基板处理装置、元件制造系统及元件制造方法

    公开(公告)号:CN107209461A

    公开(公告)日:2017-09-26

    申请号:CN201680006570.9

    申请日:2016-02-26

    Abstract: 一种基板处理装置,具备:旋转圆筒DR,以既定速度往与基板P宽度方向交叉的搬送方向搬送;描绘装置11,具有多个描绘模块UW1~UW5,将投射于基板P的描绘光束沿着基板P的描绘线扫描以将既定图案描绘于基板P上,以通过多个描绘模块UW1~UW5的各个而描绘于基板P上的图案彼此在宽度方向相接合的方式,将彼此在宽度方向相邻的描绘线于搬送方向配置成相隔既定间隔;调整机构24,调整描绘线相对于基板P宽度方向的倾斜;以及旋转位置检测机构,检测出基板P的搬送速度;根据以旋转位置检测机构检测出的搬送速度,通过旋转机构24调整描绘线的相对倾斜。

    基板处理装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111781806B

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202010741934.6

    申请日:2016-10-26

    Abstract: 曝光装置EX,一边将长条的基板P搬送于长边方向,一边于基板P上形成既定图案,其具备:圆筒卷筒DR,支承基板P;作为第1支承构件的本体框架21及第1光学平台23轴支圆筒卷筒DR;描绘装置11,隔着基板P与旋转卷筒DR对向配置,于基板P上形成图案;作为第2支承构件的第2光学平台25保持描绘装置11;旋转机构24,将第1光学平台23与第2光学平台25能旋转地连结;标尺部GPa,GPb,用以测量圆筒卷筒DR的位置变化;以及编码器读头EN1,EN2,检测标尺部GPa,GPb的刻度。

    图案描绘装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111665687B

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202010601959.6

    申请日:2016-06-17

    Inventor: 小宫山弘树

    Abstract: 本发明的图案描绘装置及图案描绘方法,稳定地维持描绘超详细图案所需的扫描线的配置精度或光学性能。图案描绘装置(EX),使基板(P)上所聚光的光点(SP)沿着描绘线(SL)进行主扫描,并且使基板(P)进行副扫描,藉此于基板(P)上描绘既定图案;该图案描绘装置(EX)使由多面镜(PM)反射的第1光束(LBa)聚光并作为光点(SPa)而投射至第1描绘线(SLa)上,并且使由多面镜(PM)反射的第2光束(LBb)聚光并作为光点(SPb)而投射至第2描绘线(SLb)上。上述两条描绘线(SLa、SLb)于基板(P)上位于副扫描方向上的相同位置,且于主扫描方向上错开。

    图案曝光装置、光束扫描装置、及图案描绘装置

    公开(公告)号:CN111638631B

    公开(公告)日:2023-03-10

    申请号:CN202010522658.4

    申请日:2016-03-18

    Abstract: 本发明的光束扫描装置,是一边将光束的点光投射于对象物的被照射面、一边进行该点光于该被照射面上沿扫描线的一维扫描,其具备:射入光束的入射光学构件、将来自入射光学构件的光束为进行扫描而加以偏向的扫描用偏向构件、射入经偏向的光束后投射于被照射面的投射光学系、以及支承入射光学构件、扫描用偏向构件及投射光学系、可绕与照射中心轴在既定容许范围内成同轴的第1旋转中心轴旋转的支承架,该照射中心轴系相对该被照射面垂直通过以该点光的扫描在该被照射面上形成的扫描线的中点。

    基板处理装置、元件制造系统及元件制造方法

    公开(公告)号:CN107209461B

    公开(公告)日:2019-10-18

    申请号:CN201680006570.9

    申请日:2016-02-26

    Abstract: 一种基板处理装置,具备:旋转圆筒DR,以既定速度往与基板P宽度方向交叉的搬送方向搬送;描绘装置11,具有多个描绘模块UW1~UW5,将投射于基板P的描绘光束沿着基板P的描绘线扫描以将既定图案描绘于基板P上,以通过多个描绘模块UW1~UW5的各个而描绘于基板P上的图案彼此在宽度方向相接合的方式,将彼此在宽度方向相邻的描绘线于搬送方向配置成相隔既定间隔;调整机构24,调整描绘线相对于基板P宽度方向的倾斜;以及旋转位置检测机构,检测出基板P的搬送速度;根据以旋转位置检测机构检测出的搬送速度,通过旋转机构24调整描绘线的相对倾斜。

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