正型光阻组合物及图案形成方法

    公开(公告)号:CN101943864A

    公开(公告)日:2011-01-12

    申请号:CN201010221430.8

    申请日:2010-06-30

    CPC classification number: G03F7/0395 G03F7/0397

    Abstract: 本发明提供一种正型光阻组合物,其至少含有:(A)基础树脂,其是具有由酸不稳定基保护的酸性官能基的碱不溶性或难溶性的树脂,且在此酸不稳定基脱离时变为碱可溶性;(B)产酸剂;及(C)作为碱性成分的含氮化合物;其特征在于:所述基础树脂含有以下述通式(1)所表示的重复单元,并含有一种或两种以上的以下述通式(2)及/或通式(3)所表示的重复单元,而且,构成所述基础树脂的全部重复单元中,含有70摩尔%以上的以下述通式(1)、通式(2)和通式(3)所表示的重复单元。根据本发明,可以提供一种在用以进行微细加工的光刻,特别是使用KrF激光、极端紫外线、电子束、X射线等作为曝光源的光刻中,耐蚀刻性和解像性优异,即使在基板表面也可以形成良好的图案形状的正型光阻组合物,以及使用此正型光阻组合物的图案形成方法。

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