公开(公告)号：FR3116618A1

公开(公告)日：2022-05-27

申请号：FR2011963

申请日：2020-11-20

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA ,  ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS

Inventor： GASIOT GILLES ,  TROCHUT SEVERIN ,  LE NEEL OLIVIER ,  MALHERBE VICTOR

IPC: G01T1/17

Abstract: Détecteur de rayons X La présente description concerne un détecteur de rayons X (20) comprenant : - un premier circuit électronique (22) comprenant un premier transistor bipolaire de type NPN (23) ; et - un deuxième circuit (26) configuré pour comparer une tension (SG) du circuit électronique à une valeur de référence (Sref) sensiblement égale à la valeur de ladite tension (SG) lorsque le premier circuit (22) a reçu une quantité seuil de rayons X. Figure pour l'abrégé : Fig. 2

公开(公告)号：FR3104321A1

公开(公告)日：2021-06-11

申请号：FR1914079

申请日：2019-12-10

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA ,  ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS

Inventor： LE NEEL OLIVIER ,  MONFRAY STEPHANE

IPC: H01L27/146 ,  H01L31/0232 ,  H01L31/18

Abstract: Capteur de lumière La présente description concerne un capteur de lumière (1) comprenant des pixels (Pix1, Pix2) comportant chacun une zone de photoconversion (PD1, PD2), dans lequel un premier (Pix2) desdits pixels comprend un premier filtre (F2) à résonance de Fano et un deuxième desdits pixels (Pix1) est dépourvu de filtre à résonance de Fano. Figure pour l'abrégé : Fig. 1

公开(公告)号：FR3114169A1

公开(公告)日：2022-03-18

申请号：FR2009213

申请日：2020-09-11

Applicant: ST MICROELECTRONICS CROLLES 2 SAS ,  ST MICROELECTRONICS SA

Inventor： LE NEEL OLIVIER ,  ZOLL STÉPHANE ,  MONFRAY STÉPHANE

IPC: G02B5/10 ,  H01L21/02

Abstract: Filtre optique (FLT1) comportant : une couche de support (CS) comprenant un premier matériau (MAT1), un réseau périodique (RP) de plots disposés sur la couche de support selon un motif périodique paramétré par des dimensions caractéristiques (H, D, P), les plots comprenant un deuxième matériau (MAT2), une couche comprenant un troisième matériau (MAT3) englobant le réseau périodique de plots et recouvrant la couche de support, le troisième matériau ayant un indice optique différent d’un indice optique du deuxième matériau. Dans lequel les dimensions caractéristiques du réseau périodique de plots sont inférieures à une longueur d’onde parasite et configurées pour réfléchir sélectivement la lumière à la longueur d’onde parasite sur le réseau périodique de plots. Figure pour l’abrégé : Fig 1E

公开(公告)号：FR3103033A1

公开(公告)日：2021-05-14

申请号：FR1912499

申请日：2019-11-07

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA ,  ST MICROELECTRONICS RES & DEV LTD

Inventor： LE NEEL OLIVIER ,  PRICE ANDY ,  HALLIDAY WILLIAM

IPC: G01K7/00 ,  G02B27/00

Abstract: État d'un système optique La présente description concerne un procédé comprenant les étapes successives suivantes : a) déterminer une variation de la température d'un élément optique (2), ladite variation de température résultant d'une phase d'illumination de l'élément optique par un faisceau laser (3) traversant une zone de l'élément optique ; b) comparer la variation déterminée à l'étape a) à au moins un seuil prédéterminé ; et c) déduire de l'étape b) des informations sur l'état de l'élément optique et d'une source (1) du faisceau laser. Figure pour l'abrégé : Fig. 1