内环分瓣轴承高效装配装置

    公开(公告)号:CN111120524A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN202010049574.3

    申请日:2020-01-16

    Abstract: 内环分瓣轴承高效装配装置,包括锁紧罩和套筒,套筒为空心柱状结构,一端加工有空心柱状凸台;锁紧罩为环状槽形结构,端面中心处加工有通孔,通孔位于槽形结构内侧的一端加工有环状凸台;装配时,锁紧罩用于固定待装组合体,套筒空心柱状凸台端面推动轴承内环的端面沿轴运动,到达预装位置时,解除锁紧罩与待装组合体的固定,最终推动待装组合体与预装在轴上的轴承内环组成完整轴承。本发明以工装操作代替手动操作,彻底解决内环分瓣轴承手动装配时内环受力不均的问题,且工装保证轴承内外圈同轴度要求,摆脱对工人技术素质的依赖,提高装配效率和装配质量。

    一种瞄准仪测角偏心误差的优化方法

    公开(公告)号:CN107688707A

    公开(公告)日:2018-02-13

    申请号:CN201710765448.6

    申请日:2017-08-30

    CPC classification number: G06F17/5009

    Abstract: 本发明公开了一种瞄准仪测角偏心误差的优化方法,该优化方法包括如下步骤;参数设定步骤:设定如下的参数,包括偏心误差、测量角度、实际旋转角度及半径等;关系建立步骤:建立各个参数之间的逻辑关系;关系优化步骤:对各个参数之间的逻辑关系进行优化;模型生成步骤:将优化后的各参数之间的逻辑关系作为误差修正模型;误差优化步骤:利用误差修正模型测角,实现对测角偏心误差优化。本发明对瞄准仪光栅码盘的偏心误差建立数学模型,通过数字优化的处理方式克服系统缺陷,从而减小偏心误差对仪器精度和性能的影响,从而提升了瞄准仪测量精度,本发明具有降低光栅码盘的制造和装调难度、缩短生产周期等技术效果。

    内环分瓣轴承高效装配装置

    公开(公告)号:CN111120524B

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202010049574.3

    申请日:2020-01-16

    Abstract: 内环分瓣轴承高效装配装置,包括锁紧罩和套筒,套筒为空心柱状结构,一端加工有空心柱状凸台;锁紧罩为环状槽形结构,端面中心处加工有通孔,通孔位于槽形结构内侧的一端加工有环状凸台;装配时,锁紧罩用于固定待装组合体,套筒空心柱状凸台端面推动轴承内环的端面沿轴运动,到达预装位置时,解除锁紧罩与待装组合体的固定,最终推动待装组合体与预装在轴上的轴承内环组成完整轴承。本发明以工装操作代替手动操作,彻底解决内环分瓣轴承手动装配时内环受力不均的问题,且工装保证轴承内外圈同轴度要求,摆脱对工人技术素质的依赖,提高装配效率和装配质量。

    一种用于强辐射环境下的点温仪测试抗干扰装置

    公开(公告)号:CN114216568A

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202110993746.7

    申请日:2021-08-27

    Abstract: 本发明提出一种用于强辐射环境下的点温仪测试抗干扰装置,属于测量测试技术领域,包括抗干扰装置主体和液冷循环系统,抗干扰装置主体采用不透光材料制成,抗干扰装置主体为空心柱状,包括抗干扰测量光路和换热通道,抗干扰测量光路为贯穿抗干扰装置主体的通孔,换热通道沿抗干扰测量光路轴向设置,液冷循环系统采用比热容大的液态冷却介质,连接换热通道并形成循环回路。本发明可以从物理上隔绝高温辐射加热所带来的强辐射环境对红外点温仪测温精度的影响,并减弱防隔热设备在高温下产生的烟尘阻挡,解决了现有技术存在的问题,具有突出的实质性特点和显著的进步。

    一种压阻式压力传感器灵敏度和非线性解算方法

    公开(公告)号:CN118310675A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202410278040.6

    申请日:2024-03-12

    Abstract: 一种压阻式压力传感器灵敏度和非线性解算方法,实施步骤如下:第一步、数据预处理:根据应变计本体特征进行二维等效,基于膜片受力模型对膜片表面应变分布曲线进行非线性差值;第二步、路径微分矢量叠加:通过路径微分矢量叠加,对应变计电阻条的电阻变化进行解算;第三步、传感器性能解算:根据第二步求解得到的应变计电阻条整体电阻变化,得到传感器的灵敏度和非线性。根据所述方法,可准确、快速的求出应变计在不同位姿条件下的电阻变化,进一步得到灵敏度和非线性数值;并可高效实现压阻式压力传感器的设计制造及校核。

    设备的可靠性评估方法、装置、计算机设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117785517A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311611331.4

    申请日:2023-11-29

    Abstract: 本申请实施例中提供了一种设备的可靠性评估方法、设备的可靠性评估装置、计算机设备和存储介质,涉及电子设备测试技术领域。该方法包括:获取待评估设备集合中各待评估设备的逐阶删失数据;根据逐阶删失数据确定各待评估设备在多个观测时刻对应的失效概率,并基于多个观测时刻以及各观测时刻对应的失效概率确定初始指数分布参数;将初始指数分布参数以及各待评估设备的逐阶删失数据输入至期望最大化EM算法,得到更新迭代后的目标指数分布参数;根据目标指数分布参数对各待评估设备进行可靠性评估分析。本公开可以最大程度的利用设备测试数据的价值,进而提高资源利用率,以及提高对设备可靠性评估的准确性。

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