测量设备
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101726273A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200910180798.1

    申请日:2009-10-21

    Inventor: 佐佐木康二

    CPC classification number: G01B7/012 G01B21/02

    Abstract: 一种测量设备,包括:主体;触针,其被配置为可相对于主体移动;编码器,用于检测触针相对于主体的位移量;计算部,用于根据由编码器检测到的位移量,计算测量值;显示部,用于显示由计算部计算出的测量值;操作部,用于向计算部发出命令;以及存储部,用于存储大于触针的移动行程的下限且小于触针的移动行程的上限的有效测量范围。计算部判断由编码器检测到的位移量是否落入存储在存储部中的有效测量范围内,并将该判断的结果显示在显示部上。

    接触式计测装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101532818A

    公开(公告)日:2009-09-16

    申请号:CN200910007314.3

    申请日:2009-02-11

    CPC classification number: G01B5/012 G01B7/012

    Abstract: 本发明涉及接触式计测装置。本发明是利用压缩空气的力和永久磁铁与磁性体的吸力来进行探针的接触力调整的接触式计测装置。该计测装置控制探针主体内的流体压力并对探针施加拉力或推压力,另外,在安装在探针主体上装有的测微计的可动部前端的永久磁铁与安装在与接触头相反一侧的端部的板状部件之间产生与这些永久磁铁与板状部件之间的距离相应的吸力。

    尺寸测量探针
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101171493A

    公开(公告)日:2008-04-30

    申请号:CN200680014933.X

    申请日:2006-05-08

    CPC classification number: G01B7/012

    Abstract: 一种位于坐标定位设备诸如机床上的用来测量物体尺寸的探针,具有工件接触触针(20)。所述探针经由传感器机构(30)悬挂,所述传感器机构包括应变计(34),当所述触针接触工件时,所述应变计产生输出。处理器(16)处理所述应变计的输出,以产生触发信号。产生应变信号是根据算法或者方程或者对照表来实现的,所述算法或者方程或者对照表保证沿着三个维度X、Y和Z在接近工件的所有可能方向上具有相等的敏感度。

    接触式探针
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1982837A

    公开(公告)日:2007-06-20

    申请号:CN200610172483.9

    申请日:2003-09-05

    CPC classification number: G01B3/008 G01B7/012

    Abstract: 本发明公开一种接触式探针,包括:容纳第一定位件的探针壳体;具有第二定位件的触针架,该第二定位件和上述第一定位件相配合,以将所述触针架定位在上述探针壳体内;和偏压件,用于使上述第一定位件和第二定位件相接触,从而所述触针架被偏压到中立位置里,其中,设置插件,用以通过抵抗上述偏压件的偏压作用而减缓所述触针架返回到所述中立位置的运动,所述插件可滑动地容纳在所述探针壳体里的槽和所述触针架里的槽中的至少一个槽里。

    用于高速扫描的探针
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1720427A

    公开(公告)日:2006-01-11

    申请号:CN200380105229.1

    申请日:2003-12-05

    CPC classification number: G01B7/012

    Abstract: 一种测量探针(5),包括用于安装在坐标定位仪(2)的一个臂(6)上的外壳(16),以及安装于触头支撑件(28)上的一个触头(10)。触头(10)与触头支撑件(28)可相对于外壳(16)偏移。第一传感器系统(40-48)对触头支撑件(28)相对于坐标定位仪(2)的臂(6)的位移进行测量。第二传感器系统(38)对触头尖端(12)相对于触头支撑件(28)的位移进行测量。总的触头的偏移量将通过结合第一与第二传感器系统的数据来实现。

    工件形状测定传感器及工件形状测定装置

    公开(公告)号:CN1181309C

    公开(公告)日:2004-12-22

    申请号:CN01117609.1

    申请日:2001-04-30

    CPC classification number: G01B7/012 Y10S33/13

    Abstract: 工件形状测定传感器(33)包括触针(40)和通过接头(50)保持该触针的本体(60),接头包括安装触针的触针安装部(51)安装于本体的本体安装部(52)、连接触针安装部与本体安装部并能弹性变形的连接部(53)。一旦使传感器(33)与螺纹孔(100)相对移动,连接部即通过弹性变形允许随着螺纹孔的表面形状的触针的变位。故能通过用应变片(71)检测连接部的弹性变形量来检测接触部(42A)的变位量,能在短时间中收集连续的螺纹孔的形状数据。

    用于定位不连续特征的传感器及方法

    公开(公告)号:CN1518486A

    公开(公告)日:2004-08-04

    申请号:CN02812552.5

    申请日:2002-05-14

    CPC classification number: G01B5/00 B23Q16/005 G01B7/012 G01B7/016

    Abstract: 一种用于对工件上孔洞等不连续特征进行定位的方法和装置。所述装置包括一个用于相对于坐标系对不连续特征进行定位的探针,其具有一杆棒,杆棒与一手柄相连接。探针包括一端部单元,其被连接到杆棒的一端上,这一端与杆棒连接手柄的那一端相反。端部单元被设计成与不连续特征所相关的表面相接触,并相对于所述坐标系移动,以便于能与不连续特征相关的轴线对准。至少一个位置传感器被完全地设置在杆棒内,并被设计成可检测端部单元相对于坐标系的位置。杆棒上具有多个孔,所述传感器被设置在其中的至少一个孔中。

    接触式探针和相关电路,以及用于信号处理的方法

    公开(公告)号:CN105408724B

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201480042192.0

    申请日:2014-07-30

    CPC classification number: G01B7/012 G01B5/012 G01B21/047

    Abstract: 一种探针(100),包括框体(2)、可移动的臂组(3)和用于处理信号的处理电路(30;30')。处理电路能够独立地检测由臂组的机械组件和框体的机械组件之间的配合所限定的触点(13)的状态,即触点的闭合或断开,并且在其检测到不超过一个触点为断开时,提供指示探针的停留位置的信号。一种用于处理信号的方法,其使用上述电路以提供指示探针的停留位置的信号。电路和用于处理信号的方法被有利地实施,以用于处理接触式探针的输出信号,该接触式探针适于在坐标量测机和机械工具中检查工件的位置或尺寸。

    计量仪器
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102859316B

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201180020880.3

    申请日:2011-04-28

    CPC classification number: G01B5/012 G01B7/012

    Abstract: 本发明涉及一种计量仪器,包括:本体(110,112)以及能围绕第一旋转轴线A3、A4相对于本体旋转的第一构件(118,116),所述第一轴线由第一轴承(120,128;122,129;124,130;126,132)限定;以及用于致动所述第一构件围绕第一旋转轴线相对于所述本体旋转的第一马达M3、M4。表面感测装置(102)能附接至所述第一构件,使得表面感测装置能相对于所述本体与第一构件一起运动。所述第一马达可以包括第一磁体(152,158)和至少一个金属线圈(154),所述第一磁体(152,158)和至少一个金属线圈(154)沿着第一轴线间隔开并且安装成使得所述第一磁体和至少一个金属线圈能相对于彼此移动。

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