넓은 활성 영역 고속 검출기를 위한 아키텍처

    公开(公告)号:KR20200125701A

    公开(公告)日:2020-11-04

    申请号:KR20207028380

    申请日:2019-03-14

    Abstract: 검출기들및 검출시스템들이개시된다. 기판이제 1 복수의감지요소들및 제 2 복수의감지요소들을포함하는복수의감지요소들(311 내지 313)을포함하고, 복수의섹션들(321 내지 324)이제 1 복수의감지요소들을출력에연결하고제 2 복수의감지요소들을출력에연결하도록구성된다. 스위칭구역들이감지요소들사이에제공될수 있고, 이는 2 이상의감지요소들을연결하도록구성된다. 스위칭구역은사전설정된양의에너지및/또는빔 세기로전자들을수용하는감지요소들에응답하여발생되는신호들에기초하여제어될수 있다.

    현미경을 위한 반도체 하전 입자 검출기

    公开(公告)号:KR20210008044A

    公开(公告)日:2021-01-20

    申请号:KR20207035295

    申请日:2019-06-04

    Abstract: 검출기에는감지요소어레이가제공될수 있다. 검출기는어레이를포함하는반도체기판, 및검출기에입사되는하전입자의개수를카운트하도록구성된회로를포함할수 있다. 검출기의회로는복수의감지요소로부터의출력을처리하고어레이의감지요소상의하전입자도착이벤트에응답하여카운터를증분시키도록구성될수 있다. 다양한카운팅모드가사용될수 있다. 카운팅은에너지범위를기초로할 수있다. 특정에너지범위에서하전입자의개수가카운트될수 있고, 감지요소에서오버플로우(overflow)에직면할때 오버플로우플래그(flag)가설정될수 있다. 회로는각각의감지요소에서발생하는각각의하전입자도착이벤트의타임스탬프를결정하도록구성될수 있다. 감지요소의크기는하전입자카운팅을가능하게하는기준에기초하여결정될수 있다.

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