Abstract:
Ein Testsystemzur Überprüfung von elektronischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischenelektronischen Baugruppen einer zu überprüfenden Leiterplatte mit dieser Leiterplatte, dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem eine Temperaturmesseinrichtung zur Temperaturmessung und/oder zur Ermittlung von Wärmekennwerten von den elektrischen Verbindungen der Leiterplatte und/oder der elektronischen Baugruppenaufweist.
Abstract:
Schaltung zur Signalübertragung und zur galvanischen Trennung zwischen einer ersten und einer zweiten digitalen Signalverarbeitungseinheit (S1, S2), wobei ein erster Signalpfad (Q1) zwischen der ersten und der zweiten Signalverarbeitungseinheit (S1, S2) vorgesehen ist, wobei der erste Signalpfad (Q1) einen ersten Abschnitt (A1) aufweist, der eine positive und eine negative Signalleitung (L1+, L1-) umfasst, und dazu dient, ein differentielles Signal zwischen der ersten und der zweiten Signalverarbeitungseinheit (S1, S2) zu übertragen, wobei zumindest ein Kondensator (C11, C12) in der positiven Signalleitung (L1+) und zumindest ein Kondensator (C21, C22) in der negativen Signalleitung (L1-) vorgesehen ist, und wobei die Kondensatoren (C11, C12, C21, C22) zur galvanischen Trennung zwischen der ersten Signalverarbeitungseinheit (S1 ) und der zweiten Signalverarbeitungseinheit (S2) dienen, und dass die Kondensatoren (C11, C12, C21, C22) jeweils gemäß den Bestimmungen der Zündschutzart Eigensicherheit ausgestaltet sind.
Abstract:
Ein Testsystem (1) zur Prüfung von elektrischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischen elektronischen Bauteilen mit einer zu prüfenden Leiterplatte (6), dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem (1) eine Kommunikationsschnittstelle (5) aufweist, welche durch Kontaktierung mit der Leiterplatte (6) einen Datenaustausch mit einem Datenspeicher (10) oder einem Kommunikationsmodul (9) der zu prüfenden Leiterplatte (6) ermöglichet wobei die Kommunikationsschnittstelle (5) innerhalb eines Gehäuses (1a) des Testsystems (1) frei beweglich zumindest zwei, vorzugsweise drei Raumrichtungen (X, Y, Z) angeordnet ist.
Abstract:
Die Spulenanordnung umfaßt eine elektrische Spule (10) sowie einen zwischen einer ersten Endlage (I) und einer zweiten Endlage (II) bewegbaren Anker (20), einen zwischen wenigstens zwei Schaltzuständen umschaltbaren elektronischen Schalter (30), eine Steuer- und Überwachungsschaltung (40) zum Erzeugen eines den elektronischen Schalter (30) betätigenden Schaltsignals (ctrl) sowie eine Betriebsschaltung (50) zum Bereitstellen einer Betriebsspannung (UN) sowie eines einen zeitlichen Verlauf eines in einem mit der Spule gebildeten Spulen-Stromkreis fließenden elektrischen Stroms repräsentierenden Strommeßsignals (IM)- Die Steuer- und Überwachungsschaltung (40) ist zudem dafür eingerichtet, unter Verwendung des Strommeßsignals (iM) eine Überprüfung der Spule (10) durchzuführen, beispielsweise nämlich festzustellen, ob eine Induktivität, L, der Spule (10) eine Abhängigkeit von einem zeitlichen Verlauf des Schaltsignals (ctrl) bzw. einen mit dem zeitlichen Verlauf des Schaltsignals korrespondierenden zeitlichen Verlauf aufweist. Der elektro-mechanischer Schalter (100) wiederum umfaßt einen zwischen einer ersten Schaltstellung (i) und einer zweiten Schaltstellung (ii) bewegbaren ersten Schaltkontakt (101), einen zweiten Schaltkontakt (102) sowie zum Betätigen des Schaltkontakts (101) eine erfindungsgemäße Spulenanordnung, während der Meßumformer (Tr) neben einem solchen elektro-mechanischen Schalter (100) auch eine Meßschaltung zum Empfangen wenigstens eines von einer physikalischen oder chemischen Meßgröße abhängigen und/oder einen zeitlichen Verlauf nämlicher Meßgröße (x) repräsentierenden Aufnehmersignals (s1) umfaßt.
Abstract:
Ein Testsystem (1 ) zur Überprüfung von elektrischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischen elektronischen Bauteilen mit einer zu überprüfenden Leiterplatte (6), dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem (1) eine beweglich in einem Gehäuse (1a) des Testsystems gelagerte Baugruppe und eine Strom- und/oder Spannungsquelle (14) zur Energieversorgung der zu prüfende Leiterplatte (6) aufweist, wobei die Strom- und/oder Spannungsquelle (14) beweglich in mindestens zwei Raumrichtungen innerhalb des Gehäuses (1a) des Testsystems (1) angeordnet ist.
Abstract:
Ein Testsystem (1) zur Überprüfung von elektrischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischenelektronischen Bauteilen mit einer zu überprüfenden Leiterplatte (6), dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem(1)eine Kommunikationsschnittstelle (5) mit zumindest drei elektrisch-leitenden Kontaktspitzen (22,32) aufweist,welchedurch Kontaktierung mit einer Kontaktierungsanordnung (12) auf der Leiterplatte(6) mit mehreren Kontaktierungsstellen (11) einen Datenaustausch mitdem Datenspeicher (10) und/oder einem Kommunikationsmodul (9) der zu überprüfenden Leiterplatte (6) ermöglichen, wobei der Datenaustausch nach einem Kommunikationsprotokoll erfolgt.
Abstract:
Eine Leiterplatte (6) mit einer Kontaktierungsanordnung (12) umfassend zumindest drei metallische Kontaktierungsbereiche (11), welche mit einer oder mehreren Datenleitungen der Leiterplatte verbunden sind und bei Kontakt mit einer Kommunikationsschnittstelle eines Testsystems einen Datenaustausch mit dem Datenspeicher (10) der zu überprüfenden Leiterplatte ermöglichen.
Abstract:
The invention relates to a circuit for transmitting signals and for galvanic isolation between a first and a second digital signal processing unit (S1, S2), a first signal path (Q1) being provided between the first and the second signal processing unit (S1, S2), the first signal path (Q1) having a first section (A1) that comprises a positive and a negative signal line (L1+ L1-), and being used to transmit a differential signal between the first and the second signal processing unit (S1, S2), at least one capacitor (C11, C12) being provided in the positive signal line (L1+) and at least one capacitor (C21, C22) being provided in the negative signal line (L1-), said capacitors (C11, C12, C21, C22) being used for the purpose of galvanic isolation between the first signal processing unit (S1) and the second signal processing unit (S2), and the capacitors (C11, C12, C21, C22) each being designed in accordance with the provisions of the intrinsic safety ignition protection category.