基板处理装置
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106164779B

    公开(公告)日:2019-01-22

    申请号:CN201580018364.5

    申请日:2015-03-31

    Abstract: 基板处理装置以使得通过多个描绘单元的各描绘线在基板上描绘的图案彼此随着基板向长度方向的移动而在基板的宽度方向上接合在一起的方式,沿基板的宽度方向配置有多个描绘单元。测量装置的反射光检测部设于多个描绘单元的每一个上,当检测到因投射光束的点光而从支承构件的支承面或基板反射的反射光时,基于当支承构件的基准标记位于多个描绘单元各自描绘的描绘线上时从反射光检测部输出的信号,来测量多个描绘线的配置关系。

    基板处理装置的维护方法以及安全装置

    公开(公告)号:CN102741978B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201080056521.9

    申请日:2010-12-16

    CPC classification number: G03F7/708 G03F7/70975

    Abstract: 一种基板处理装置的维护方法以及安全装置。基板处理装置中,驱动区(DA1)被室本体部(51)覆盖,进行用以处理基板的规定动作的驱动部是配置于上述驱动区(DA1),利用间隔部(52)而区分上述驱动区、与上述驱动区的周围区(SA1)。基板处理装置的维护方法包括:第1步骤,在设置于室本体部(51)的堵住第1开口的第1门(DR1)被打开之前,使X射线照射装置成为无法照射X射线的状态;第2步骤,在第1门(DR1)被打开之后、设置于间隔部(52)的堵住第2开口的第2门(DR2)被打开之前,使驱动部成为无法进行规定动作的状态;以及维护步骤,进行成为无法进行规定动作的状态的驱动部及处理部的至少一方的维护。因此,驱动部的驱动状态的观察等的点检,可以在室的内部安全地进行。

    基板处理装置的维护方法以及安全装置

    公开(公告)号:CN102741978A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201080056521.9

    申请日:2010-12-16

    CPC classification number: G03F7/708 G03F7/70975

    Abstract: 基板处理装置中,驱动区(DA1)被室本体部(51)覆盖,进行用以处理基板的规定动作的驱动部是配置于上述驱动区(DA1),利用间隔部(52)而区分上述驱动区、与上述驱动区的周围的周围区(SA1)。基板处理装置的维护方法包括:第1步骤,在设置于室本体部(51)的堵住第1开口的第1门(DR1)被打开之前,使X射线照射装置成为无法照射X射线的状态;第2步骤,在第1门(DR1)被打开之后、设置于间隔部(52)的堵住第2开口的第2门(DR2)被打开之前,使驱动部成为无法进行规定动作的状态;以及维护步骤,进行成为无法进行规定动作的状态的驱动部及处理部的至少一方的维护。因此,驱动部的驱动状态的观察等的点检,可以在室的内部安全地进行。

    曝光装置与曝光方法以及微元件的制造方法

    公开(公告)号:CN101052922A

    公开(公告)日:2007-10-10

    申请号:CN200680001103.3

    申请日:2006-01-24

    Abstract: 本发明的目的是对多个光学单元之间所发生的图样的像的投影位置的偏移进行补正。本发明的解决手段涉及一种曝光装置,其使由具有多个光学单元L1~L13的光学系统所投影的图样的像曝光转印至物体P上。此曝光装置包括一种补正装置,其对由多个光学单元L1~L13投影在此物体P上的多个像之中至少1个像的位置进行补正,以补偿多个光学单元L1~L13的变动。

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