公开(公告)号：WO2014004587A2

公开(公告)日：2014-01-03

申请号：PCT/US2013/047726

申请日：2013-06-25

Applicant: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION

Inventor： CONRADSON, Scott ,  DINAUER, David ,  ZHAO, Bin ,  GREMYACHINSKIY, Dmitriy ,  MYERS, Jason ,  ROSSIO, Jeffrey ,  SINGER, Victoria ,  GIORDA, Kristina

IPC: G01N33/543

CPC classification number: C12Q1/6876 ,  G01N33/543 ,  G01N33/54326 ,  G01N33/54373 ,  G01N33/56977 ,  G01N33/6854 ,  G01N2333/4703

Abstract: Accordingly, in some embodiments methods for detecting an analyte or analytes in one or more sample(s) are provided. The methods encompass providing a solid support with an addressable marker and an associated ligand, contacting the solid substrate to a sample, thereby forming a contacted solid support, associating the contacted solid support with a FET array and detecting the electrical properties of the FET array and thereby detecting an analyte or analytes in one or more samples. In other embodiments, the sample encompasses a second addressable marker.

Abstract translation: 因此，在一些实施例中，提供了用于检测一个或多个样品中的分析物或分析物的方法。 所述方法包括提供具有可寻址标记和相关配体的固体支持物，将固体基质接触样品，从而形成接触的固体支持物，将接触的固体支持物与FET阵列相关联，并检测FET阵列的电特性， 从而检测一个或多个样品中的分析物或分析物。 在其他实施例中，样本包含第二可寻址标记。

公开(公告)号：EP2864786A2

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：EP13737907.9

申请日：2013-06-25

Applicant: Life Technologies Corporation

Inventor： CONRADSON, Scott ,  DINAUER, David ,  ZHAO, Bin ,  GREMYACHINSKIY, Dmitriy ,  MYERS, Jason ,  ROSSIO, Jeffrey ,  SINGER, Victoria ,  GIORDA, Kristina

IPC: G01N33/543 ,  G01N33/569

CPC classification number: C12Q1/6876 ,  G01N33/543 ,  G01N33/54326 ,  G01N33/54373 ,  G01N33/56977 ,  G01N33/6854 ,  G01N2333/4703

Abstract: Accordingly, in some embodiments methods for detecting an analyte or analytes in one or more sample(s) are provided. The methods encompass providing a solid support with an addressable marker and an associated ligand, contacting the solid substrate to a sample, thereby forming a contacted solid support, associating the contacted solid support with a FET array and detecting the electrical properties of the FET array and thereby detecting an analyte or analytes in one or more samples. In other embodiments, the sample encompasses a second addressable marker.

Abstract translation: 因此，在一些实施方案中，提供了用于检测一个或多个样品中的分析物或分析物的方法。 所述方法包括提供具有可寻址标记和相关配体的固体支持物，使固体基质与样品接触，从而形成接触的固体支持物，将接触的固体支持物与FET阵列相关联并检测FET阵列的电特性， 从而检测一个或多个样品中的分析物或分析物。 在其他实施例中，样本包含第二可寻址标记。

公开(公告)号：EP2864786B1

公开(公告)日：2019-07-24

申请号：EP13737907.9

申请日：2013-06-25

Applicant: Life Technologies Corporation

Inventor： CONRADSON, Scott ,  DINAUER, David ,  ZHAO, Bin ,  GREMYACHINSKIY, Dmitriy ,  MYERS, Jason ,  ROSSIO, Jeffrey ,  SINGER, Victoria ,  GIORDA, Kristina

IPC: G01N33/543 ,  G01N33/569