生产碲化镉或碲锌镉单晶体的方法

    公开(公告)号:CN103114335A

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN201110365464.9

    申请日:2011-11-17

    Abstract: 本发明涉及一种生产碲化镉或碲锌镉单晶体的方法,该方法包括:形成一个包括晶体生长区域和原位退火区域的整体温度场;将一个装有富碲材料和碲化镉或碲锌镉多晶材料的坩埚从所述晶体生长区域中通过,在该过程中,坩埚内的富碲材料熔化形成熔区,碲化镉或碲锌镉多晶材料逐渐溶解到所述熔区中,然后冷却析出碲化镉或碲锌镉单晶体;以及,将所述坩埚从所述原位退火区域中通过,在该过程中对所述晶体生长区域中生成的碲化镉或碲锌镉单晶体进行退火,以降低所述单晶体中的碲夹杂含量。

    用于降低表面粗糙度的方法

    公开(公告)号:CN109868447B

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN201711250097.1

    申请日:2017-12-01

    Abstract: 通过以下步骤修改制品的表面:在第一温度使初始表面渗铝以形成第一渗铝层以及次层,移除该第一渗铝层的至少一部分,在第二温度使该次层渗铝以形成第二渗铝层,以及最后移除该第二渗铝层的至少一部分以形成经处理表面。该第二温度低于该第一温度,并且该经处理表面的粗糙度小于该初始表面的粗糙度。

    用于降低表面粗糙度的方法

    公开(公告)号:CN109868447A

    公开(公告)日:2019-06-11

    申请号:CN201711250097.1

    申请日:2017-12-01

    Abstract: 通过以下步骤修改制品的表面:在第一温度使初始表面渗铝以形成第一渗铝层以及次层,移除该第一渗铝层的至少一部分,在第二温度使该次层渗铝以形成第二渗铝层,以及最后移除该第二渗铝层的至少一部分以形成经处理表面。该第二温度低于该第一温度,并且该经处理表面的粗糙度小于该初始表面的粗糙度。

    闪烁体、相关检测装置和方法

    公开(公告)号:CN102031113B

    公开(公告)日:2014-02-05

    申请号:CN201010508034.3

    申请日:2010-09-28

    CPC classification number: G01T1/202 C09K11/7774

    Abstract: 本发明提供一种闪烁体,所述闪烁体包含式(Lu1-x-y-zCexInyM1z)2SiO5的组合物,其中M1为Y、Sc、Gd或其组合;0.00001<x<0.05;0.000001<y<0.1;并且0≤z<0.999989。本发明还提供包含上述闪烁体的晶体结构的检测装置。本发明还提供一种用上述检测装置检测能量的方法,所述方法包括通过闪烁体接收辐射;并用连接到闪烁体的光子检测器检测光子。

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