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公开(公告)号:CN1610138B
公开(公告)日:2010-05-12
申请号:CN200410086095.X
申请日:2004-10-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L33/32 , H01L21/0237 , H01L21/02389 , H01L21/02458 , H01L21/02521 , H01L21/0254 , H01L21/02573 , H01L21/02625 , H01L29/155 , H01L29/2003 , H01L29/66462 , H01L33/02 , Y10S438/94 , Y10T428/24926
Abstract: 本发明提供一种防止碱金属扩散的半导体器件。在III族元素氮化物结晶衬底上层叠有III族元素氮化物结晶层的III族元素氮化物半导体器件中,所述衬底是在含有碱金属及碱土类金属之中的至少一种的熔融液中,通过使含有氮的气体中的所述氮和III族元素反应并结晶化而制成,在所述衬底上形成有薄膜层,其中,在所述衬底中含有的杂质在所述薄膜层中的扩散系数比该杂质在所述衬底中的扩散系数更小。
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公开(公告)号:CN1610138A
公开(公告)日:2005-04-27
申请号:CN200410086095.X
申请日:2004-10-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H01L33/32 , H01L21/0237 , H01L21/02389 , H01L21/02458 , H01L21/02521 , H01L21/0254 , H01L21/02573 , H01L21/02625 , H01L29/155 , H01L29/2003 , H01L29/66462 , H01L33/02 , Y10S438/94 , Y10T428/24926
Abstract: 本发明提供一种防止碱金属扩散的半导体器件。在III族元素氮化物结晶衬底上层叠有III族元素氮化物结晶层的III族元素氮化物半导体器件中,所述衬底是在含有碱金属及碱土类金属之中的至少一种的熔融液中,通过使含有氮的气体中的所述氮和III族元素反应并结晶化而制成,在所述衬底上形成有薄膜层,其中,在所述衬底中含有的杂质在所述薄膜层中的扩散系数比该杂质在所述衬底中的扩散系数更小。
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