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公开(公告)号：CN110567380A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910939079.7
申请日：2019-09-30
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供的一种快速钢丝扎头缺陷检测装置，所述第一光源发射器和所述第一相机单元电性连接，所述第二光源发射器和所述第二相机单元电性连接，并按照设定的位置布置方式放置，所述第一相机单元采集与X轴成θ角的第一图像至图像处理单元，计算帘布缠绕质量，所述第二相机单元采集与X轴成ɑ角的第二图像至矩阵黑格测量单元，计算帘布缠绕质量，检测单元接收所述矩阵黑格测量单元和所述图像处理单元传输的图像和结果，分析所述钢丝扎头的所有角度帘布缠绕质量，与设定的合格参数比对，输出比对结果到可编程逻辑控制器，可对每个扎头位置实施单独的在线检测，减少误差，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN110475076A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201910768225.4
申请日：2019-08-20
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的多光源曝光控制器及方法，基于FPGA的多光源曝光控制器包括多光源曝光控制模块和系统控制模块，系统控制模块用于接收相机传输的图像信息，同时通过串口通讯向串口通讯单元发送数值序列；外触发输入单元用于隔离输入系统控制模块的触发信号；FPGA处理单元用于接收外触发输入单元发送的触发信号和通过串口通讯单元发送的数值序列进行比较处理，向多光源触发单元发送光源触发信号；多光源触发单元用于将FPGA处理单元输出的光源触发信号输出至至少两个光源控制器，同时进行隔离。满足多光源曝光检测技术对多场景多组合光源控制的需求。
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公开(公告)号：CN110146946A
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201910489347.X
申请日：2019-06-06
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种非对称性弯曲结构的太赫兹集成器件，包括衬底和水平设置在衬底上的金属薄膜，所述金属薄膜设置有三块，由位于中心的呈直线状的中心金属薄膜，和设置在中心金属薄膜两侧的侧部金属薄膜构成，所述侧部金属薄膜呈圆弧状，开口远离中心金属薄膜一侧设置，两块所述侧部金属薄膜的曲率圆圆心的连线与中心金属薄膜之间的夹角小于90度，所述中心金属薄膜和侧部金属薄膜的两侧壁上均设置有规则排列的锯齿结构。本发明的器件通用性较强，在不同波段下依然可以产生预设效果，无需改变设计好的几何结构，器件的适用范围还会扩展，可进行大部分太赫兹波段的研究。
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公开(公告)号：CN110146946B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN201910489347.X
申请日：2019-06-06
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种非对称性弯曲结构的太赫兹集成器件，包括衬底和水平设置在衬底上的金属薄膜，所述金属薄膜设置有三块，由位于中心的呈直线状的中心金属薄膜，和设置在中心金属薄膜两侧的侧部金属薄膜构成，所述侧部金属薄膜呈圆弧状，开口远离中心金属薄膜一侧设置，两块所述侧部金属薄膜的曲率圆圆心的连线与中心金属薄膜之间的夹角小于90度，所述中心金属薄膜和侧部金属薄膜的两侧壁上均设置有规则排列的锯齿结构。本发明的器件通用性较强，在不同波段下依然可以产生预设效果，无需改变设计好的几何结构，器件的适用范围还会扩展，可进行大部分太赫兹波段的研究。
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公开(公告)号：CN117788823A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311832392.3
申请日：2023-12-28
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06V10/26 , G01S7/48 , G01S17/86 , G06V10/40 , G06V10/764 , G06V10/80 , G06V10/82 , G06V20/56 , G06V20/70 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/096
Abstract: 本发明提供的是一种基于Transformer激光雷达点云和相机影像信息融合的语义分割方法，所述方法利用激光雷达点云和RGB影像信息的多模态数据，提取跨模态特征用于计算机视觉的语义分割任务。本发明的贡献在于训练阶段通过基于立方窗口和辐射窗口划分的多头注意力动态选择机制提取多尺度近密远疏的激光雷达点云特征，通过窗口重叠区域编码的多头注意力机制提取多尺度影像特征，然后以多尺度特征融合及知识蒸馏的方法将影像的先验知识有效地融入到激光雷达网络中，并在推理阶段抛弃相机流分支和多尺度特征融合‑知识蒸馏模块，仅使用激光雷达流分支，能有效提升网络的推理速度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116576789A
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN202310548385.4
申请日：2023-05-16
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供的是一种用于轮胎形变测量的激光剪切散斑干涉装置及方法。包括干涉成像装置、扩束照明装置和外壳部分。干涉成像装置、扩束照明装置固定在外壳上，并成一个夹角。干涉成像装置包括沃拉斯顿棱镜、四分之一波片、滤光片、成像镜头、微偏振阵列、相机和计算机控制系统。扩束照明装置包括532nm激光器和扩束装置，其中扩束装置包裹三个凹透镜、压圈、镜筒和底座。检测方法为通过将被检轮胎进行加压前后拍摄，对得到的图片进行分析，对轮胎的变形量进行检测。本发明采用一体化结构设计，实现了高质量的扩束效果，抗干扰能力强。同时具有体积小，方便携带等优点，在保证精度的同时可广泛用轮胎缺陷检测、轮胎形变等实时测量，可广泛应用于航空、工程无损检测等领域。
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公开(公告)号：CN116242268A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202310233261.7
申请日：2023-03-10
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于相位梯度校正的四向离散余弦解包裹算法。通过偏振相机拍摄两幅图片经过图像拆分算法和八图四步相移算法得到包含物体变形信息且大小为M×N的二维包裹图像。其次包括设置二维包裹图像水平方向x与垂直方向y，以及在与x，y方向成45°角处增加了两个方向u，v相位梯度求解。根据相位梯度值与对应方向的相位梯度标准差进行比较来校准相位梯度，通过不断迭代校准离散余弦解包裹算法求解出的解包裹相位，使解包裹相位值更逼近真实值。本发明对噪声抑制能力强，可以消除欠采样导致的相位截断和抑制全局解包条件下的噪声传播，使解包裹相位更逼近被测物体变形的真实相位。
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公开(公告)号：CN116026233A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310140774.3
申请日：2023-02-21
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01B9/02 , G01B9/02055 , G01B9/02002 , G01B11/02
Abstract: 本发明提供一种消除双频激光干涉仪测量信号频差不稳定度的方法。所述方法为：参考光信号经过APD、I/V转换器、锁相环、波形转换后的信号作为时钟信号提供给ADC芯片对测量光信号经过APD、I/V转换器、信号放大、滤波后的信号进行采样，通过对采样后的信号进行分段处理，消除了双频激光的频差不稳定度。本发明可以消去频差不稳定度的影响，同时在节省成本和降低FPGA运算资源的同时，降低了对双频激光稳定度的高要求。
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公开(公告)号：CN115727776A
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202211497713.4
申请日：2022-11-27
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供的是一种基于激光剪切散斑干涉的离面位移动态测量方法，所述方法为：通过标准加载器标定激光剪切散斑干涉装置的单次加载线性离面位移测量范围[wm,wn]；使用激光剪切散斑干涉装置连续拍摄加载前后的相移图，通过间隔采样，使离面位移位于测量范围内；设定梯度阈值k，对前一组的应变分布进行梯度掩模处理，提取形变区域并累加至下一组，即可求解从初始时刻至此刻的应变分布和离面位移。本发明方法扩展了激光剪切散斑干涉系统的离面位移测量范围，实现了被测样品的应变分布和离面位移连续动态测量，可广泛用于复合材料、工程力学等领域的高精度全场动态测量。
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公开(公告)号：CN115456991A
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202211112349.5
申请日：2022-09-13
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于相位梯度加权移动平均校正的离散余弦解包裹算法。首先通过摄像设备拍摄并用相应的图像处理方法得到包含M×N个像素点的被测物体缺陷信息的二维相位包裹图像。其次根据二维包裹图像设置水平方向x与竖直方向y。再根据二维包裹相位的梯度值与行列方向相位梯度的标准差进行对比得出的结果，选择是否利用行列方向相位梯度的加权移动平均值校正原本的相位梯度值。最后将校正后的梯度值带入离散余弦解包裹算法中，并以此得到图像的真实相位φ。本发明具有解包裹速度快、抗干扰能力强、计算精度高等特点，提高了在包裹图像存在噪声干扰的情况下，可解出更接近被测物真实相位信息的能力。
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