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公开(公告)号：WO2018024465A1
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：PCT/EP2017/067814
申请日：2017-07-14
Applicant: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG
Inventor： BÖHLER, Thomas , BRUDERMANN, Matthias , WERLE, Christoph , WUCHER, Markus , KOLLMER, Daniel , ADAM, Ludovic
Abstract: Ein Testsystemzur Überprüfung von elektronischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischenelektronischen Baugruppen einer zu überprüfenden Leiterplatte mit dieser Leiterplatte, dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem eine Temperaturmesseinrichtung zur Temperaturmessung und/oder zur Ermittlung von Wärmekennwerten von den elektrischen Verbindungen der Leiterplatte und/oder der elektronischen Baugruppenaufweist.
Abstract translation:
甲Testsystemzur电子化合物中，特别是L-的导航用途DaytonaPlease导航用途丰＆ouml;与电路板太导航用途DaytonaPlease导航用途fenden印刷电路板的电子模块之间的tverbindungen，其特征在于所述测试系统的温度的温度测量测量装置和/ 或用于确定印刷电路板和/或电子组件的电连接的热特性。
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2.发明申请
公开(公告)号：WO2021099150A1
公开(公告)日：2021-05-27
申请号：PCT/EP2020/081423
申请日：2020-11-09
Applicant: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG
Inventor： KAPPERTZ, Jannis , STUTZ, Alexander , WUCHER, Markus
Abstract: Die Erfindung betrifft einen PAM-Transceiver (10) eingerichtet zur Verarbeitung eines elektrischen Datensignals mit mindestens zwei Zuständen, und insbesondere mindestens drei Zuständen mit einer elektronischen Schaltung (11) umfassend: Eine Datenschnittstelle (12) eingerichtet zur Verbindung mit einem Kommunikationskanal (20), insbesondere einem Duplex-Kommunikationskanal; Einen ersten Schaltungsabschnitt (11.1) verbunden mit der Datenschnittstelle umfassend: - Einen Entzerrer (13) zur Kompensation von Verzerrungen des Datensignals; - Einen hinter dem Entzerrer angeordneten Interpretierer (14) zur Erkennung von Symbolen; Einen zweiten Schaltungsabschnitt (11.2) verbunden mit der Datenschnittstelle umfassend: - Eine Verzögerungseinheit (15) zur zeitlichen Verschiebung des Datensignals; Einen MMA-Prozessor (16) zur Erkennung einer Signalphase des Datensignals mit einem ersten Eingang (16.1) und einem zweiten Eingang (16.2), wobei der erste Schaltungsabschnitt dem ersten Eingang zugeführt wird, und wobei der zweite Schaltungsabschnitt dem zweiten Eingang zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Schaltungsabschnitt ein Filter (17) mit endlicher Impulsantwort aufweist, wobei das Filter dazu eingerichtet ist, eine Impulsantwort des Kommunikationskanals zu monotonisieren.
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3.发明申请TESTSYSTEM ZUR PRÜFUNG VON ELEKTRISCHEN VERBINDUNGEN VON BAUTEILEN MIT EINER LEITERPLATTE 审中-公开测试导体板组件电气连接的试验系统
公开(公告)号：WO2018024463A1
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：PCT/EP2017/067810
申请日：2017-07-14
Applicant: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG
Inventor： BÖHLER, Thomas , BRUDERMANN, Matthias , WERLE, Christoph , WUCHER, Markus , KOLLMER, Daniel , ADAM, Ludovic
Abstract: Ein Testsystem (1) zur Prüfung von elektrischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischen elektronischen Bauteilen mit einer zu prüfenden Leiterplatte (6), dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem (1) eine Kommunikationsschnittstelle (5) aufweist, welche durch Kontaktierung mit der Leiterplatte (6) einen Datenaustausch mit einem Datenspeicher (10) oder einem Kommunikationsmodul (9) der zu prüfenden Leiterplatte (6) ermöglichet wobei die Kommunikationsschnittstelle (5) innerhalb eines Gehäuses (1a) des Testsystems (1) frei beweglich zumindest zwei, vorzugsweise drei Raumrichtungen (X, Y, Z) angeordnet ist.
Abstract translation:
测试系统（1）〜PR导航用途丰电连接的，尤其是L＆ouml的;用太PR导航用途fenden电路板（6）tverbindungen，电子部件之间，其特征在于所述测试系统（1）一 包括通信接口（5），其通过与所述电路板（6）接触与数据存储器（10）或通信模块（9）〜PR导航用途fenden电路板上的数据交换（6）ERM＆ouml; glichet其中所述通信接口（5）的外壳和内AUML 使用可自由移动的测试系统（1）的（1a）至少两个，优选地三个空间方向（X，Y，Z）。
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公开(公告)号：WO2021099154A1
公开(公告)日：2021-05-27
申请号：PCT/EP2020/081443
申请日：2020-11-09
Applicant: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG
Inventor： KAPPERTZ, Jannis , STUTZ, Alexander , WUCHER, Markus
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren (100) zum Bestimmen einer inversen Impulsantwort eines Kommunikationskanals (30) mittels eines PAM-Receivers, wobei das Verfahren folgende Verfahrensschritte umfasst: Einschalten des PAM-Receivers in einem ersten Verfahrensschritt (101); Bei eingeschaltetem zweiten PAM-Transceiver Einstellen eines Unterschieds (U) zwischen einer Taktfrequenz des Datensignals und einer Abtastfrequenz des ersten PAM-Transceivers in einem zweiten Verfahrensschritt (102); Vergleichen eines durch den Interpretierer ausgegebenen Symbols (S) mit einem dem Interpretierer zugeführten Zustand (Z) und Ausgeben eines Fehlerwerts (E) in einem dritten Verfahrensschritt (103), wobei jeweils ein zu einem Abtasttakt gehörendes Symbol mit einem zum selben Abtasttakt gehörenden Zustand verglichen wird; Anpassen von m Filterkoeffizienten (FK) des Entzerrers zur Minimierung von Fehlerwerten in einem vierten Verfahrensschritt (104); Wiederholen des dritten Verfahrensschritts und des vierten Verfahrensschritts, bis ein Fehlergrenzwert (FG) erreicht ist.
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5.发明申请
公开(公告)号：WO2018024464A1
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：PCT/EP2017/067813
申请日：2017-07-14
Applicant: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG
Inventor： BÖHLER, Thomas , BRUDERMANN, Matthias , WERLE, Christoph , WUCHER, Markus , KOLLMER, Daniel , ADAM, Ludovic
Abstract: Ein Testsystem (1 ) zur Überprüfung von elektrischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischen elektronischen Bauteilen mit einer zu überprüfenden Leiterplatte (6), dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem (1) eine beweglich in einem Gehäuse (1a) des Testsystems gelagerte Baugruppe und eine Strom- und/oder Spannungsquelle (14) zur Energieversorgung der zu prüfende Leiterplatte (6) aufweist, wobei die Strom- und/oder Spannungsquelle (14) beweglich in mindestens zwei Raumrichtungen innerhalb des Gehäuses (1a) des Testsystems (1) angeordnet ist.
Abstract translation: 测试系统（1）用于检查具有待检查的电路板（6）的电子部件之间的电连接，特别是带电连接，其特征在于，测试系统 （1）在具有芬德电路板的壳体BEAR（6）移动，其中，所述测试系统组件的电流和/或电压源（安装喷嘴（1a）中，以及用于向PR导航用途的能量供应的电流和/或电压源（14） 14）可移动地布置在测试系统（1）的壳体（1a）内的至少两个空间方向上，
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Patent Agency Ranking6.发明申请TESTSYSTEM ZUR ÜBERPRÜFUNG VON ELEKTRONISCHEN VERBINDUNGEN VON BAUTEILEN MIT EINER LEITERPLATTE UND LEITERPLATTE 审中-公开用导体板和导体板验证组件的电子连接的测试系统
公开(公告)号：WO2018024422A1
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：PCT/EP2017/066493
申请日：2017-07-03
Applicant: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG
Inventor： BÖHLER, Thomas , BRUDERMANN, Matthias , WERLE, Christoph , WUCHER, Markus , KOLLMER, Daniel , ADAM, Ludovic
Abstract: Ein Testsystem (1) zur Überprüfung von elektrischen Verbindungen, insbesondere von Lötverbindungen, zwischenelektronischen Bauteilen mit einer zu überprüfenden Leiterplatte (6), dadurch gekennzeichnet dass das Testsystem(1)eine Kommunikationsschnittstelle (5) mit zumindest drei elektrisch-leitenden Kontaktspitzen (22,32) aufweist,welchedurch Kontaktierung mit einer Kontaktierungsanordnung (12) auf der Leiterplatte(6) mit mehreren Kontaktierungsstellen (11) einen Datenaustausch mitdem Datenspeicher (10) und/oder einem Kommunikationsmodul (9) der zu überprüfenden Leiterplatte (6) ermöglichen, wobei der Datenaustausch nach einem Kommunikationsprotokoll erfolgt.
Abstract translation:
测试系统（1），用于电连接的导航用途DaytonaPlease导航用途丰，特别是L＆ouml的; tverbindungen，电子元件之间有太导航用途DaytonaPlease导航用途fenden电路板（6），其特征在于所述测试系统（ 1）包括通信接口（5）具有至少三个导电接触尖端（22,32），其通过在所述印刷电路板与接触装置（12相接触）（6）具有交换数据的多个结合位点（11），所述数据存储（10）和/ 或待检查的电路板（6）的通信模块（9），其中数据交换根据通信协议进行。
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公开(公告)号：WO2018024421A1
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：PCT/EP2017/066484
申请日：2017-07-03
Applicant: ENDRESS+HAUSER FLOWTEC AG
Inventor： BÖHLER, Thomas , BRUDERMANN, Matthias , WERLE, Christoph , WUCHER, Markus , KOLLMER, Daniel , ADAM, Ludovic
Abstract: Eine Leiterplatte (6) mit einer Kontaktierungsanordnung (12) umfassend zumindest drei metallische Kontaktierungsbereiche (11), welche mit einer oder mehreren Datenleitungen der Leiterplatte verbunden sind und bei Kontakt mit einer Kommunikationsschnittstelle eines Testsystems einen Datenaustausch mit dem Datenspeicher (10) der zu überprüfenden Leiterplatte ermöglichen.
Abstract translation:
一种印刷电路板（6）与包含至少三个金属接触区域的接触装置（12）（11），其被连接到所述电路板的一个或多个数据线和在与测试系统与所述数据交换的通信接口接触 要检查的印刷电路板的数据存储器（10）。
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8.发明公开
公开(公告)号：EP4062608A1
公开(公告)日：2022-09-28
申请号：EP20803818.2
申请日：2020-11-09
Applicant: Endress + Hauser Flowtec AG
Inventor： KAPPERTZ, Jannis , STUTZ, Alexander , WUCHER, Markus
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9.发明公开
公开(公告)号：EP3491402A1
公开(公告)日：2019-06-05
申请号：EP17739516.7
申请日：2017-07-03
Applicant: Endress+Hauser Flowtec AG
Inventor： BÖHLER, Thomas , BRUDERMANN, Matthias , WERLE, Christoph , WUCHER, Markus , KOLLMER, Daniel , ADAM, Ludovic
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公开(公告)号：EP4062609A1
公开(公告)日：2022-09-28
申请号：EP20804214.3
申请日：2020-11-09
Applicant: Endress + Hauser Flowtec AG
Inventor： KAPPERTZ, Jannis , STUTZ, Alexander , WUCHER, Markus
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