一种应用于图像传感器锁相环的线性相位误差比较器

    公开(公告)号:CN113162613B

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202110581803.0

    申请日:2021-05-24

    Abstract: 本发明涉及模拟集成电路技术领域,提供一种应用于图像传感器锁相环的线性相位误差比较器,包括:斜坡发生器和控制信号生成电路;所述控制信号生成电路,用于对输入参考时钟信号和输出时钟信号进行采样和比较,生成包含有相位差信息的控制信号,用于斜坡发生器的充放电控制;所述斜坡发生器,包括:基准电流源、电压跟随器、第一电容、基准电压源、第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、第五PMOS晶体管、第六PMOS晶体管、第七PMOS晶体管、第八PMOS晶体管、第九PMOS晶体管、第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管。本发明能够实现线性的,连续的相位误差比较,降低相位误差比较器的量化噪声,实现低噪声锁相环。

    一种应用于图像传感器锁相环的线性相位误差比较器

    公开(公告)号:CN113162613A

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN202110581803.0

    申请日:2021-05-24

    Abstract: 本发明涉及模拟集成电路技术领域,提供一种应用于图像传感器锁相环的线性相位误差比较器,包括:斜坡发生器和控制信号生成电路;所述控制信号生成电路,用于对输入参考时钟信号和输出时钟信号进行采样和比较,生成包含有相位差信息的控制信号,用于斜坡发生器的充放电控制;所述斜坡发生器,包括:基准电流源、电压跟随器、第一电容、基准电压源、第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、第五PMOS晶体管、第六PMOS晶体管、第七PMOS晶体管、第八PMOS晶体管、第九PMOS晶体管、第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管。本发明能够实现线性的,连续的相位误差比较,降低相位误差比较器的量化噪声,实现低噪声锁相环。

    一种自校准的高精度数字时间转换电路

    公开(公告)号:CN113552793A

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202110841898.5

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明提供一种自校准的高精度数字时间转换电路。本发明包括:数字模拟转换器DAC、电容阵列、由多个开关组成的开关阵列及反相器;数字模拟转换器DAC连接电容阵列;电容阵列与反相器相连;反相器连接输出端;数字模拟转换器DAC、电容阵列、反相器及接地端分别设有开关;电容阵列,包括固定容值电容cap和可变容值电容cap_vary;数字模拟转换器DAC根据输入的代表时间延迟的数字控制字对电容阵列进行充电,并将基准电流源的电流变化反馈给可变电容cap_vary,从而对电容阵列的电容值进行补偿校准;反相器根据补偿校准后的电容阵列的电容值输出时钟信号。解决了现有技术中,基准电流受温度、工艺、电压变化的影响,导致输出时钟信号发生越位偏移的技术问题。

    一种自校准的高精度数字时间转换电路

    公开(公告)号:CN113552793B

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202110841898.5

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明提供一种自校准的高精度数字时间转换电路。本发明包括:数字模拟转换器DAC、电容阵列、由多个开关组成的开关阵列及反相器;数字模拟转换器DAC连接电容阵列;电容阵列与反相器相连;反相器连接输出端;数字模拟转换器DAC、电容阵列、反相器及接地端分别设有开关;电容阵列,包括固定容值电容cap和可变容值电容cap_vary;数字模拟转换器DAC根据输入的代表时间延迟的数字控制字对电容阵列进行充电,并将基准电流源的电流变化反馈给可变电容cap_vary,从而对电容阵列的电容值进行补偿校准;反相器根据补偿校准后的电容阵列的电容值输出时钟信号。解决了现有技术中,基准电流受温度、工艺、电压变化的影响,导致输出时钟信号发生越位偏移的技术问题。

Patent Agency Ranking