Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils (101), das eine Lichtquelle (103), die zumindest eine von einer oder mehreren lichtemittierenden Dioden gebildete Leuchtfläche (105) aufweist, und eine die Lichtquelle (103) aufnehmende Aufnahmeeinrichtung (107) umfasst, umfassend die folgenden Schritte: Bestimmen (1101) einer Abweichung einer Ist-Lage (115) der Lichtquelle (103) an der Aufnahmeeinrichtung (107) von einer Soll-Lage (113) der Lichtquelle (103) an der Aufnahmeeinrichtung (107), Bilden (1103) zumindest einer Markierung (139) an der Aufnahmeeinrichtung (107), die die Abweichung anzeigt. Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung (1201) zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils, ein optoelektronisches Bauteil (101), ein Verfahren zum Bestücken eines Trägers mit einem optoelektronischen Bauteil, eine Vorrichtung (1401) zum Bestücken eines Trägers mit einem optoelektronischen Bauteil sowie ein Computerprogramm.
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform weist das optoelektronische Halbleiterbauteil (1) einen Träger (2) auf. Mehrere aktive Zonen (33) sind an einer Trägeroberseite (23) angebracht und zur Erzeugung von Strahlung eingerichtet. Mindestens drei elektrische Kontaktstellen (4) befinden sich an einer Trägerunterseite (24). Das Halbleiterbauteil (1) weist zumindest eine Ansteuereinheit (5) zum elektrischen Adressieren des Halbleiterbauteils (1) und zu einem elektrischen Ansteuern der aktiven Zone (33) auf. Die aktiven Zonen (33) sind in einem regelmäßigen Raster angebracht, in Draufsicht gesehen. Geometrische Mittelpunkte (P) von Strahlungshauptseiten (30) der aktiven Zonen (33) liegen auf Rasterpunkten des Rasters, mit einer Toleranz von höchstens 20 % eines Rastermaßes. Ein Abstand (D) der geometrischen Mittelpunkte (P) randständiger aktiver Zonen (33) zu einer nächstgelegenen Kante des Trägers (2) beträgt dabei höchstens 60 % des Rastermaßes, in Draufsicht gesehen.
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform ist das Verfahren zum Betreiben einer Anordnung (1) eingerichtet. Die Anordnung (1) weist N strahlungsemittierende Halbleiterchips (2) auf. Die Halbleiterchips (2) sind in einer elektrischen Serienschaltung angeordnet. Die Anordnung (1) umfasst mehrere Schaltelemente (3), wobei jedem der Halbleiterchips (2) eines der Schaltelemente (3) elektrisch parallel geschaltet ist. Es beinhaltet die Anordnung (1) einer Ansteuereinheit (4) zum voneinander unabhängigen Ansteuern der Schaltelemente (3). Die Anordnung (1) umfasst eine Konstantstromquelle (5) zum Bestromen der Serienschaltung. Bei einem Ausschalten wird der jeweilige, einem Schaltelement (3) zugehörige Halbleiterchip (2) von dem Schaltelement (3) elektrisch überbrückt. Ein Schutzmodul (6) der Anordnung (1) ist dazu eingerichtet, bei einem Ausschalten von einem oder mehreren der Halbleiterchips (2) Stromspitzen zu reduzieren oder zu verhindern.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein optoelektronisches Bauteil (101, 301, 501, 801), umfassend eine Leuchtdiode (113), eine Aufnahmeeinrichtung (115), an der die Leuchtdiode (113) aufgenommen ist, wobei die Aufnahmeeinrichtung (115) eine Fixierungseinrichtung (119; 125, 505, 803) aufweist, wobei die Fixierungseinrichtung (119; 125, 505, 803) Klebstoff (803) umfasst, um die Aufnahmeeinrichtung (115) auf einen die Aufnahmeeinrichtung (115) tragenden Träger kleben zu können. Die Erfindung betrifft ferner ein Verfahren zum Bearbeiten eines optoelektronischen Bauteils. Die Erfindung betrifft des Weiteren ein Verfahren zum Bestücken eines Trägers mit einem optoelektronischen Bauteil. Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zum Aufnehmen eines optoelektronischen Bauteils.
Abstract:
Es wird eine Leuchtvorrichtung angegeben, mit - zumindest einen strahlungsemittierenden Halbleiterchip (10), der zumindest zwei in lateraler Richtung (101) voneinander beabstandet angeordnete Emissionsbereiche (11) aufweist, wobei jeder Emissionsbereich (11) zumindest eine zur Emission von elektromagnetischer Strahlung geeignete aktive Zone (2) umfasst; - eine Ansteuervorrichtung (12) zum Betreiben der Emissionsbereiche (11), wobei - die Emissionsbereiche (11) getrennt voneinander elektrisch betreibbar sind, und - die Ansteuervorrichtung (12) dazu eingerichtet ist, jeden Emissionsbereich (11) in Abhängigkeit von zumindest einer der folgenden Bedingungen getrennt von den verleibenden Emissionsbereichen anzusteuern: Betriebsdauer des Emissionsbereichs (11), vorgebbare Mindestintensität der vom Emissionsbereich (11) emittierten elektromagnetischen Strahlung, Erreichen einer maximalen Betriebstemperatur des Halbleiterchips (10), Intensität der von dem Halbleiterchip (10) zu emittierenden elektromagnetischen Strahlung, Lichtstärkenverteilung entlang einer Leuchtfläche des strahlungsemittierenden Halbleiterchips, Lichtstärkenverteilung entlang eines von der Leuchtvorrichtung (100) zu beleuchtenden Objekts.
Abstract:
A luminous device is specified, comprising - at least one radiation-emitting semiconductor chip (10) having at least two emission regions (11) arranged in a manner spaced apart from one another in a lateral direction (101), wherein each emission region (11) comprises at least one active zone (2) suitable for emitting electromagnetic radiation; - a drive device (12) for operating the emission regions (11), wherein - the emission regions (11) are electrically operable separately from one another, and - the drive device (12) is designed to drive each emission region (11) separately from the remaining emission regions in a manner dependent on at least one of the following conditions: operating duration of the emission region (11), predeterminable intensity of the electromagnetic radiation emitted by the emission region (11), attainment of a maximum operating temperature of the semiconductor chip (10), intensity of the electromagnetic radiation to be emitted by the semiconductor chip (10), light intensity distribution along a luminous area of the radiation-emitting semiconductor chip, light intensity distribution along an object to be illuminated by the luminous device (100).