une couche métallique supérieure continue CMS située au niveau de métallisation supérieur et comportant sur sa face supérieure une zone pour le soudage d'un fil de connexion, et une structure de renfort STR située sous la zone de soudage et comportant au moins une couche métallique discontinue CMD4 située au niveau de métallisation immédiatement inférieur, des vias métalliques VS reliant cette couche métallique discontinue à la surface inférieure de la couche métallique supérieure, et un enrobage isolant OX enrobant ladite couche métallique discontinue et ses discontinuités ainsi que les espaces intervias entre ces deux couches métalliques.
Abstract:
L'invention concerne un procédé de fabrication d'un résonateur comprenant les étapes suivantes: former sur un substrat isolant (5), une première portion (6) d'un matériau conducteur et une deuxième portion d'un autre matériau posée sur la première portion; former une couche isolante dont la surface supérieure affleure au niveau de la partie supérieure de la deuxième portion; former par une succession de dépôts et de gravures une poutre (3) d'un matériau conducteur passant au-dessus de la deuxième portion, les extrémités de la poutre étant posées sur la couche isolante de part et d'autre de la deuxième portion, la deuxième portion étant découverte d'un côté et de l'autre de la poutre, une troisième portion (1) d'un matériau piézoélectrique posée sur la poutre et une quatrième portion (2) d'un matériau conducteur posée sur la troisième portion au-dessus de la partie de la poutre située au-dessus de la deuxième portion; éliminer la deuxième portion.
Abstract:
L'invention concerne un procédé de fabrication d'un contact (27) entre un substrat semiconducteur (10) et une couche de silicium polycristallin (20) dopée déposée sur le substrat (10) avec interposition d'une couche isolante (19), caractérisé en ce que l'on implante à travers la couche de silicium polycristallin (20) des éléments propres à rendre la couche isolante (19) perméable à la migration de dopants en provenance de la couche de silicium polycristallin (20). L'invention concerne également un procédé de fabrication d'un circuit intégré comprenant notamment un transistor MOS à canal d'un premier type de conductivité et un transistor bipolaire du type à émetteur-collecteur d'un second type de conductivité comportant une zone de contact selon l'invention.
Abstract:
L'invention concerne un dispositif comprenant un résonateur (1) formé d'une couche piézoélectrique (3) en sandwich entre deux électrodes métalliques (4, 5), le résonateur étant posé sur une poutre en suspension, le dispositif comprenant des moyens (20, 21, 22, 23) pour déformer ladite poutre (2) par effet bilame.
Abstract:
L'invention concerne un dispositif comprenant un résonateur (1) formé d'une couche piézoélectrique (3) en sandwich entre deux électrodes métalliques (4, 5), le résonateur étant posé sur une poutre en suspension, le dispositif comprenant des moyens (20, 21, 22, 23) pour déformer ladite poutre (2) par effet bilame.
Abstract:
L'invention concerne un procédé de fabrication d'un résonateur comprenant les étapes suivantes: former sur un substrat isolant (5), une première portion (6) d'un matériau conducteur et une deuxième portion d'un autre matériau posée sur la première portion; former une couche isolante dont la surface supérieure affleure au niveau de la partie supérieure de la deuxième portion; former par une succession de dépôts et de gravures une poutre (3) d'un matériau conducteur passant au-dessus de la deuxième portion, les extrémités de la poutre étant posées sur la couche isolante de part et d'autre de la deuxième portion, la deuxième portion étant découverte d'un côté et de l'autre de la poutre, une troisième portion (1) d'un matériau piézoélectrique posée sur la poutre et une quatrième portion (2) d'un matériau conducteur posée sur la troisième portion au-dessus de la partie de la poutre située au-dessus de la deuxième portion; éliminer la deuxième portion.