公开(公告)号：DE102021122170A1

公开(公告)日：2022-03-31

申请号：DE102021122170

申请日：2021-08-26

Applicant: INTEL CORP

Inventor： BAINS KULJIT ,  CRISS KJERSTEN E ,  AGARWAL RAJAT ,  AVELAR SUAREZ OMAR ,  PANDA SUBHANKAR ,  YIGZAW THEODROS ,  LOOP REBECCA Z ,  HOLM JOHN G

IPC: G06F11/22

Abstract: Ein Speicherteilsystem mit einrichtungsinterner Fehlerüberprüfungs- und - bereinigungs- (ECS-) Logik auf dem Speicher kann die Rate von ECS-Operationen in Reaktion auf die Erkennung von Fehlern in dem Speicher anpassen, wenn sich die Speichereinrichtung in einem automatischen ECS-Modus befindet. Die ECS-Logik kann eine Angabe von Speicherreihen beinhalten, die durch den Host offline gesetzt wurden. Die ECS-Logik kann die offline gesetzten Reihen in Zählungen im ECS-Betrieb überspringen. Die ECS-Logik kann Anfragen oder Hinweise durch den Host beinhalten, ECS-Operationen durchführen zu lassen. Ein interner Adressgenerator der ECS-Logik kann zwischen erzeugten Adressen und den Hinweisen auswählen. Das System kann einer Speichersteuerung ermöglichen, Multibitfehler (MBEs) zu erkennen, die sich auf eine spezifische Adresse des zugehörigen Speichers beziehen. Wenn die erkannten MBEs ein Fehlermuster anzeigen, löst die Speichersteuerung eine Rowhammer-Reaktion für die spezifische Adresse aus.