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公开(公告)号：CN107144628A
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201710350073.7
申请日：2017-05-18
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明属于电磁无损检测领域，并公开了一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法。其包括(a)将待检测构件磁化,使得该待检测构件在其缺陷处形成漏磁场，该漏磁场是以该缺陷为圆心，半径为r1的微磁源空间域；(b)将设置有磁敏元件的探测磁源在缺陷的上方扫掠经过，使得漏磁场与探测磁源自身的磁场进行磁叠加形成磁扰动，其中，探测磁源自身的磁场是以该探测磁源为圆心，半径为r2的探测磁空间域；(c)在距离待检测构件表面r1+r2的提离范围内磁敏元件拾取磁扰动，从而完成缺陷的电磁检测。通过本发明，实现主动式检测，同时增大检测提离距离，避免传感器紧贴检测时的接触磨损及抖动问题，也实现在同一提离检测状态下检测信号的增大。
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公开(公告)号：CN107632063B
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN201710725319.4
申请日：2017-08-22
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/87
Abstract: 本发明属于漏磁无损检测领域，并具体公开了一种可变径管外壁漏磁检测装置，其包括多个沿管外壁圆周分布的单体磁化检测模块，相邻两个单体磁化检测模块之间通过铰链连接，每个单体磁化检测模块均包括非铁磁性主架体、U型永磁体、磁敏感元件和V型轮，U型永磁体嵌装在非铁磁性主架体内，其两个磁极面向待检测管的外壁，并且非铁磁性主架体上嵌装有与该U型永磁体的两磁极相抵接的铁磁性材料挡板，磁敏感元件设于U型永磁体两磁极之间的非铁磁性主架体内，V型轮安装在非铁磁性主架体的两端，检测时该V型轮与待检测管外壁实现多点接触。本发明具有磁化效果好、探伤穿透能力强、检测扫描平稳、抖动干扰噪声小及单次扫描无漏检的检测特点。
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公开(公告)号：CN104792859A
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201510216384.5
申请日：2015-04-29
Applicant: 华中科技大学 , 中国船舶重工集团公司第七〇二研究所
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明公开了一种适用于线型缺陷的磁轭式局部微磁化检测装置，该装置包括磁敏感元件部分，磁感应部分及磁轭式局部微磁化部分，磁敏感元件部分包括磁敏感元件、引线端、磁引导芯和引导芯套筒，磁引导芯由长短不一的长方体形引导芯构成；磁感应部分由绕制在引导芯套筒外侧的磁感应线圈和引线端组成；由引导芯套筒支撑固定的磁轭式局部微磁化部分，包括方形导磁构件、磁轭式双磁铁以及斜向双导磁构件，该部分将磁场量导入待检测金属体内，达到局部微磁化的效果，通过与磁引导芯连接的磁敏感元件和引导芯套筒外的磁感应线圈，传递金属零件表面线型缺陷漏磁场量信号，实现对高精金属零件表/界面形性的检测。
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公开(公告)号：CN104787139A
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201510188109.7
申请日：2015-04-21
Applicant: 华中科技大学
CPC classification number: B62D57/02
Abstract: 本发明公开了一种基于软轴驱动的细长构件探伤扫描爬行装置，该装置包括第一组件和第二组件，第一、二组件通过连接杆连接为整体，第一组件包括两个结构相同的第一组件分部件，第一、第二滚轮组件分别安装在第一半圆形支撑薄板上，第一滚轮组件通过联轴器和软轴与电机相连，两个第一组件分部件通过转铰合页相连，第一半圆形支撑薄板上设有闭合扣；第二组件包括两个结构相同的第二组件分部件，第三、第四滚轮组件分别安装在第二半圆形支撑薄板上，两个第二组件分部件通过转铰合页相连，第二半圆形支撑薄板上设有闭合扣。该装置基于软轴传动设计，具有重量轻、运行平稳、适用性广等优点，可满足不同直径构件以及不同检测环境的在线检测需求。
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公开(公告)号：CN104458896A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410756871.6
申请日：2014-12-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明公开了一种基于多重漏磁检测信号特征值的缺陷评价方法，包括以下步骤：1)将样件磁化，用探头分别在样件的盲孔和所有矩形槽上方进行扫查，得到信号曲线计算获得各个MFL信号特征值；2)在数据处理装置中得到MFL信号特征值分别与偏离值、提离值的的线性方程；3)在数据处理装置中得到MFL信号特征值与矩形槽上同一方向尺寸的线性方程；4)用探头对待测铁磁件进行检测，扫查得到MFL漏磁信号特征值，根据步骤2)和步骤3)获得的线性方程获得待测铁磁件上的缺陷的位置及尺寸。本发明能根据具体的线性关系式对待测铁磁件上的缺陷进行较准确的定量的评价。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117826705A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311866333.8
申请日：2023-12-29
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G05B19/4065
Abstract: 本发明属于数控机床相关技术领域，并公开了一种接入工业现场总线的机床防碰撞检测方法及系统。该方法包括下列步骤：S1对于数控机床的加工程序G代码，将整个加工过程的G代码划分为多段，以此形成多段待检测程序；S2按顺序对于一段待检测程序，在该待检测段程序中的起点和终点之间选取多个采样点，记录每个采样点的坐标；S3逐个判断在每个采样点处加工过程中机床部件之间是否发生碰撞；当第一次判断获知某个采样点处机床部件之间发生碰撞时，数控机床在该采样点处减速直至停止；否则，不发生碰撞，返回步骤S2，直至完成所有待检测程序的碰撞检测。通过本发明，实现数控机床的碰撞检测功能，解决低硬件配置下碰撞检测的问题。
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公开(公告)号：CN113281399A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN202110559966.9
申请日：2021-05-21
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/82
Abstract: 本发明属于无损检测技术相关技术领域，并公开了一种用于多缺陷同时检测的磁聚焦传感器及检测系统。该传感器包括永磁体、磁引导芯和感应元件，其中：所述永磁体为环形磁铁，该环形磁铁的下端设置有缺口，所述磁引导芯设置在环形磁铁圆心与所述缺口的连线上，用于将聚集在所述环形磁铁中心的磁场引导至所述磁引导芯上，该磁引导芯为多层片状结构，每层片状结构底部均设置有检测探头，该检测探头用于探测待检测磁性材料的表面形貌缺陷，所述感应元件设置在所述磁引导芯的探头上，用于感应每个检测探头中磁场的变化。通过本发明，实现磁性材料微小表面形貌的检测识别具有更高的分辨率和检测精度及灵敏度，能够适应更广泛的加工制造环境和工况。
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公开(公告)号：CN113281398A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN202110558326.6
申请日：2021-05-21
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/82
Abstract: 本发明属于无损检测相关技术领域，并公开了一种针式磁斥聚焦的检测传感器及检测系统。该检测传感器包括永磁体、磁引导芯和感应元件，其中：所述永磁体用于产生相互排斥的磁场，所述磁引导芯设置在所述永磁体的中心，用于将所述永磁体产生的互斥磁场聚集在中心并引导至所述磁引导芯上，所述感应元件设置在所述磁引导芯上，当采用所述检测传感器检测待检测磁性材料表面形貌时，表面形貌的改变引起所述磁引导芯中磁场的变化，所述感应元件用于检测所述磁引导芯中磁场的变化并将其转换为电信号，以此实现待测磁性材料表面形貌的检测。通过本发明，解决磁性材料表面微小形貌检测分辨率低的问题。
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公开(公告)号：CN107632063A
公开(公告)日：2018-01-26
申请号：CN201710725319.4
申请日：2017-08-22
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/87
Abstract: 本发明属于漏磁无损检测领域，并具体公开了一种可变径管外壁漏磁检测装置，其包括多个沿管外壁圆周分布的单体磁化检测模块，相邻两个单体磁化检测模块之间通过铰链连接，每个单体磁化检测模块均包括非铁磁性主架体、U型永磁体、磁敏感元件和V型轮，U型永磁体嵌装在非铁磁性主架体内，其两个磁极面向待检测管的外壁，并且非铁磁性主架体上嵌装有与该U型永磁体的两磁极相抵接的铁磁性材料挡板，磁敏感元件设于U型永磁体两磁极之间的非铁磁性主架体内，V型轮安装在非铁磁性主架体的两端，检测时该V型轮与待检测管外壁实现多点接触。本发明具有磁化效果好、探伤穿透能力强、检测扫描平稳、抖动干扰噪声小及单次扫描无漏检的检测特点。
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公开(公告)号：CN104677955B
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201510043290.2
申请日：2015-01-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/22
Abstract: 本发明公开了一种非金属杂质检测方法，包括以下步骤：1)将平板电容器与直流电源连接，使平板电容器的两电极板之间形成稳定电场；将平板电容器与信号处理装置连接，以在信号处理装置中显示平板电容器的电容值的信号波形；2)使被测导磁件从平板电容器的两电极板之间通过；3)观察信号处理装置中获得的平板电容器的电容值的信号波形是否存在突变区域，以判断被测导磁件上是否存在非金属杂质。本发明通用性强，信号处理装置集成信号读取和输出功能，用于检测杂质的装置具有体积小、重量轻、通用性强、造价低等优点，能极好地识别出某些导磁件中混有的非金属杂质。
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