Halbleitereinheiten mit vertikal gestapelten Finnen

    公开(公告)号:DE112020000852T5

    公开(公告)日:2021-11-18

    申请号:DE112020000852

    申请日:2020-04-28

    Applicant: IBM

    Abstract: Halbleitereinheiten und Verfahren zu deren Herstellung umfassen ein Bilden einer ersten Dielektrikumsschicht um eine Halbleiterfinne herum, ausgebildet aus einem ersten Dielektrikumsmaterial, bis zu einer Zielhöhe, die niedriger ist als eine Höhe der Halbleiterfinne. Auf der ersten Dielektrikumsschicht wird eine zweite Dielektrikumsschicht abgeschieden und wird aus einem zweiten Dielektrikumsmaterial gebildet. Auf der zweiten Dielektrikumsschicht wird eine dritte Dielektrikumsschicht gebildet, ausgebildet aus dem ersten Dielektrikumsmaterial. Die zweite Dielektrikumsschicht wird weggeätzt, um einen Spalt auf der ersten Halbleiterfinne freizulegen. Ein Abschnitt der Halbleiterfinne, der in dem Spalt freigelegt ist, wird oxidiert, um eine Isolationsschicht zu bilden.

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