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公开(公告)号:CN1185532C
公开(公告)日:2005-01-19
申请号:CN01809414.7
申请日:2001-04-11
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: H01L21/02686 , G02F1/13454 , G02F1/1368 , G02F2202/104 , H01L21/2026 , H01L27/12 , H01L27/1285
Abstract: 本发明涉及平板显示器的制造方法,能以高可靠性制造像素区的TFT和扫描区的TFT,它包括以下步骤:在包含有像素区和驱动区的基片上形成非晶硅薄膜,通过激光束的照射从形成在驱动区的非晶硅薄膜中脱氢,而不照射形成在像素区的非晶硅薄膜,并且激光束的进一步照射,晶化形成在驱动区的非晶硅薄膜,从而将非晶硅薄膜变成多晶硅薄膜。
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公开(公告)号:CN1256793A
公开(公告)日:2000-06-14
申请号:CN99800177.5
申请日:1999-01-26
Applicant: 索尼株式会社
IPC: H01L27/115 , H01L21/8247 , H01L27/10 , H01L29/788 , H01L29/792
CPC classification number: B82Y10/00 , H01L21/28273 , H01L21/8221 , H01L21/84 , H01L27/1203 , H01L29/7883 , H01L29/792
Abstract: 用分散的多个微粒子(点)(15a)构成存储区15的同时,使微粒子(15a)的面密度比在隧道绝缘膜(14a)上产生的构造性的孔(针孔)的面密度大。或者使存储区中的微粒子(15a)的个数为5个以上。或者用表面粗糙度在0.1nm以上100nm以下的多晶硅层(13)形成传导区(13c)的同时,使存储区(15)的微粒子(15a)的个数变得比传导区中的晶粒个数多。即便是在隧道绝缘膜(14a)中发生了针孔等的缺陷,存储在一部分的微粒子上的电荷漏泄,存储在不存在缺陷的区域内形成的微粒子上的电荷也不会漏泄。因此,可以长时间地保持信息。
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