-
公开(公告)号：CN103733043B
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201180072922.8
申请日：2011-09-20
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 南谷林太郎
IPC: G01N17/04
CPC classification number: G01N33/0004 , G01N17/002 , G01N17/006 , G01N17/043 , G01N17/046
Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够简便且在短时间内高精度地评价周围环境的腐蚀性的腐蚀环境监控装置及腐蚀环境监控方法。本发明涉及的腐蚀环境监控装置(1)具有设置试验片(2a、2b、2c)的一个以上的通气路(3a、3b、3c)，并根据试验片(2a、2b、2c)的腐蚀状态来测定周围环境中的腐蚀性，其中，在一个通气路(3a、3b、3c)内设置以涉及测定的区域使用同一金属材料的方式形成的试验片(2a、2b、2c)，在通气路(3a、3b、3c)为多个的情况下，将通气路(3a、3b、3c)并列配置。
-
公开(公告)号：CN101644654A
公开(公告)日：2010-02-10
申请号：CN200910004942.6
申请日：2009-02-20
Applicant: 株式会社日立制作所 , 株式会社日立建筑系统
Abstract: 提供高精度推定导电构件腐蚀量的老化诊断系统。具有：测定收容具有导电构件的印刷线路板的控制装置内的温度的温度传感器；湿度传感器；腐蚀传感器；诊断处理装置，在设定期间记录由各传感器测定的控制装置内环境数据和导电构件的腐蚀数据，根据记录的箱体内环境数据和腐蚀数据推定导电构件将来的腐蚀量进行老化诊断；记录外部空气环境数据的外部空气环境数据库，诊断处理装置求出设定期间记录的控制装置内环境数据与腐蚀数据的相关关系，求出与设定期间同时期的外部空气环境数据与控制装置内环境数据的对应关系，由对应关系和过去外部空气环境数据推定将来的控制装置内环境数据，由推定的控制装置内环境数据和相关关系推定导电构件将来的腐蚀量。
-
公开(公告)号：CN1820226A
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：CN200580000665.1
申请日：2005-06-28
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 提供利用液冷循环有效地进行冷却、不会由于液体制冷剂通过液晶面板透光面而产生图像的紊乱的液晶投影机、液晶面板、和液冷装置。将由光源(112)发出的光分割为3束平行光，使分割后的3束光通过R、G及B用液晶面板(101(R))、面板(101(G))、面板(101(B))并调制其强度，由合成棱镜(119)将这些调制光色合成后，由投影透镜(127)投影得到图像，在各液晶面板(101)中，在与构成液晶面板的相对基板(1)和TFT基板(2)相对设置的保护玻璃板(4、5)之间形成液体制冷剂的高阻力流道，而且邻接地形成缓冲部，或者形成围住其周围的低阻力辅助流道。另外，各流道具有厚度一致且扁平的、覆盖液晶面板区域的厚度“D”的流道和设置在其上游及下游的、厚度小的“d”的流道和设置在其上游和下游的缓冲流道。
-
公开(公告)号：CN1658124A
公开(公告)日：2005-08-24
申请号：CN200410012079.6
申请日：2004-09-28
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H05K7/20009 , F28D2021/0031 , G06F1/203 , G06F2200/203 , H01L23/4332 , H01L23/473 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种具有冷却系统的电子装置，在该冷却系统上进行冷却工作时，不需要对液体致冷剂进行补充，并且也不会对装置的安装和维护作业带来妨碍。在框体(100)内，装载有需要进行冷却的CPU200；在对该CPU200进行冷却的液冷系统上，具有冷却套(50)、散热器(60)、和循环泵(70)。在上述这样的构成上，对用于向冷却套流通液体致冷剂的配管，由金属制的管道所构成；同时，为了不会对装置的安装和维护作业带来妨碍，使该配管形成为螺旋状，或者在其中途形成有波纹管，从而可以在框体内自由地得到安置。
-
公开(公告)号：CN1658123A
公开(公告)日：2005-08-24
申请号：CN200410012078.1
申请日：2004-09-28
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G06F1/20 , H01L23/473
CPC classification number: F28F3/12 , F28D2021/0029 , F28F1/22 , F28F13/02 , F28F13/06 , H01L23/473 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种具有冷却效率高且价格低廉的冷却系统的、被称为台式和笔记本型的个人计算机和服务器等电子装置。在框体(100)内，装载有需要进行冷却的CPU200；在对该CPU200进行冷却的液冷系统上，具有冷却套(50)、散热器(60)、和循环泵(70)。该冷却套由铜等热传导性高的材料所形成，并具有基板部(51)和盖部(52)，其中在该基板部(51)上，形成有液体致冷剂的流入口(54)和流出口(55)，并在其内部形成有“U”或“I”字状的流路；在“U”或“I”字状的流路的一部上，配置着通过将仍然由铜等热传导性高的材料所形成的细管、以对多根进行捆扎和钎焊的方式而形成的致冷剂分支部(56、57)。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1545001A
公开(公告)日：2004-11-10
申请号：CN200410035358.4
申请日：2002-07-10
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G06F1/203 , F28F1/22 , G06F2200/201 , G06F2200/203
Abstract: 本发明为了提供一种由液体循环冷却发热元件的电子装置的构造，特别是考虑了相对系统的安全性和组装性的可靠性高的液体冷却构造，将水冷套(8)热连接到发热元件(7)，同时，将散热管(9)热连接到设于显示器盒(2)背面的散热板(10)，由液体驱动装置(11)在水冷套(8)和散热管(9)之间进行制冷液循环。散热管(9)沿散热板(10)的整个区域连接。在散热板(10)的上部设置槽(14)，与散热管(9)连接。
-
公开(公告)号：CN109073533B
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN201780022360.3
申请日：2017-02-23
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 南谷林太郎
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明的目的在于提供一种腐蚀环境监测装置，其不需要特别的分析仪器，就能够在当场，在成为诊断对象的电子设备壳体内的狭小的空间，从短期到长期对金属的腐蚀程度进行测定，而不需要商用电源或蓄电池等电源。腐蚀环境监测装置具备传感器部，所述传感器部是在箱型形状的通道结构的与开口部相对的上下表面或侧面的一部分表面配置金属薄膜(2)，并用透明基板覆盖金属薄膜而形成的，所述通道结构的一端被封闭，另一端被设置成开口部，所述腐蚀环境监测装置的特征在于，具备多个腐蚀环境监测部，所述多个腐蚀环境监测部的开口部相邻地配置，多个腐蚀环境监测部中的金属薄膜的腐蚀检测条件被设置为不同。
-
公开(公告)号：CN105092456B
公开(公告)日：2018-05-25
申请号：CN201510246813.3
申请日：2015-05-15
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明涉及一种用于监控腐蚀环境的装置以及方法。提供一种用于监控腐蚀环境的装置，包括：至少一个通路构造，具有开口部，并且被配置为控制空气中的腐蚀性物质的侵入；以及传感器部，具有设置于通路构造内的金属薄膜。通路构造内的金属薄膜由于从开口部侵入到通路构造的腐蚀性物质而腐蚀。在监控期间，金属薄膜的电阻值根据金属薄膜的腐蚀区域的扩展而变化。从而，用于监控腐蚀环境的装置测定金属薄膜的电阻值，抑制测定出的值的变动。这使得能够长期且高精度地评价电气电子装置的设置环境的腐蚀程度。
-
公开(公告)号：CN103733043A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201180072922.8
申请日：2011-09-20
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 南谷林太郎
IPC: G01N17/04
CPC classification number: G01N33/0004 , G01N17/002 , G01N17/006 , G01N17/043 , G01N17/046
Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够简便且在短时间内高精度地评价周围环境的腐蚀性的腐蚀环境监控装置及腐蚀环境监控方法。本发明涉及的腐蚀环境监控装置(1)具有设置试验片(2a、2b、2c)的一个以上的通气路(3a、3b、3c)，并根据试验片(2a、2b、2c)的腐蚀状态来测定周围环境中的腐蚀性，其中，在一个通气路(3a、3b、3c)内设置以涉及测定的区域使用同一金属材料的方式形成的试验片(2a、2b、2c)，在通气路(3a、3b、3c)为多个的情况下，将通气路(3a、3b、3c)并列配置。
-
公开(公告)号：CN101644654B
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN200910004942.6
申请日：2009-02-20
Applicant: 株式会社日立制作所 , 株式会社日立建筑系统
Abstract: 提供高精度推定导电构件腐蚀量的老化诊断系统。具有：测定收容具有导电构件的印刷线路板的控制装置内的温度的温度传感器；湿度传感器；腐蚀传感器；诊断处理装置，在设定期间记录由各传感器测定的控制装置内环境数据和导电构件的腐蚀数据，根据记录的箱体内环境数据和腐蚀数据推定导电构件将来的腐蚀量进行老化诊断；记录外部空气环境数据的外部空气环境数据库，诊断处理装置求出设定期间记录的控制装置内环境数据与腐蚀数据的相关关系，求出与设定期间同时期的外部空气环境数据与控制装置内环境数据的对应关系，由对应关系和过去外部空气环境数据推定将来的控制装置内环境数据，由推定的控制装置内环境数据和相关关系推定导电构件将来的腐蚀量。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
52
records
(took 0.031 seconds)
