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公开(公告)号:CN104465719A
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201410487147.8
申请日:2014-09-22
Applicant: 丰田自动车株式会社
CPC classification number: H01L29/7811 , H01L29/0619 , H01L29/0623 , H01L29/0653 , H01L29/4236 , H01L29/42368 , H01L29/7397 , H01L29/7813 , H01L29/0603
Abstract: 本发明提供一种半导体装置(10),其包括半导体基板(11),所述半导体基板具有元件区域(12)以及终端区域(14)。元件区域包括:第一体区域(36a,38),其具有第一导电类型;第一漂移区(32),其具有第二导电类型;以及第一浮动区域(34),其具有第一导电类型。终端区域包括场限环区域(41)、第二漂移区(32b)以及第二浮动区域(37)。场限环区域具有第一导电类型并围绕元件区域。第二漂移区具有所述第二导电类型,并与场限环区域相接触且围绕场限环区域。所述第二浮动区域具有第一导电类型并被第二漂移区围绕。所述第二浮动区域围绕元件区域。至少一个所述第二浮动区域相对于最接近所述元件区域的一个场限环区域而被置于元件区域侧。
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公开(公告)号:CN103959475A
公开(公告)日:2014-07-30
申请号:CN201280006360.1
申请日:2012-11-21
Applicant: 丰田自动车株式会社
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/12
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L21/047 , H01L29/0623 , H01L29/0878 , H01L29/0886 , H01L29/1095 , H01L29/1608 , H01L29/4236 , H01L29/66068 , H01L29/66734
Abstract: 本发明提供一种半导体装置,具备:第一导电型的漂移层;第二导电型的主体层;第一导电型的源极层;第一导电型的漏极层;沟槽栅极,贯通主体层而到达漂移层;第二导电型的第一半导体层,包围沟槽栅极的底部,通过漂移层而与主体层分离;第一导电型的第二半导体层,沿着沟槽栅极的长度方向上的端部设置,该第一导电型的第二半导体层的一端部与主体层相接且另一端部与第一半导体层相接;及连接层,该连接层的一端部与主体层连接且另一端部与第一半导体层连接,并且,该连接层与第二半导体层相接,通过第二半导体层而与沟槽栅极的长度方向上的端部相隔离。
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公开(公告)号:CN102403338A
公开(公告)日:2012-04-04
申请号:CN201110281178.4
申请日:2011-09-14
IPC: H01L29/36 , H01L29/78 , H01L21/265 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L29/086 , H01L29/1608 , H01L29/41766 , H01L29/45 , H01L29/66068
Abstract: 一种SiC半导体器件,包括:按下述顺序堆叠的衬底(1)、漂移层(2)和基极区(3);第一和第二源极区(4a,4b)和基极区中的接触层(5);穿透所述源极和基极区的沟槽(6);沟槽中的栅电极(8);覆盖栅电极,具有接触孔的层间绝缘膜(10);经由所述接触孔与所述源极区和所述接触层耦合的源电极(9);衬底上的漏电极(11);以及金属硅化物膜(30)。高浓度的第二源极区比低浓度的第一源极区更浅,且高浓度的第二源极区具有被层间绝缘膜覆盖的部分,该部分包括表面附近的低浓度的第一部以及比第一部深的高浓度的第二部。第二部上的金属硅化物膜的厚度大于第一部上的金属硅化物膜的厚度。
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