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公开(公告)号:FR2923080A1
公开(公告)日:2009-05-01
申请号:FR0707526
申请日:2007-10-26
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: DUNNE BRENDAN
IPC: H01L21/768 , H01L23/498 , H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un procédé de formation d'un via dans une plaquette de semi-conducteur (1"), comprenant les étapes consistant à pratiquer une tranchée (401) sur une face avant de la plaquette, la tranchée délimitant un périmètre fermé, remplir la tranchée avec un matériau diélectrique (402), amincir la plaquette par abrasion de sa face arrière, jusqu'à atteindre au moins le fond de la tranchée, et graver le semi-conducteur s'étendant à l'intérieur du périmètre fermé délimité par la tranchée, de manière à faire apparaitre une cavité (408) dont la paroi est revêtue par le matériau diélectrique (402).
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公开(公告)号:FR2922682A1
公开(公告)日:2009-04-24
申请号:FR0707409
申请日:2007-10-23
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , ST MICROELECTRONICS R&D LTD
Inventor: DUNNE BRENDAN , CHANNON KEVIN , CHRISTISON ERIC , NICOL ROBERT
IPC: H01L21/768 , H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un procédé de fabrication d'un micromodule comprenant des étapes de : réalisation d'un circuit intégré (11a) sur une face active (11b) d'une microplaquette (11) en un matériau semi-conducteur, réalisation d'un via (14) traversant la microplaquette (11), relié électriquement au circuit intégré (11a), et insertion de la microplaquette dans un boîtier (2) comportant une cavité (30) et un élément électriquement conducteur (31), la face active de la microplaquette étant disposée vers le fond de la cavité, formation sur au moins une partie d'une face latérale de la microplaquette d'une couche latérale conductrice (16a, 19a) en un matériau électriquement conducteur, reliée électriquement à un élément conducteur (16b) de la face arrière (11c) de la microplaquette, et réalisation d'une connexion entre la couche latérale conductrice et l'élément conducteur (31), en déposant une matière électriquement conductrice dans la cavité (30). Application de l'invention aux imageurs CMOS.
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公开(公告)号:FR2935070A1
公开(公告)日:2010-02-19
申请号:FR0804592
申请日:2008-08-14
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: DUNNE BRENDAN , GAGLIANO OLIVIER
IPC: H01L27/146 , G02B3/00 , G02B5/20 , H01L31/0232
Abstract: L'invention concerne un imageur (110) comprenant des zones photosensibles (12) et une matrice d'éléments colorés (E1-E3) réalisant une fonction de filtrage d'une lumière incidente (LR) dirigée vers les zones photosensibles. Selon l'invention, les éléments de la matrice d'éléments colorés présentent une surface supérieure convexe et réalisent également une fonction de microlentilles de convergence par rapport à la lumière incidente.
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公开(公告)号:FR2894035A1
公开(公告)日:2007-06-01
申请号:FR0512137
申请日:2005-11-30
Inventor: DUNNE BRENDAN , FOSSATI CAROLINE , GAGLIANO OLIVIER
IPC: G02B3/00 , H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un imageur CMOS comprenant une matrice de photosites et une matrice de microlentilles, dans lequel la matrice de microlentilles comprend des microlentilles d'un premier type (L1) et des microlentilles d'un second type (L2), les microlentilles du premier type (L1) sont réalisées suivant un premier gabarit circulaire (G1) présentant un premier rayon (R1), les microlentilles du second type (L2) sont réalisées suivant un second gabarit circulaire (G2) présentant un second rayon (R2) inférieur au premier rayon (R1), et les premier (G1) et second (G2) gabarits présentent des zones de recouvrement. Avantage : réalisation d'un imageur CMOS ayant un taux de remplissage élevé.
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公开(公告)号:FR2938970A1
公开(公告)日:2010-05-28
申请号:FR0806644
申请日:2008-11-26
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: DUNNE BRENDAN
IPC: H01L21/768 , H01L23/48
Abstract: Des modes de réalisation de la présente invention concernent un procédé pour empiler et interconnecter des circuits intégrés, comprenant des étapes consistant à prévoir au moins deux substrats (10, 10', 10"), former dans chaque substrat au moins un circuit intégré (30, 30', 30") et au moins une zone conductrice (50, 51) connectée au circuit intégré, assembler les substrats puis pratiquer au moins un trou à travers les substrats assemblés de telle sorte que le trou passe au moins partiellement à travers les zones conductrices, et remplir le trou d'un matériau conducteur pour obtenir une colonne conductrice (81) qui est en contact électrique latéral avec les zones conductrices (50, 51).
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公开(公告)号:FR2935070B1
公开(公告)日:2010-12-24
申请号:FR0804592
申请日:2008-08-14
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: DUNNE BRENDAN , GAGLIANO OLIVIER
IPC: H01L27/146 , G02B3/00 , G02B5/20 , H01L31/0232
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