晶锭的制备装置以及碳化硅单晶锭的制备方法

    公开(公告)号:CN111304745A

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN201910643497.1

    申请日:2019-07-17

    Abstract: 本发明涉及一种晶锭的制备装置以及使用该装置的碳化硅单晶锭的制备方法,所述晶锭的制备装置包括:坩锅主体,具有开放部且容纳原料;盖子组装体,位于所述开放部且至少一部分固定于所述坩锅主体,所述晶锭的制备装置的特征在于,所述盖子组装体包括:布置孔,上下贯通;外缘构件,以包围所述布置孔的圆周的方式沿着所述开放部的圆周布置;及芯构件,位于所述布置孔且以所述外缘构件为基准上下移动。通过适用所述晶锭的制备装置,可以提供进一步大口径的高质量单晶锭。

    生长半绝缘碳化硅单晶锭的方法和用于生长碳化硅单晶锭的装置

    公开(公告)号:CN112639174A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN201980056925.9

    申请日:2019-07-26

    Abstract: 实施方案涉及一种生长半绝缘SiC单晶锭的方法,所述方法包括以下步骤:(1)将涂覆有碳化硅(SiC)和碳基材料的掺杂剂放入包含固定有籽晶的反应容器中;以及(2)在所述籽晶上生长SiC单晶,从而产生高质量的半绝缘SiC单晶锭,其具有均匀的基于厚度的掺杂浓度。另外,另一实施方案涉及一种生长半绝缘碳化硅单晶锭的方法,所述方法包括以下步骤:(a)将包含含碳聚合物树脂、溶剂、掺杂剂和碳化硅(SiC)的组合物置于反应容器中;(b)固化所述组合物;(c)在固定于所述反应容器中的所述籽晶上生长SiC单晶锭,从而产生高质量的半绝缘SiC单晶锭,其具有均匀的基于厚度的掺杂浓度。另外,另一实施方案涉及一种用于生长SiC单晶锭的装置,其中所述装置能够生产高质量的SiC单晶锭,所述高质量的SiC单晶锭包括通过SiC组合物的碳化或石墨化产生的多孔体,因此当SiC单晶锭的直径较大时,仍然具有均匀的基于厚度的掺杂浓度。

    晶种附着方法
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112391674A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN202010806156.4

    申请日:2020-08-12

    Abstract: 本发明的实施例涉及晶种附着方法,包括:步骤(1),在锭生长的晶种的一面附着保护膜;步骤(2),在上述晶种的另一面涂敷粘结组合物;步骤(3),进行第一固化,即对上述晶种进行热处理;步骤(4),去除上述保护膜;步骤(5),进行第二固化,即对上述晶种进行热处理;以及步骤(6),使上述晶种附着于晶种支架,从而可在碳化硅单晶锭生长时提高生长稳定性及质量。

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