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公开(公告)号：CN102939633A
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：CN201080067384.9
申请日：2010-06-16
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01F3/12 , H01F3/14 , H01F27/24 , H01F27/25 , H01F27/255
Abstract: 本发明的目的在于在电抗器或变压器的铁芯中提供一种铁芯构造，其特征在于，由中空状铁芯和棒状铁芯构成，可设为任意腿数的铁芯。所述铁芯构造具备：形成为中空状的多个中空状铁芯；和在所述多个中空状铁芯之间，按照使所述多个中空状铁芯的中空面对置的方式设置的多个棒状铁芯，在铁芯的一部分上卷绕线圈。
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公开(公告)号：CN109451778A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201680087255.3
申请日：2016-07-08
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H02M7/48
CPC classification number: H02M7/48
Abstract: 在电力变换器中为了确保不同的电位间的绝缘距离以及沿面距离而使用了空气绝缘的现有技术中，随着输入电压以及输出电压被高压化而招致电力变换器的大型化。另外，在为了实现电力变换器小型化而从空气绝缘变为油绝缘的情况下，存在难以进行构件更换这样的课题。将构成电力变换器的各构件(用于连接半导体元件、平滑电容器、半导体元件的驱动电路以及各构件的布线或者金属导体板)进行分割，且收纳于填充有绝缘油的多个单独箱，连接各单独箱而构成的电力变换器收纳于填充有绝缘油的框体箱，从而实现电力变换器的小型化。通过分割成多个单独箱，从而提高构件更换的作业性。
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公开(公告)号：CN108880279A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810338346.0
申请日：2018-04-16
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H02M7/00
Abstract: 本发明涉及电力转换装置及电力转换装置的诊断方法。为了检测用于电力转换器的直流平滑电容器的静电容量的下降而定期运行/停止电力转换器，根据平滑电容器的充电/放电时间计算静电容量，因此会有在持续运行电力转换器的状态下无法检测静电容量的劣化状态的问题。在将电力从交流转换为直流或从直流转换为交流的电力转换器中，该电力转换装置由多个电力转换器构成，该电力转换器个别具有平滑电容器，且该电力转换器与共通的直流电压部连接，具有对流入连接各电力转换器的直流电压部的电流进行观测的传感器或对其进行推定的功能，通过解析该直流电压部的电流能够在保持运行电力转换器的状态下检测搭载于各电力转换器的直流平滑电容器的劣化状态。
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公开(公告)号：CN107070268A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710057561.9
申请日：2017-01-26
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明涉及一种电力转换机装置。该电力转换装置具备确保大的静电容量并且实现小型化的滤波电容器。该电力转换装置由直流电源、与上述直流电源连接的第一滤波电容器、与上述第一滤波电容器并联连接的第二滤波电容器、与上述第一滤波电容器以及上述第二滤波电容器连接的开关元件而构成，在该电力转换装置中具备第一滤波电容器比第二滤波电容器的脉动耐量大的电容器。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108880279B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201810338346.0
申请日：2018-04-16
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H02M7/00
Abstract: 本发明涉及电力转换装置及电力转换装置的诊断方法。为了检测用于电力转换器的直流平滑电容器的静电容量的下降而定期运行/停止电力转换器，根据平滑电容器的充电/放电时间计算静电容量，因此会有在持续运行电力转换器的状态下无法检测静电容量的劣化状态的问题。在将电力从交流转换为直流或从直流转换为交流的电力转换器中，该电力转换装置由多个电力转换器构成，该电力转换器个别具有平滑电容器，且该电力转换器与共通的直流电压部连接，具有对流入连接各电力转换器的直流电压部的电流进行观测的传感器或对其进行推定的功能，通过解析该直流电压部的电流能够在保持运行电力转换器的状态下检测搭载于各电力转换器的直流平滑电容器的劣化状态。
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公开(公告)号：CN107482891B
公开(公告)日：2019-10-01
申请号：CN201710256017.7
申请日：2017-04-19
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明提供一种电力变换装置以及电力变换方法，在电力变换器中存在难以同时实现小型化以及抑制在短路事故时事故相对健全相造成的影响这样的课题。本发明的目的在于使电力变换器小型化以及抑制事故相对健全相造成的影响，能够在事故发生时通过仅更换事故相来修复。在由半导体开关元件、电容器、布线以及熔丝构成一相的电力变换器中，针对各相的每一个相并联连接多个电容器，熔丝被插入于将该电容器并联连接的布线的一部分，能够通过这样的结构使电力变换器小型化，且抑制在短路事故时事故相对健全相造成的影响，能够通过仅更换事故相的部件来修复。
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公开(公告)号：CN107482891A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710256017.7
申请日：2017-04-19
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 本发明提供一种电力变换装置以及电力变换方法，在电力变换器中存在难以同时实现小型化以及抑制在短路事故时事故相对健全相造成的影响这样的课题。本发明的目的在于使电力变换器小型化以及抑制事故相对健全相造成的影响，能够在事故发生时通过仅更换事故相来修复。在由半导体开关元件、电容器、布线以及熔丝构成一相的电力变换器中，针对各相的每一个相并联连接多个电容器，熔丝被插入于将该电容器并联连接的布线的一部分，能够通过这样的结构使电力变换器小型化，且抑制在短路事故时事故相对健全相造成的影响，能够通过仅更换事故相的部件来修复。
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公开(公告)号：CN102783014B
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201080064513.9
申请日：2010-03-10
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H02P23/00
CPC classification number: B60L3/003 , B60L3/12 , B60L7/14 , B60L7/26 , B60L11/1857 , B60L15/2009 , B60L2240/36 , B60L2240/421 , B60L2240/423 , B60L2250/16 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H02P27/06 , H02P29/68 , Y02T10/642 , Y02T10/644 , Y02T10/645 , Y02T10/70 , Y02T10/7005 , Y02T10/705 , Y02T10/72 , Y02T10/7275 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种功率变换装置，其在满足安全性的基础上实施在特定的开关元件中流过恒定电流的控制，可以进行更准确的开关元件的寿命判定，并且可以减少温度检测器的数量。为了解决上述课题，本发明设置了使制动装置动作或者确认制动机构正在动作的机构，在制动机构的制动转矩的范围内，在旋转坐标系的d轴和q轴上流过电流，对希望的元件提供希望的电流。而且，限于在上侧焊锡层的龟裂或线焊的剥落容易发生的部分的芯片和下侧焊锡层的龟裂容易发生的芯片中安装温度检测器。根据本发明，即使用少量的温度检测器也可以进行半导体模块的准确的寿命评价。
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公开(公告)号：CN102783014A
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN201080064513.9
申请日：2010-03-10
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: H02P23/00
CPC classification number: B60L3/003 , B60L3/12 , B60L7/14 , B60L7/26 , B60L11/1857 , B60L15/2009 , B60L2240/36 , B60L2240/421 , B60L2240/423 , B60L2250/16 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H02P27/06 , H02P29/68 , Y02T10/642 , Y02T10/644 , Y02T10/645 , Y02T10/70 , Y02T10/7005 , Y02T10/705 , Y02T10/72 , Y02T10/7275 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种功率变换装置，其在满足安全性的基础上实施在特定的开关元件中流过恒定电流的控制，可以进行更准确的开关元件的寿命判定，并且可以减少温度检测器的数量。为了解决上述课题，本发明设置了使制动装置动作或者确认制动机构正在动作的机构，在制动机构的制动转矩的范围内，在旋转坐标系的d轴和q轴上流过电流，对希望的元件提供希望的电流。而且，限于在上侧焊锡层的龟裂或线焊的剥落容易发生的部分的芯片和下侧焊锡层的龟裂容易发生的芯片中安装温度检测器。根据本发明，即使用少量的温度检测器也可以进行半导体模块的准确的寿命评价。
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