公开(公告)号：FR3092402A1

公开(公告)日：2020-08-07

申请号：FR1900935

申请日：2019-01-31

Applicant: ST MICROELECTRONICS SA ,  STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS

Inventor： LECAT--MATHIEU DE BOISSAC CAPUCINE ,  ABOUZEID FADY ,  GASIOT GILLES ,  ROCHE PHILIPPE ,  MALHERBE VICTOR

IPC: G01R29/02

Abstract: Mesure de la durée d'une impulsion La présente description concerne un dispositif (1) comprenant : un premier circuit (11) comportant une première chaine d'étages (113a) identiques définissant des première et deuxième lignes à retard ; un deuxième circuit (14) comportant une deuxième chaine d'étages (113b) identiques aux étages de la première chaine, la deuxième chaine définissant des troisième et quatrième lignes à retard ; et un troisième circuit (13) reliant sélectivement la troisième ligne à retard, la quatrième ligne à retard ou une première entrée (133) du troisième circuit à une même entrée (112) du premier circuit (11). Figure pour l'abrégé : Fig. 1

公开(公告)号：FR3049765A1

公开(公告)日：2017-10-06

申请号：FR1652999

申请日：2016-04-05

Applicant: STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS

Inventor： GASIOT GILLES ,  MALHERBE VICTOR ,  CLERC SYLVAIN

IPC: H01L23/552 ,  G11C29/52

Abstract: L'invention concerne un dispositif logique durci vis à vis des rayonnements comprenant : un premier transistor à canal n (206) couplé par ses nœuds conducteurs principaux entre un noeud de sortie (Z) d'un dispositif logique (202) et un rail d'alimentation en tension (VDD) ; et un premier transistor à canal p (208) couplé par ses nœuds conducteurs principaux entre le noeud de sortie (Z) du dispositif logique (202) et un rail de tension de référence, dans lequel les grilles du premier transistor à canal n et du transistor à canal p (206, 208) sont couplées au noeud de sortie (Z).

公开(公告)号：FR3047565A1

公开(公告)日：2017-08-11

申请号：FR1650947

申请日：2016-02-05

Applicant: STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS

Inventor： CLERC SYLVAIN ,  GASIOT GILLES

IPC: G01R31/3183

Abstract: Le procédé de test d'une chaîne de bascules (CB) comprend une génération d'un signal de référence (SR) à partir d'un motif de test (MOT) cycliquement rebouclé au rythme d'un signal d'horloge (SH), une propagation du signal de référence (SR) à travers la chaîne de bascules (CB) au rythme du signal d'horloge (SH) de façon à générer un signal de test (ST) en sortie de la chaîne (CB), une comparaison effectuée au rythme du signal d'horloge (SH) entre le signal de test (ST) et le signal de référence (SR) retardé d'un retard prenant en compte le nombre (N) de bascules de la chaîne (CB) et la longueur (K) du motif de test (MOT), et une génération d'un signal de sortie (SS) au rythme du signal d'horloge (SH) dont la valeur dépend du résultat de la comparaison.