Abstract:
A microelectronic package includes a substrate (110), a die (120) embedded within the substrate, the die having a front side (121) and a back side (122) and a through-silicon-via (123) therein, build-up layers (130) built up over the front side of the die, and a power plane (140) in physical contact with the back side of the die. In another embodiment, the microelectronic package comprises a substrate (210), a first die (220) and a second die (260) embedded in the substrate and having a front side (221, 261) and a back side (222, 262) and a through-silicon-via (223, 263) therein, build-up layers (230) over the front sides of the first and second dies, and an electrically conductive structure (240) in physical contact with the back sides of the first and second dies.
Abstract:
Halbleiterbauelement (109), das Folgendes aufweist:einen Halbleiter-Chip (118), der in eine bondhügellose Aufbauschicht-Struktur, BBUL-Struktur, (102) eingebettet ist; undeine Laminatkernstruktur (148), die an die BBUL-Struktur anstößt (144), wobei die Laminatkernstruktur (148) und die BBUL-Struktur durch einen elektrisch leitfähigen Körper (162) elektrisch gekoppelt sind, der in beide integriert ist,wobei der elektrisch leitfähige Körper (162) ein Hohlzylinder ist, der an seinem BBUL-strukturseitigen Ende (144) geschlossen ist.
Abstract:
Prozess zum Bilden eines kernlosen Kontaktstift-Rasterfeldsubstrats umfassend:das Bilden einer Saatschicht auf einer Kontaktstift-Rasterfeld-Kontaktstiftform;das Bilden eines PGA-Vorläuferfilms auf der Saatschicht;das Strukturieren des PGA-Vorläuferfilms, um mehrere beabstandete PGA-Kontaktstifte zu erreichen; unddas Bilden eines kernlosen PGA-Substrats, das die PGA-Kontaktstifte integriert, enthaltend:das Bilden einer ersten Zwischenschicht zum Festlegen einer Anschlussseite des kernlosen PGA-Substrats, wobei die erste Zwischenschicht mit den PGA-Kontaktstiften an deren Kontaktstiftköpfen in Kontakt steht;das Füllen einer Durchkontaktierung in die erste Zwischenschicht, wobei die Durchkontaktierung einen direkten Kontakt mit einem Kontaktstiftkopf der PGA-Kontaktstifte herstellt; unddas Bilden einer nachfolgenden Zwischenschicht, um eine nahe Chipseite des kernlosen PGA-Substrats festzulegen.
Abstract:
Eine Struktur enthält ein Hybridsubstrat zum Stützen eines Halbleiterbauelements, das eine bondhügellose Aufbauschicht, in die das Halbleiterbauelement eingebettet ist, und eine Laminatkernstruktur enthält. Die bondhügellose Aufbauschicht und die Laminatkernstruktur werden durch eine Verstärkungsplattierung, die mit einem plattierten Durchgangsloch in der Laminatkernstruktur und einer anschließenden Bondinsel der bondhügellosen Aufbauschichtstruktur verbunden ist, zu einer integralen Vorrichtung gemacht.
Abstract:
Ein Masseisolationsgewebestrukturgehäuse umfasst eine oberste Ebene mit einer oberen Zwischenverbindungsschicht mit oberen Massekontakten, oberen Datensignalkontakten und einer Masseisolationsgewebestruktur aus leitfähigem Material, die mit den oberen Massekontakten verbunden ist und die oberen Datensignalkontakte umgibt. Die oberen Kontakte können über einer unteren Schicht derselben Zwischenverbindungsebene ausgebildet sein und über Kontakte oder Bahnen mit dieser verbunden sein. Die Durchkontakte der unteren Schicht können mit oberen Kontakten einer zweiten Zwischenverbindungsebene verbunden sein, die auch ein solches Gewebe aufweisen kann. Es kann auch zumindest eine dritte Zwischenverbindungsebene mit einem solchen Gewebe vorliegen. Die Gewebestruktur bewirkt elektrische Isolation und reduziert Übersprechen zwischen den Signalkontakten, wodurch eine höherfrequente und präzisere Datensignalübertragung zwischen Vorrichtungen wie integrierten Schaltungschips (IC-Chips), die an einem Gehäuse angebracht sind, bereitgestellt wird.
Abstract:
A package for a microelectronic die (110) includes a first substrate (120) adjacent to a first surface (112) of the die a second substrate (130) adjacent to the first substrate and a heat spreader (140) adjacent to a second surface (111) of the die. The heat spreader makes contact with both the first substrate and the second substrate.
Abstract:
Ein kernloses Kontaktstift-Rasterfeld(PGA)-Substrat enthält PGA-Kontaktstifte, die mit dem PGA-Substrat ohne Verwendung von Lötmitteln integriert sind. Ein Prozess zur Herstellung des kernlosen PGA-Substrats integriert die PGA-Kontaktstifte durch Bilden einer Aufbauschicht auf den PGA-Kontaktstiften, so dass Durchkontaktierungen einen direkten Kontakt mit den Kontaktstiftköpfen der PGA-Kontaktstifte herstellen.
Abstract:
A coreless pin-grid array (PGA) substrate includes PGA pins that are integral to the PGA substrate without the use of solder. A process of making the coreless PGA substrate integrates the PGA pins by forming a build-up layer upon the PGA pins such that vias make direct contact to pin heads of the PGA pins.
Abstract:
A low-profile microelectronic package includes a die (110) (having a first surface (111) and a second surface (112)) and a package substrate (120). The substrate includes an electrically insulating layer (121) that forms a first side (126) of the substrate, an electrically conductive layer (122) connected to the die, and a protective layer (123) over the conductive layer that forms a second side (127) of the substrate. The first surface of the die is located at the first side of the substrate. The insulating layer has a plurality of pads (130) formed therein. The package further includes an array of interconnect structures (140) located at the first side of the substrate. Each interconnect structure in the array of interconnect structures has a first end (141) and a second end (142), and the first end is connected to one of the pads.
Abstract:
Methods of forming a microelectronic packaging structure and associated structures formed thereby are described. Those methods may include a die embedded in a coreless substrate, wherein a mold compound surrounds the die, and wherein the die comprises TSV connections on a first side and C4 pads on a second side of the die, a dielectric material on a first side and on a second side of the mold compound; and interconnect structures coupled to the C4 pads and to the TSV pads. Embodiments further include forming packaging structures wherein multiple dies are fully embedded within a BBUL package without PoP lands.