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公开(公告)号:DE102011018450B4
公开(公告)日:2017-08-31
申请号:DE102011018450
申请日:2011-04-21
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: WEDER UWE DR , KUENEMUND THOMAS , TISCHENDORF DENNIS
IPC: H01L23/58 , G06F21/55 , H01L21/761 , H01L29/74
Abstract: Halbleiterbauelement (100) mit einem Halbleitersubstrat (20), wobei in dem Halbleitersubstrat (20) eine dotierte Wanne (10) mit einem Wannenanschluss (5) mit einem dotierten Diffusionsbereich, der vom gleichen Leitfähigkeitstyp wie die Wanne ist, und eine Transistorstruktur (30) mit wenigstens einem in der Wanne ausgebildeten Potentialanschluss (35) ausgebildet sind, wobei die Transistorstruktur (30) einen parasitären Thyristor (40) aufweist, der teilweise in der dotierten Wanne (10) angeordnet ist, wobei der Potentialanschluss (35) und der Wannenanschluss (5) über einen Widerstand (R) verbunden sind, wobei der Widerstand (R) so ausgebildet ist, dass ein Lichtangriff den parasitären Thyristor (40) durchschaltet.
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公开(公告)号:FR2974448B1
公开(公告)日:2018-03-02
申请号:FR1200873
申请日:2012-03-23
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: KUENEMUND THOMAS , TISCHENDORF DENNIS , WEDER UWE
IPC: H01L27/10 , H01L23/552 , H01L29/74 , H01L31/101
Abstract: Composant (100) à semi-conducteur comprenant un substrat (20) semi-conducteur dans lequel un puits (10) dopé, ayant une borne (5) de puits, et une structure (30) de transistor, ayant au moins une borne (35) de potentiel, sont formés dans le substrat (20) semi-conducteur, caractérisé en ce que la structure (30) de transistor a un thyristor (40) parasite qui est placé en partie dans le puits (10) dopé, la borne (35) de potentiel et la borne (5) de puits étant reliée par une résistance (R).
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公开(公告)号:DE102009033641A1
公开(公告)日:2010-02-11
申请号:DE102009033641
申请日:2009-07-17
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: KRESSE JULIA , MAYERL CHRISTOPH , SAAS CHRISTOPH , TISCHENDORF DENNIS , WEDER UWE
Abstract: A circuit for detecting, whether a voltage difference is below a desired voltage difference comprises a voltage shift resistor, a current provider and a detection circuit. The current provider provides a current flowing through the voltage shift resistor such that the desired voltage difference across the voltage shift resistor is determined by a reference signal. The detection circuit is configured to compare a first voltage at a first input with a voltage at a second input to obtain a signal. The voltage shift resistor is coupled between a conductor for a second voltage and the second input, such that the voltage at the second input differs from the second voltage by the desired voltage difference, and wherein the detection circuit is configured to provide the signal, such that the signal indicates, whether the voltage difference between the first and the second voltage is below the desired voltage difference.
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公开(公告)号:DE102009033641B4
公开(公告)日:2020-06-04
申请号:DE102009033641
申请日:2009-07-17
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: KRESSE JULIA , MAYERL CHRISTOPH , SAAS CHRISTOPH , TISCHENDORF DENNIS , WEDER UWE
Abstract: Schutzschaltung (500; 600) zum Schützen einer ersten Spannungsdomäne (VDD), wobei die erste Spannungsdomäne (VDD) über einen Reihentransistor (M1) mit einer zweiten Spannungsdomäne (VDDP) gekoppelt ist, wobei die erste Spannungsdomäne (VDD) mit einem Source-Anschluss (S) des Reihentransistors (M1) verbunden ist, und wobei die zweite Spannungsdomäne (VDDP) mit einem Senkenanschluss (D) des Reihentransistors (M1) verbunden ist, wobei die Schaltung folgende Merkmale aufweist:eine Referenzschaltung (310), die dahin gehend konfiguriert ist, ein Referenzsignal (Sref) zu liefern;einen Spannungsverschiebungs-Widerstand (R2), der mit der zweiten Spannungsdomäne (VDDP) verbunden ist;einer Stromlieferschaltung (320), die dahin gehend konfiguriert ist, auf der Basis des Referenzsignals (Sref) einen durch den Spannungsverschiebungs-Widerstand (R2) fließenden geregelten Strom zu liefern, wobei die Stromlieferschaltung (320) dahin gehend konfiguriert ist, den geregelten Strom so zu regeln, dass eine gewünschte Spannungsdifferenz über den Spannungsverschiebungs-Widerstand (R2) anhand des Referenzsignals (Sref) bestimmt wird;eine Erfassungsschaltung (330), die dahin gehend konfiguriert ist, eine Spannung an einem ersten Erfassungsschaltungseingang (332) mit einer Spannung an einem zweiten Erfassungsschaltungseingang (334) zu vergleichen, um ein Vergleichsergebnissignal (Sres) zu erhalten,wobei der erste Erfassungsschaltungseingang (332) mit der ersten Spannungsdomäne (VDD) gekoppelt ist,wobei der Spannungsverschiebungs-Widerstand (R2) zwischen die zweite Spannungsdomäne (VDDP) und den zweiten Erfassungsschaltungseingang (334) gekoppelt ist, so dass die Spannung an dem zweiten Erfassungsschaltungseingang (334) um die gewünschte Spannungsdifferenz von einer Spannung der zweiten Spannungsdomäne (VDDP) abweicht, undwobei die Erfassungsschaltung (330) dahin gehend konfiguriert ist, das Vergleichsergebnissignal (Sres) zu liefern, so dass das Vergleichsergebnissignal (Sres) angibt, ob die Spannungsdifferenz zwischen einer Spannung der zweiten Spannungsdomäne (VDD) und der Spannung der ersten Spannungsdomäne (VDDP) unter der gewünschten Spannungsdifferenz liegt; undeine Reihentransistorregelschaltung (610), die mit der Erfassungsschaltung (330) gekoppelt ist, um das Vergleichsergebnissignal (Vres) zu empfangen, und die dahin gehend konfiguriert ist, eine an einen Steueranschluss des Reihentransistors (M1) angelegte Spannung anzupassen, so dass ein Lastpfadwiderstand des Reihentransistors erhöht wird, falls das Vergleichsergebnissignal (Vres) angibt, dass die Spannungsdifferenz zwischen der Spannung der zweiten Spannungsdomäne (VDDP) und einer Spannung der ersten Spannungsdomäne (VDD) unter der gewünschten Spannungsdifferenz liegt.
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公开(公告)号:FR2974448A1
公开(公告)日:2012-10-26
申请号:FR1200873
申请日:2012-03-23
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: KUENEMUND THOMAS , TISCHENDORF DENNIS , WEDER UWE
IPC: H01L27/10 , H01L23/552 , H01L29/74 , H01L31/101
Abstract: Composant (100) à semi-conducteur comprenant un substrat (20) semi-conducteur dans lequel un puits (10) dopé, ayant une borne (5) de puits, et une structure (30) de transistor, ayant au moins une borne (35) de potentiel, sont formés dans le substrat (20) semi-conducteur, caractérisé en ce que la structure (30) de transistor a un thyristor (40) parasite qui est placé en partie dans le puits (10) dopé, la borne (35) de potentiel et la borne (5) de puits étant reliée par une résistance (R).
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公开(公告)号:DE102019116468B3
公开(公告)日:2020-10-29
申请号:DE102019116468
申请日:2019-06-18
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: SAAS CHRISTOPH , MISSONI ALBERT , SCHNEIDER STEFAN , TISCHENDORF DENNIS
Abstract: Gemäß einem Ausführungsbeispiel wird eine integrierte Schaltung beschrieben aufweisend einen Knoten, der von einem ersten Versorgungspotential versorgt wird und mit einem zweiten Versorgungspotential derart verbunden ist, dass zwischen dem Knoten und dem zweiten Versorgungspotential ein Leckstrom fließt, eine Detektionsschaltung, die eingerichtet ist, ein zwischen dem Knoten und dem zweiten Versorgungspotential eingeprägtes Signal, dessen zeitliche Veränderung schnell gegenüber einer zeitlichen Veränderung des Leckstroms ist, zu detektieren, und eine Kompensationsschaltung, die eingerichtet ist, eine Abweichung des Potentials des Knotens von dem ersten Versorgungspotential mit einer Verzögerung, die groß ist gegenüber der zeitlichen Veränderung des Signals, zu kompensieren.
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公开(公告)号:DE102011018450A1
公开(公告)日:2012-10-25
申请号:DE102011018450
申请日:2011-04-21
Applicant: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Inventor: WEDER UWE DR , KUENEMUND THOMAS , TISCHENDORF DENNIS
IPC: H01L23/58 , H01L21/761 , H01L29/74
Abstract: Halbleiterbauelement 100 mit einem Halbleitersubstrat 20, wobei in dem Halbleitersubstrat 20 eine dotierte Wanne 10 mit einem Wannenanschluss 5 und eine Transistorstruktur 30 mit wenigstens einem Potentialanschluss 35 ausgebildet sind, wobei die Transistorstruktur 30 einen parasitären Thyristor 40 aufweist und zumindest teilweise in der dotierten Wanne 10 angeordnet ist, wobei der Potentialanschluss 35 und der Wannenanschluss 5 über einen Widerstand R verbunden sind.
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