
Abstract translation: 目的：提供可更换的样品转移和固定装置，以通过将样品架固定到导辊单元来防止样品架的位置变化。 构成：样品台（200）支撑样品架并在X和Y轴（520）中移动，以将样品定位在测量点。 导辊单元将样品架引导并固定在预设位置。 止挡块（400）安装在样品台的上侧，以将样品架的水平移动限制在预设的距离内。 位置确定辊（500）通过形成在样品架的一侧的凹部（120）沿横向固定。
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