Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterchips angegeben, wobei in einem Verfahrensschritt A) ein Bereitstellen eines Halbleiterschichtenstapels umfassend eine Halbleiterschicht eines ersten Typs, eine Halbleiterschicht eines zweiten Typs und eine zwischen der Halbleiterschicht des ersten Typs und der Halbleiterschicht des zweiten Typs angeordnete aktive Schicht erfolgt. Weiterhin umfasst das Verfahren in einem Verfahrensschritt B) ein Ausbilden einer Mesa-Struktur in der Halbleiterschicht des ersten Typs, der Halbleiterschicht des zweiten Typs und der aktiven Schicht. Das Verfahren umfasst des Weiteren in einem Verfahrensschritt C) ein Aufbringen einer Passivierungsschicht auf die Mesa-Struktur mittels Aufdampfen oder Sputtern.
Abstract:
Es wird ein strahlungsemittierender Halbleiterchip (1) mit einem Substrat (2) und einer epitaktischen Halbleiterschichtenfolge (3) angegeben. Die epitaktische Halbleiterschichtenfolge (3) umfasst eine aktive Zone (4), die dazu geeignet ist, elektromagnetische Strahlung eines ersten Wellenlängenbereichs zu erzeugen. Das Substrat (2) ist transparent für elektromagnetische Strahlung der aktiven Zone (4). Auf einer Seitenfläche (9) des Substrats (2) und auf einer rückseitigen Hauptfläche des Halbleiterchips (1), die einer Strahlungsaustrittfläche (5) des Halbleiterchips (1) gegenüber liegt, ist eine optisch aktive Schicht (11) aufgebracht. Weiterhin werden ein Verfahren zur Herstellung eines derartigen Halbleiterchips (1) und ein optoelektronisches Bauelement mit einem derartigen Halbleiterchip (1) angegeben.
Abstract:
Halbleiterlaser mit einseitig verbreiterter Ridgestruktur Die Erfindung betrifft einen Halbleiterlaser (1) mit einem Grundkörper (2) und einer auf dem Grundkörper angeordneten Ridgestruktur (3), die entlang einer Längsachse über einer aktiven Zone ausgerichtet ist, wobei die Ridgestruktur eine erste Breite aufweist, und wobei die Ridgestruktur entlang der Längsachse (8) zwei gegenüberliegende Endflächen aufweist, wobei die Ridgestruktur angrenzend an wenigstens eine Endfläche einen in Bezug auf eine Mittenachse der Ridgestruktur einseitig angeordneten Endabschnitt (5) aufweist, so dass die Ridgestruktur (3) angrenzend an die Endfläche einseitig verbreitert ist. Zudem ist auf einer dem Endabschnitt gegenüberliegenden Seite der Ridgestruktur ein Bruchgraben (47) angrenzend an die Endfläche und beabstandet von der Ridgestruktur in einer Oberfläche des Grundkörpers angeordnet. Die Halbleiterlaser werden auf einem Wafer (17) gewachsen und eine Vereinzelung erfolgt entlang einer Bruchrichtung (14) welche mittig entlang der Längsachse des Endabschnitts und des Bruchgrabens (47) sich befindet.
Abstract:
Es wird ein strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement (1) mit einem Halbleiterkörper (2) angegeben, wobei der Halbleiterkörper eine Halbleiterschichtenfolge mit einem zur Erzeugung von Strahlung vorgesehenen aktiven Bereich (20) aufweist. Das Halbleiterbauelement weist einen Wellenleiter (5) auf, der für eine laterale Führung der im aktiven Bereich erzeugten Strahlung vorgesehen ist und der sich zwischen einer Spiegelfläche (3) und einer Auskoppelfläche (4) erstreckt. Der Wellenleiter trifft senkrecht auf die Spiegelfläche und schließt mit einer Normalen der Auskoppelfläche einen spitzen Winkel ein.
Abstract:
An optoelectronic semiconductor device (1) is described with - a semiconductor layer sequence (2) comprising - a first semiconductor layer (3) having a first surface (3A), - a second semiconductor layer (5) having a first surface (5A), - a first main surface (2A) and a second main surface (2B) opposite to the first main surface (2A), wherein the first surfaces (3A, 5A) of the first and second semiconductor layers (3, 5) are at least partly arranged at the first main surface (2A), - a directionally reflective layer (7) being arranged on the first main surface(2A), - a first contact structure (8) comprising a first current spreading structure(9) being arranged on the first surface (3A) of the first semiconductor layer (3), - a second contact structure (15) comprising a second current spreading structure (16) being arranged on the first surface (5A) of the second semiconductor layer (5), wherein the first current spreading structure (9) and the second current spreading structure (16) each consist of at least one transparent conductive oxide. Moreover, a method for producing an optoelectronic semiconductor device (1) is described.
Abstract:
Es wird ein strahlungsemittierender Halbleiterchip (1) angegeben mit: - einer Halbleiterschichtenfolge (2), die einen aktiven Bereich (3) aufweist, der dazu ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlung zu erzeugen, - einer ersten dielektrischen Spiegelschicht (6), die über der Halbleiterschichtenfolge (2) angeordnet ist, und - einer zweiten dielektrischen Spiegelschicht (7), die über der ersten dielektrischen Spiegelschicht (6) angeordnet ist, wobei - die erste dielektrische Spiegelschicht (6) zumindest eine erste Ausnehmung (8) aufweist, - eine erste Stromaufweitungsschicht (10) in der ersten Ausnehmung (8) und über der ersten dielektrischen Spiegelschicht (6) angeordnet ist, - die zweite dielektrische Spiegelschicht (7) zumindest eine zweite Ausnehmung (9) aufweist, die sich bis zur ersten Stromaufweitungsschicht (10) erstreckt, und - die erste Ausnehmung (8) in Draufsicht nicht mit der zweiten Ausnehmung (9) in lateraler Richtung überlappt. Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung eines strahlungsemittierenden Halbleiterchips (1) angegeben.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (1) mit einer Halbleiterschichtenfolge (2) mit einer ersten Halbleiterschicht (21), einer zweiten Halbleiterschicht (22) und einem zwischen der ersten Halbleiterschicht und der zweiten Halbleiterschicht angeordneten und zum Erzeugen und/oder Empfangen von Strahlung vorgesehenen aktiven Bereich (20) angegeben, wobei - in der Halbleiterschichtenfolge eine erste Grabenstruktur (3) ausgebildet ist, wobei die erste Grabenstruktur die zweite Halbleiterschicht und den aktiven Bereich durchdringt und in lateraler Richtung durch eine erste Seitenfläche (301) und eine zweite Seitenfläche (302) begrenzt ist; - in der Halbleiterschichtenfolge eine zweite Grabenstruktur (4) ausgebildet ist, wobei die zweite Grabenstruktur in die erste Halbleiterschicht hineinragt und in Draufsicht auf den Halbleiterchip zumindest stellenweise zwischen der ersten Seitenfläche der ersten Grabenstruktur und der zweiten Seitenfläche der ersten Grabenstruktur verläuft; und - der Halbleiterchip eine erste Kontaktfingerstruktur (5) aufweist, die in der zweiten Grabenstruktur mit der ersten Halbleiterschicht elektrisch leitend verbunden ist. Weiterhin wird ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterchips angegeben.
Abstract:
Es wird ein optoelektronisches Halbleiterbauelement (1) mit einem Halbleiterkörper (2), der eine Halbleiterschichtenfolge mit einem zum Erzeugen von Strahlung vorgesehenen aktiven Bereich(20), einer Halbleiterschicht(21)und einer weiteren Halbleiterschicht (22) aufweist,angegeben,wobei -der aktive Bereich zwischen der Halbleiterschicht und der weiteren Halbleiterschicht angeordnet ist; - auf einer Strahlungsaustrittsfläche (210) des Halbleiterkörpers eine Stromaufweitungsschicht angeordnet ist; - die Stromaufweitungsschicht elektrisch leitend mit einer Kontaktstruktur (4) für die externe elektrische Kontaktierung der Halbleiterschicht verbunden ist; - die Stromaufweitungsschicht in Draufsicht auf das Halbleiterbauelement in einem Anschlussbereich (30) an die Halbleiterschicht angrenzt, und - die Stromaufweitungsschicht eine Strukturierung (31) mit einer Mehrzahl von Ausnehmungen (35) aufweist, durch die im Betrieb Strahlung aus dem Halbleiterbauelement austritt.
Abstract:
Es wird ein Licht emittierendes Halbleiterbauelement (10) angegeben, das eine Halbleiterschichtenfolge (1) mit einem aktiven Bereich (2), der dazu eingerichtet ist, im Betrieb des Halbleiterbauelements (10) Licht zu erzeugen, und eine die Halbleiterschichtenfolge (1) abschließenden Halbleiterschicht (3), eine transparente elektrisch leitende Kontaktschicht (4) auf der abschließenden Halbleiterschicht (3), eine Außenschicht (6) auf der Halbleiterschichtenfolge (1), die einen Kunststoff aufweist, und zumindest eine transparente dielektrische Zwischenschicht (5) zwischen der transparenten elektrisch leitenden Kontaktschicht (4) und der Außenschicht (6) aufweist, wobei die Kontaktschicht (4), die Zwischenschicht ( 5 ) und die Außenschicht (6) jeweils einen Brechungsindex aufweisen und der Brechungsindex der Zwischenschicht (5) kleiner als der Brechungsindex der Kontaktschicht (4) und größer als der Brechungsindex der Außenschicht (6) ist.
Abstract:
Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (20) angegeben, mit einem ersten Bereich (21), welcher mit einem ersten Dotierstoff dotiert ist, einem zweiten Bereich (22), welcher mit einem zweiten Dotierstoff dotiert ist, einem aktiven Bereich (23) zwischen dem ersten Bereich (21) und dem zweiten Bereich (22), einer ersten KontaktSchicht (24), welche ein elektrisch leitfähiges Material aufweist und den ersten Bereich (21) bedeckt, einer Isolationsschicht (25), welche die erste Kontaktschicht (24) bedeckt und erste Öffnungen (26) aufweist, und einer zweiten Kontaktschicht (27), welche ein elektrisch leitfähiges Material aufweist und welche die Isolationsschicht (25) und die ersten Öffnungen (26) bedeckt, wobei die ersten Öffnungen (26) die Isolationsschicht (25) vollständig durchdringen, und die zweite Kontaktschicht (27) zweite Öffnungen (28) aufweist und/oder in den ersten Öffnungen (26) jeweils zwischen der zweiten KontaktSchicht (27) und der Isolationsschicht (25) eine dritte Kontaktschicht (29) angeordnet ist, welche ein elektrisch leitfähiges Material aufweist. Außerdem wird ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterchips (20) angegeben.