公开(公告)号：DE102008052838B4

公开(公告)日：2013-02-21

申请号：DE102008052838

申请日：2008-10-23

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HERNANDEZ LUIS ,  MARK DANIEL ,  STRAEUSSNIGG DIETMAR ,  WIESBAUER ANDREAS

IPC: H03M3/00

Abstract: Schaltkreis umfassend: eine Signalformungskomponente (160), welche ausgestaltet ist, ein Eingangssignal (158) zu empfangen und ein geformtes Signal (162) bereitzustellen; eine Analyseeinheit (164), welche angeordnet und ausgestaltet ist, das geformte Signal (162) zu empfangen und eine Analyseausgabe (166) bereitzustellen, welche einen zugeordneten ersten Wert oder zweiten Wert aufweist, wobei die Analyseausgabe (166) den ersten Wert aufweist, wenn das geformte Signal (162) innerhalb eines ersten Bereichs ist, und die Analyseausgabe (166) den zweiten Wert aufweist, wenn das geformte Signal (162) innerhalb eines zweiten Bereichs ist; eine Abtastkomponente (168), welche angeordnet und ausgestaltet ist, die Analyseausgabe (166) und ein Taktsignal (170) zu empfangen und eine digitalisierte Ausgabe (172) auf der Grundlage des Taktsignals (170) bereitzustellen; und einen Abtastfehlerbestimmungsabschnitt (174, 178), welcher parallel zu der Abtastkomponente (168) angeordnet ist und einen Zeit/Digitalwandler (174) aufweist, welcher ausgestaltet ist, einen Abtastfehler (176) auf der Grundlage einer Zeitdifferenz zwischen der Analyseausgabe (166) und...

公开(公告)号：DE102008052838A8

公开(公告)日：2009-07-30

申请号：DE102008052838

申请日：2008-10-23

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HERNANDEZ LUIS ,  MARK DANIEL ,  STRAEUSSNIGG DIETMAR ,  WIESBAUER ANDREAS

IPC: H03M3/00

Abstract: Techniques for reducing sampling error in electronic components are described herein.

公开(公告)号：DE102008052838A1

公开(公告)日：2009-04-30

申请号：DE102008052838

申请日：2008-10-23

Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG

Inventor： HERNANDEZ LUIS ,  MARK DANIEL ,  STRAEUSSNIGG DIETMAR ,  WIESBAUER ANDREAS

IPC: H03M3/00

Abstract: Techniques for reducing sampling error in electronic components are described herein.