Mikroskop
    1.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102014110208A1

    公开(公告)日:2016-01-21

    申请号:DE102014110208

    申请日:2014-07-21

    Abstract: Beschrieben ist ein Mikroskop (21, 40, 60) mit mindestens einer in einem Strahlengang angeordneten Korrektionseinheit (10) zum Korrigieren eines veränderlichen sphärischen Abbildungsfehlers. Die Korrektionseinheit (10) umfasst mindestens ein optisches Korrektionselement (12), das in einem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs längs der optischen Achse (O) verschiebbar angeordnet ist. Das optische Korrektionselement (12) hat eine Korrektionsfläche (18), deren von dem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs durchsetzter Teil einen korrektionswirksamen Flächenabschnitt (20) bildet, dessen radiale Ausdehnung quer zur optischen Achse (O) durch Verschieben des Korrektionselementes (12) längs der optischen Achse (O) änderbar ist.

    Abtastmikroskop
    2.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102014110208B4

    公开(公告)日:2022-05-25

    申请号:DE102014110208

    申请日:2014-07-21

    Abstract: Abtastmikroskop (21) mit einem Abtastmodul (26), einem Hauptstrahlteiler (24) und mindestens einer in einem Strahlengang angeordneten Korrektionseinheit (10) zum Korrigieren eines veränderlichen sphärischen Abbildungsfehlers, wobei die mindestens eine Korrektionseinheit (10) zwischen dem Hauptstrahlteiler (24) und dem Abtastmodul (26) angeordnet ist,die mindestens eine Korrektionseinheit (10) mindestens ein optisches Korrektionselement (12) umfasst, das in einem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs längs der optischen Achse (O) verschiebbar angeordnet ist, unddas optische Korrektionselement eine Korrektionsfläche (18) aufweist, deren von dem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs durchsetzter Teil einen korrektionswirksamen Abschnitt (20) bildet, dessen radiale Ausdehnung quer zur optischen Achse (O) durch Verschieben des Korrektionselementes (12) längs der optischen Achse (O) änderbar ist.

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