非Si掺杂无InGaN黄光LED材料及其制作方法

    公开(公告)号:CN105070801B

    公开(公告)日:2018-03-06

    申请号:CN201510508722.2

    申请日:2015-08-18

    Abstract: 本发明公开了一种非Si掺杂无InGaN光LED材料及其制作方法。其生长步骤是:1)将r面蓝宝石衬底置于MOCVD反应室中进行热处理;2)在热处理后的衬底上生长厚度为10‑200nm的低温成核层;3)在成核层之上生长厚度为0.2‑100μm,O掺杂浓度为2×1017cm‑3~2×1019cm‑3,C掺杂浓度为1×1017cm‑3~1×1019cm‑3的高温n型GaN有源层;4)在有源层之上生长厚度为0.01‑10μm,Mg掺杂浓度为1×1017cm‑3~5×1019cm‑3的高温p型GaN层。本发明具有工艺简单,成本低,发光效率高的优点,可用于制作非极性a面GaN黄光发光二极管。

    基于m面Al2O3图形衬底的半极性AlN薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN106816363B

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201710021593.3

    申请日:2017-01-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于m面Al2O3衬底的半极性AlN薄膜及制备方法,主要解决现有技术工艺复杂,制作周期长和费用昂贵的问题。该薄膜自下而上包括:200‑500μm厚的m面Al2O3衬底层、20‑100nm厚的AlN成核层、1000‑3000nm厚的Al组分渐变AlGaN层和500‑1000nm厚的半极性AlN层,其中m面Al2O3衬底层的表面设有通过金刚石砂纸打磨形成的锯齿条纹,Al组分渐变AlGaN层的Al组分从0.01渐变至1,本发明减小应力,简化图形衬底制作的工艺流程,缩短制作周期和减小费用成本,提高了AlN材料的质量,可用于制作半极性AlN基的紫外和深紫外半导体器件。

    基于c面SiC图形衬底的极性c面AlN薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN106784227B

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201710021289.9

    申请日:2017-01-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于c面SiC图形衬底的极性c面AlN薄膜,主要解决现有技术工艺复杂,制作周期长和费用高的问题。其自下而上包括:100‑500μm厚的c面SiC衬底层、10‑150nm厚的GaN成核层、1000‑6000nm厚的Al组分渐变AlGaN层和500‑3000nm厚的极性c面AlN层,其中c面SiC衬底层的表面设有由金刚石砂纸打磨形成的衬底条纹,以提高AlN材料的质量;Al组分渐变AlGaN层的Al组分从5%渐变至100%,用以降低AlN材料的应力。本发明的制备过程简单,缩短了制作周期和减小费用成本,可用于制作极性c面AlN基的紫外和深紫外半导体器件。

    基于c面蓝宝石衬底上Ga极性黄光LED结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN105140365B

    公开(公告)日:2018-03-06

    申请号:CN201510508696.3

    申请日:2015-08-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于c面蓝宝石衬底上Ga极性黄光LED材料及其制作方法。其生长步骤是:1)对c面蓝宝石进行热处理;2)在热处理后衬底上生长厚度为10‑200nm的低温成核层;3)在成核层上生长厚度为0.2‑100μm,Si掺杂浓度为5×1017cm‑3~5×1019cm‑3,C掺杂浓度为1×1017cm‑3~4×1019cm‑3的高温n型GaN有源层;4)在有源层上生长厚度为5‑200nm的AlGaN阻挡层;5)在阻挡层上生长厚度为0.01‑10μm,Mg掺杂浓度为1×1017cm‑3~5×1019cm‑3的高温p型GaN层。本发明工艺简单,成本低,可用于制作Ga极性GaN黄光发光二极管。

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