车辆设备安装结构
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103338954B

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201280007001.8

    申请日:2012-02-02

    CPC classification number: B60L11/18 B60K1/04 B60K2001/0411 B60R16/04

    Abstract: 一种车辆设备安装结构,该车辆设备安装结构将其中容纳了驱动车辆的旋转电机的马达壳体(12)布置在发动机舱(20)中,且包括控制旋转电机的PCU(13)和向PCU供应电力的辅助电池(14)。此结构包括:将PCU固定到马达壳体(12)上的固定部分(22),和将辅助电池(14)连接到通过在压溃方向上压溃而吸收冲击载荷的侧构件(15)。连接部分(23)具有在压溃方向上可移位的可移位构件。辅助电池布置在PCU的车辆前侧上,使得PCU和辅助电池在压溃方向上部分地重叠。辅助电池布置为可响应于冲击载荷而移动经过PCU。

    车辆用设备搭载结构
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103370230B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201280008618.1

    申请日:2012-02-13

    Abstract: 包括作为混合动力车辆(10)的车辆骨架部件的侧面构件(15)、连接2个侧面构件(15)的前横梁(18)、连接在侧面构件(15)上的弹性支承件(16)、配置在PCU(13)的车辆前方侧并经由支承座(23)和固定件(22)安装到前横梁(18)上的辅助电池、安装到前横梁(18)上的散热器(17)、经由发动机支架连接到车辆骨架部件的发动机(11)以及马达壳(12)、从马达壳(12)延伸的车轴(25)、以及经由引导板(19)和连结用的螺栓与马达壳(12)连接的PCU(13)。由此,提供在车辆的碰撞时能够抑制电力控制装置等车辆搭载设备与其他部件碰撞,能够抑制电力控制装置等车辆搭载设备的损伤的车辆设备搭载结构。

    沟槽栅极场效应器件
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1890813A

    公开(公告)日:2007-01-03

    申请号:CN200480036076.4

    申请日:2004-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种通过增大深区(26)和中间区(28)中的少数载流子浓度来降低半导体器件的接通电压的技术。根据本发明的半导体器件包括电极、连接到所述电极的第二导电类型的顶区(36)、所述第二导电类型的深区,以及连接到所述电极的第一导电类型的中间区。部分所述中间区使所述顶区和所述深区隔离。所述半导体器件还包括通过绝缘层与所述中间区的所述部分面对的栅极电极(32)。面对所述栅极电极的所述部分使所述顶区和所述深区隔离。根据本发明的半导体器件还包括形成在所述中间区和/或所述顶区内的势垒区(40)。

    车辆用设备搭载结构
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103370230A

    公开(公告)日:2013-10-23

    申请号:CN201280008618.1

    申请日:2012-02-13

    Abstract: 包括作为混合动力车辆(10)的车辆骨架部件的侧面构件(15)、连接2个侧面构件(15)的前横梁(18)、连接在侧面构件(15)上的弹性支承件(16)、配置在PCU(13)的车辆前方侧并经由支承座(23)和固定件(22)安装到前横梁(18)上的辅助电池、安装到前横梁(18)上的散热器(17)、经由发动机支架连接到车辆骨架部件的发动机(11)以及马达壳(12)、从马达壳(12)延伸的车轴(25)、以及经由引导板(19)和连结用的螺栓与马达壳(12)连接的PCU(13)。由此,提供在车辆的碰撞时能够抑制电力控制装置等车辆搭载设备与其他部件碰撞,能够抑制电力控制装置等车辆搭载设备的损伤的车辆设备搭载结构。

    沟槽栅极场效应器件
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100505302C

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200480036076.4

    申请日:2004-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种通过增大深区(26)和中间区(28)中的少数载流子浓度来降低半导体器件的接通电压的技术。根据本发明的半导体器件包括电极、连接到所述电极的第二导电类型的顶区(36)、所述第二导电类型的深区,以及连接到所述电极的第一导电类型的中间区。部分所述中间区使所述顶区和所述深区隔离。所述半导体器件还包括通过绝缘层与所述中间区的所述部分面对的栅极电极(32)。面对所述栅极电极的所述部分使所述顶区和所述深区隔离。根据本分明的半导体器件还包括形成在所述中间区和/或所述顶区内的势垒区(40)。

    带有电流检测结构的半导体器件

    公开(公告)号:CN1979859A

    公开(公告)日:2007-06-13

    申请号:CN200610162001.1

    申请日:2006-12-07

    Inventor: 堀田幸司

    CPC classification number: H03K17/567 H03K17/081 H03K17/08148 H03K2217/0036

    Abstract: 本发明公开了一种半导体器件,它设有主开关元件区域的主电极、传感器开关元件区域的传感器电极、以及形成于主电极与传感器电极之间的保护器件。当主电极与传感器电极之间产生预定电位差时,保护器件使主电极与传感器电极电连接。这种半导体器件可以处理超额的电压,例如传感器电极与栅极之间产生的ESD,同时还可以防止栅极驱动损耗增大。

    半导体器件
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1316628C

    公开(公告)日:2007-05-16

    申请号:CN200410074196.5

    申请日:2004-09-01

    Abstract: 一种半导体器件及制造方法,是防止在周边区域中发生的半导体器件的热破坏,实现半导体器件的高耐压化。是一种具有已形成了半导体开关元件组的中心区域(M),和已形成了把该中心区域围起来的保护环(38)组的周边区域N的半导体器件,在最外周上形成的半导体开关元件的体区域(34),和在最内周形成的保护环(38)重叠起来地形成,已连接到半导体开关元件组的栅电极(35)上的栅布线(48)中间存在着绝缘层(46)地与体区域(34)和保护环(38的重叠区域(39)对向,上述重叠区域(39)的宽度,是体区域(34)与保护环(38)中的深的一方的深度的1/3以上。

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