Tranchée d'isolation et procédé de réalisation
    2.
    发明公开
    Tranchée d'isolation et procédé de réalisation 审中-公开
    Isolationsgraben und dessen Herstellungsverfahren

    公开(公告)号:EP1304734A3

    公开(公告)日:2010-01-27

    申请号:EP02292537.4

    申请日:2002-10-15

    CPC classification number: H01L21/76229 H01L21/764

    Abstract: Il s'agit d'une tranchée d'isolement creusée dans un substrat semi-conducteur (1) comportant des flancs (2) et un fond (3). Sur les flancs (2) sont rapportés des espaceurs (7) en vis à vis, ils visent à créer un canal (14) réduit entre les flancs (2). Le fond (3) et les espaceurs (7) sont tapissés d'un matériau électriquement isolant (8) délimitant une cavité vide fermée (9).
    Application à la fabrication de circuits intégrés.

    Abstract translation: 在包含一些壁(2)和底部(3)的半导体衬底(1)中的中空绝缘沟槽包括一些在壁上相对地构成的间隔物(7),以在壁之间形成小的通道(14) 。 间隔件和底部覆盖有限定封闭的空腔(9)的电绝缘材料(8)。 <?>独立权利要求也包括在内:(a)包含这种绝缘沟槽的集成电路; (b)在半导体衬底中制造这种绝缘沟槽的方法。

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