一种用于强辐射环境下的点温仪测试抗干扰装置

    公开(公告)号:CN114216568A

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202110993746.7

    申请日:2021-08-27

    Abstract: 本发明提出一种用于强辐射环境下的点温仪测试抗干扰装置,属于测量测试技术领域,包括抗干扰装置主体和液冷循环系统,抗干扰装置主体采用不透光材料制成,抗干扰装置主体为空心柱状,包括抗干扰测量光路和换热通道,抗干扰测量光路为贯穿抗干扰装置主体的通孔,换热通道沿抗干扰测量光路轴向设置,液冷循环系统采用比热容大的液态冷却介质,连接换热通道并形成循环回路。本发明可以从物理上隔绝高温辐射加热所带来的强辐射环境对红外点温仪测温精度的影响,并减弱防隔热设备在高温下产生的烟尘阻挡,解决了现有技术存在的问题,具有突出的实质性特点和显著的进步。

    设备的可靠性评估方法、装置、计算机设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117785517A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311611331.4

    申请日:2023-11-29

    Abstract: 本申请实施例中提供了一种设备的可靠性评估方法、设备的可靠性评估装置、计算机设备和存储介质,涉及电子设备测试技术领域。该方法包括:获取待评估设备集合中各待评估设备的逐阶删失数据;根据逐阶删失数据确定各待评估设备在多个观测时刻对应的失效概率,并基于多个观测时刻以及各观测时刻对应的失效概率确定初始指数分布参数;将初始指数分布参数以及各待评估设备的逐阶删失数据输入至期望最大化EM算法,得到更新迭代后的目标指数分布参数;根据目标指数分布参数对各待评估设备进行可靠性评估分析。本公开可以最大程度的利用设备测试数据的价值,进而提高资源利用率,以及提高对设备可靠性评估的准确性。

    一种基于仿真模拟的微电子封装结构寿命计算方法

    公开(公告)号:CN115618674A

    公开(公告)日:2023-01-17

    申请号:CN202211246938.2

    申请日:2022-10-12

    Abstract: 本申请提供了一种基于仿真模拟的微电子封装结构寿命计算方法,该方法通过建立微电子封装结构有限元模型,在保证计算精度的前提下,尽量简化模型有限元网格模型。通过仿真分析确定微电子结构的失效模型,对关心区域节点的输出功率谱密度数据进行批处理,采用频域法的窄带分布法和宽带分布法对全部焊点进行寿命分析,确定宽窄带分布法的适用范围与焊点位置关系,最终形成基于仿真的随机振动载荷下微电子封装结构寿命计算方法。从而可以在设计阶段或者随机振动疲劳试验前,开展预示分析,提高实物试验的效率和水平,支撑飞行器电子设备的研制需求。

    设备的寿命评估方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117828823A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311611419.6

    申请日:2023-11-29

    Abstract: 本申请实施例中提供了一种设备的寿命评估方法、设备的寿命评估装置、计算机存储介质和电子设备,涉及仪器设备可靠性评估技术领域。该方法包括:获取多个目标设备样本的测试数据,测试数据中至少包含多个设备使用时间、各设备使用时间下处于第一状态的第一目标设备数量以及处于第二状态的第二目标设备数量;基于测试数据确定各设备使用时间对应的设备失效概率;将各设备使用时间以及各设备使用时间对应的设备失效概率输入至指数威布尔分布函数,以基于指数威布尔分布函数对目标设备进行寿命评估。本公开可以精准拟合仪器设备寿命变化规律曲线,提高仪器设备可靠性评估的准确性。

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