以原子層沈積之摻雜技術 DOPING WITH ALD TECHNOLOGY
    3.
    发明专利
    以原子層沈積之摻雜技術 DOPING WITH ALD TECHNOLOGY 审中-公开
    以原子层沉积之掺杂技术 DOPING WITH ALD TECHNOLOGY

    公开(公告)号:TW200947529A

    公开(公告)日:2009-11-16

    申请号:TW098105990

    申请日:2009-02-25

    IPC: H01L C23C

    Abstract: 一種摻雜方法,其利用原子層沈積製程(ALD)而在基底表面或兩薄膜之間的界面進行摻雜。藉由阻斷反應物以阻斷一些對摻質前驅物有效的結合位置,而可以控制所沈積之摻質的濃度與均勻度。阻斷反應物可以在摻質前驅物導入在ALD製程之前先導入,或者阻斷反應物與摻質前驅物可以同時被導入。

    Abstract in simplified Chinese: 一种掺杂方法,其利用原子层沉积制程(ALD)而在基底表面或两薄膜之间的界面进行掺杂。借由阻断反应物以阻断一些对掺质前驱物有效的结合位置,而可以控制所沉积之掺质的浓度与均匀度。阻断反应物可以在掺质前驱物导入在ALD制程之前先导入,或者阻断反应物与掺质前驱物可以同时被导入。

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