Abstract:
Die Anmeldung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von optoelektronischen Halbleiterbauteilen (1) mit den Schritten: A) Aufwachsen einer Halbleiterschichtenfolge (3) zur Strahlungserzeugung auf ein Aufwachssubstrat (2), B) Strukturieren der Halbleiterschichtenfolge (3) zu Emittersträngen (11), sodass die Halbleiterschichtenfolge (3) in Lücken (12) zwischen benachbarten Emittersträngen (11) entfernt wird, C) Aufbringen einer Passivierungsschicht (4), wobei die Halbleiterschichtenfolge (3) an dem Aufwachssubstrat (2) abgewandten Wellenleiterkontakten (51) und die Lücken (12) zumindest teilweise frei bleiben, D) Erzeugen mindestens einer Metallschicht (50), die von den Wellenleiterkontakten (51) bis in die Lücken (12) reicht, E) Ersetzen des Aufwachssubstrats (2) durch einen Träger (6), F) Erstellen von Durchkontaktierungen (53) im Träger (6), sodass die Metallschicht (50) und dem Träger (6) zugewandte Unterseitenkontakte (52) der Halbleiterschichtenfolge (3) elektrisch kontaktiert werden sowie Entfernen des Trägers (6) zwischen zumindest einigen der Emitterstränge (11) und zwischen entlang der Emitterstränge (11) aufeinanderfolgenden Emittereinheiten (13), und G) Brechen der Halbleiterschichtenfolge (3) zwischen den Emittereinheiten (13), sodass Facetten (31) entstehen.
Abstract:
Ein Laserbauelement (500) umfasst einen kantenemittierenden ersten Laserchip (100) mit einer Oberseite (101), einer Unterseite (102), einer Stirnseite (103) und einer Seitenfläche (104,105). An der Stirnseite ist ein Emissionsbereich (131) ausgebildet. Die Seitenfläche ist senkrecht zur Oberseite und zur Stirnseite orientiert. An der Oberseite ist eine erste Metallisierung (170) angeordnet. An der Seitenfläche ist eine Stufe ausgebildet, durch die ein an die Oberseite angrenzender Teil der Seitenfläche zurückversetzt ist. Im zurückversetzten Teil der Seitenfläche ist eine Passivierungsschicht (160) angeordnet. Der Laserchip ist auf einem Träger (400) z.B. aus Diamant angeordnet. Dabei ist die Seitenfläche (104) des ersten Laserchips (100) einer Oberfläche des Trägers (400) zugewandt. Ein an der Oberfläche des Trägers angeordneter erster Lötkontakt (410) ist elektrisch leitend mit der ersten Metallisierung (170) verbunden. Durch elektrisches Verbinden der ersten Metallisierung (170) des ersten Laserchips (100) mit derjenigen des dritten Laserchips (300) und einer SMD-Montage mittels Lötkontakten (410,420,430) kann eine Laserbauelement mit hoher Leistung, verbesserter Kühlung und ohne störende Interferenzen bereit gestellt werden weil sich die beiden Emissionsbereiche (131) sich nur maximal 20 μιη voneinander entfernt befinden (501).
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform umfasst der optoelektronische Halbleiterchip (1) eine Halbleiterschichtenfolge (2). Die Halbleiterschichtenfolge (2) weist eine erste Seite (21) und eine zweite Seite (23, 24) sowie eine dazwischen liegende aktive Zone (22) auf. Die beiden Seiten zeigen unterschiedliche Leitfähigkeitstypen auf. Von der ersten Seite (21) her durch die aktive Zone (22) hindurch ist die zweite Seite (23, 24) mit einer elektrischen Durchkontaktierung (3) kontaktiert. Die Durchkontaktierung (3) beinhaltet einen Basisbereich (31), der als Zylinder, Kegelstumpf oder Pyramidenstumpf geformt ist und der in lateraler Richtung, senkrecht zu einer Wachstumsrichtung (G) der Halbleiterschichtenfolge (2), ringsum von einer elektrischen Isolationsschicht (32) umgeben ist. Die Durchkontaktierung (3) weist einen Kontaktbereich (33) auf, der als Kegelstumpf oder Pyramidenstumpf oder sphärischer oder asphärischer Körper geformt ist und der entlang der Wachstumsrichtung (G) dem Basisbereich (31) unmittelbar nachfolgt sowie in direktem Kontakt mit der zweiten Seite (23, 24) steht. Ein erster Flankenwinkel (a) des Basisbereichs (31) ist anders als ein zweiter Flankenwinkel (b) des Kontaktbereichs (33).
Abstract:
Halbleiterlaser mit einseitig verbreiterter Ridgestruktur Die Erfindung betrifft einen Halbleiterlaser (1) mit einem Grundkörper (2) und einer auf dem Grundkörper angeordneten Ridgestruktur (3), die entlang einer Längsachse über einer aktiven Zone ausgerichtet ist, wobei die Ridgestruktur eine erste Breite aufweist, und wobei die Ridgestruktur entlang der Längsachse (8) zwei gegenüberliegende Endflächen aufweist, wobei die Ridgestruktur angrenzend an wenigstens eine Endfläche einen in Bezug auf eine Mittenachse der Ridgestruktur einseitig angeordneten Endabschnitt (5) aufweist, so dass die Ridgestruktur (3) angrenzend an die Endfläche einseitig verbreitert ist. Zudem ist auf einer dem Endabschnitt gegenüberliegenden Seite der Ridgestruktur ein Bruchgraben (47) angrenzend an die Endfläche und beabstandet von der Ridgestruktur in einer Oberfläche des Grundkörpers angeordnet. Die Halbleiterlaser werden auf einem Wafer (17) gewachsen und eine Vereinzelung erfolgt entlang einer Bruchrichtung (14) welche mittig entlang der Längsachse des Endabschnitts und des Bruchgrabens (47) sich befindet.
Abstract:
Das Verfahren zur Herstellung einer Beleuchtungsvorrichtung umfasst einen Verfahrensschritt A), in dem ein Waferverbund mit einer auf einem Trägersubstrat angeordneten Halbleiterschichtenfolge bereitgestellt wird. Weiter umfasst das Verfahren einen Verfahrensschritt B), in dem der Waferverbund in eine Vielzahl erster optoelektronischer Halbleiterchips mit jeweils einem Abschnitt der Halbleiterschichtenfolge und des Trägersubstrats durchtrennt wird. In einem weiteren Verfahrensschritt C) werden zumindest einige der ersten optoelektronischen Halbleiterchips auf einen ersten Hilfsträger übertragen. Des Weiteren umfasst das Verfahren einen Verfahrensschritt D), in dem die ersten optoelektronischen Halbleiterchips auf dem ersten Hilfsträger zur Anpassung an eine vorgegebene Form zugeschnitten werden. In einem weiteren Verfahrensschritt E) werden die ersten optoelektronischen Halbleiterchips von dem ersten Hilfsträger auf einen Träger übertragen.
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform umfasst der Halbleiter-Streifenlaser einen ersten Halbleiterbereich (11) eines ersten Leitfähigkeitstyps. Ferner beinhaltet der Halbleiter-Streifenlaser einen zweiten Halbleiterbereich (13) eines zweiten Leitfähigkeitstyps. Eine aktive Zone (12) zur Erzeugung einer Laserstrahlung befindet sich zwischen den Halbleiterbereichen (11, 13). Ein Streifenwellenleiter (3) ist in dem zweiten Halbleiterbereich (13) geformt. Der Streifenwellenleiter (3) ist zu einer eindimensionalen Wellenleitung entlang einer Wellenleitrichtung (L) eingerichtet. Ein erster elektrischer Kontakt (41) befindet sich an dem ersten Halbleiterbereich (11) und ein zweiter elektrischer Kontakt (43) befindet sich an dem zweiten Halbleiterbereich (13). Weiterhin beinhaltet der Halbleiter-Streifenlaser (1) einen Wärmespreizer (2), der wenigstens bis zu einer Temperatur von 220 °C formstabil mit den Halbleiterbereichen (11, 13) verbunden ist. Der Wärmespreizer (2) weist eine mittlere Wärmeleitfähigkeit von mindestens 50 W/mK auf.
Abstract:
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterlaser (1) mit einem Grundkörper (2), wobei auf dem Grundkörper (2) ein in der Breite schmälerer Streifen (3) vorgesehen ist, wobei eine aktive Zone (4) zum Erzeugen von Lichtstrahlung vorgesehen ist, wobei Oberflächen (9, 10) des Grundkörpers (2) seitlich des Streifens (3) und Seitenflächen (13, 14) des Streifens (3) mit einer elektrisch isolierenden Schutzschicht (11) abgedeckt sind, wobei auf einer Oberseite des Streifens (3) eine elektrisch leitende Schicht (12) als Kontakt vorgesehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen einer Seitenfläche (13, 4) des Streifens (3) und der Schutzschicht (11) wenigstens in einem begrenzten Abschnitt ein Hohlraum (15) vorgesehen ist.
Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Verbindung zwischen einem ersten Bauteil (1) und einem zweiten Bauteil (2) angegeben, bei dem das erste Bauteil mit einer ersten freiliegenden Isolationsschicht (1I) und das zweite Bauteil mit einer zweiten freiliegenden Isolationsschicht (2I) bereitgestellt werden, wobei die Isolationsschichten jeweils zumindest eine Öffnung (1IC, 2IC) aufweisen. Die Bauteile werden derart zusammengeführt, dass sich die Öffnung (1IC) der ersten Isolationsschicht und die Öffnung (2IC) der zweiten Isolationsschicht in Draufsicht überlappen, wobei in mindestens einer der Öffnungen (1IC, 2IC) eine Au-Schicht (S1, S2) und eine Sn-Schicht (S1, S2) übereinander angeordnet sind. Die Au-Schicht und die Sn-Schicht werden zur Bildung einer AuSn-Legierung aufgeschmolzen, wobei die AuSn-Legierung nach einer Abkühlung eine Durchkontaktierung (12) bildet, welche das erste Bauteil mit dem zweiten Bauteil elektrisch leitend verbindet. Des Weiteren wird ein Bauelement aus einem ersten Bauteil und einem zweiten Bauteil angegeben, wobei die Bauteile durch eine Durchkontaktierung aus einer AuSn-Legierung miteinander elektrisch leitend verbunden sind.
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform weist der Steglaser (1) eine Halbleiterschichtenfolge (2) mit einer aktiven Zone (20) auf. Ein Wellenleiter (3) mit einer bestimmten Breite (B) ist aus der Halbleiterschichtenfolge (2) als Erhebung geformt. Auf einer der aktiven Zone (20) abgewandten Oberseite (30) des Wellenleiters (3) ist eine Kontaktmetallisierung (4) aufgebracht. Eine Bestromungsschicht (5) steht in direktem Kontakt mit der Kontaktmetallisierung (4). Über die Bestromungsschicht (5) ist die Kontaktmetallisierung (4) elektrisch angeschlossen. Eine Bestromungsbreite (C) der aktiven Zone (20) und/oder des Wellenleiters (3) ist kleiner als die Breite (B) des Wellenleiters (3).
Abstract:
Ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements (10) umfasst das Ausbilden (S100) einer strukturierten Maske (112) über einem Substrat (100), so dass ein erster Bereich (105) einer ersten Hauptoberfläche (110) des Substrats (100) mit einer Vielzahl voneinander beabstandeter Unter-Strukturelemente (107) eines dielektrischen Materials bedeckt ist und zweite Bereiche (106) der ersten Hauptoberfläche (110) unbedeckt sind. Dabei ist die Vielzahl von Unter-Strukturelementen (107) jeweils zwischen benachbarten zweiten Bereichen (106) angeordnet. Das Verfahren umfasst ferner das Durchführen (S110) eines selektiven Wachstumsverfahrens eines Halbleitermaterials (115), so dass das Halbleitermaterial (115) über den zweiten Bereichen (106) der ersten Hauptoberfläche (110) aufwächst.