一种具有温度检测功能的分流器电阻

    公开(公告)号:CN119395339A

    公开(公告)日:2025-02-07

    申请号:CN202411851930.8

    申请日:2024-12-16

    Abstract: 本发明提供一种具有温度检测功能的分流器电阻,其包括:第一电极、第二电极、中间电阻体以及电路板采集装置,中间电阻体位于第一电极和第二电极之间。电路板采集装置包括:基板、采样输出连接器、温度采集模块以及电压采集模块。基板设有接触面以及观测面,接触面朝向中间电阻体,且接触面与中间电阻体之间存在隔空间隙,采样输出连接器设于观测面上。接触面上设有两个焊盘,两个焊盘分别对应第一电极和第二电极。中间电阻体的两端分别设置隔温墙,隔温墙与接触面之间形成透气间隙。该分流器电阻能够实时采集分流器电阻的温度,并对产品在不同温度下的阻值做出补偿,提高测量精度;同时能够在焊接时控制熔融焊液的流动范围,实现稳定牢固焊接。

    测试电路及测试电路的工作方法
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119375559A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202310919875.0

    申请日:2023-07-25

    Inventor: 王立鹏

    Abstract: 一种测试电路及测试电路的工作方法,其中,测试电路用于测量待测元件的标称值,第一传输门,包括第一输入端、第一输出端、第一控制端以及第二控制端,所述第一输入端耦接电源电压端;第二传输门,包括第二输入端、第二输出端、第三控制端以及第四控制端,所述第二输出端连接所述第一输出端,所述第二输入端接地;第一反相器,所述第一反相器的输入端连接所述第一控制端,所述第一反相器的输出端连接所述第二控制端;第二反相器,所述第二反相器的输入端连接所述第四控制端,所述第二反相器的输出端连接所述第三控制端;待测元件,所述待测元件的第一端连接所述第一输出端。所述测试电路能够精准测量出待测元件的标称值。

    一种批量检测闪存芯片电信号参数异常的测试方法及装置

    公开(公告)号:CN119355489A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411510798.4

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明公开了一种批量检测闪存芯片电信号参数异常的测试方法及装置,包括闪存芯片测试架,用于对待测闪存芯片进行上下料操作,外围电路设置与待采集电信号参数对应的引脚测试点;测试点选择开关,用于选择需要测试的电信号参数;电信号显示模块,设置为将测试点选择开关选择的电信号参数输入到对应测试通路的数显电压电流表上,进行显示并区别标记;OCR图像识别处理模块,识别并解析各通路数显图像的测试数据并进行是否异常的判断处理;异常报警输出模块,用于输出闪存芯片电信号参数测试是否异常的测试结果并报警。能够批量测量闪存芯片电信号参数,并结合芯片规格书电信号的特征参数范围,判断闪存芯片是否存在电信号参数异常。

    一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试模块

    公开(公告)号:CN117092476B

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202311066246.4

    申请日:2023-08-23

    Abstract: 本发明涉及一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试模块,包括测试工装及测试电路,测试工装包括底部PCB板和夹持组件,夹持组件中设有一个待测器件,测试电路通过底部PCB板与相对应的一个待测器件联通,测试电路包括正电源PWR+、负电源PWR‑、单工位正电源桥臂切换继电器S5,单工位负电源桥臂切换继电器S7、单工位中间桥臂切换继电器S6和MCU,每个继电器均包括两个并联的开关,MCU通过控制单工位正电源桥臂切换继电器S5,单工位负电源桥臂切换继电器S7以及单工位中间桥臂切换继电器S6三者中不同开关的通断配合,使得待测器件内的所有单管完成老化测试。本发明提高了老化处理效率,也降低了出错几率。

    充放电法测试电容电路和方法

    公开(公告)号:CN118937810B

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN202411433172.8

    申请日:2024-10-15

    Inventor: 李永立 袁宝华

    Abstract: 本发明公开了一种充放电法测试电容电路和方法,测试电容电路包括第一支路、第二支路、固有电阻、第三支路、第四支路和采样处理装置;第一支路包括串联的第一开关和第一标准电阻;第二支路包括串联的第二开关和第二标准电阻;第一支路和第二支路的一端都接收电源电压,另一端都与固有电阻的第一端相连;第一标准电阻和第二标准电阻的阻值不同;第三支路包括串联的第三开关和测试电容;第四支路包括杂散电容;第三支路和第四支路的一端都与固有电阻的第二端相连,还与采样处理装置相连,另一端都接地。本发明通过获取不同支路连接下的充电电容的充电时间,可得到测试电容的更精确的电容值,实现宽范围和精度高的电容测试。

    一种多引脚芯片电容测试装置和系统

    公开(公告)号:CN119269890A

    公开(公告)日:2025-01-07

    申请号:CN202411446699.4

    申请日:2024-10-16

    Inventor: 邹巍 鲁海纳

    Abstract: 本发明涉及一种多引脚芯片电容测试装置和系统。本发明的多引脚芯片电容测试装置,包括:若干个继电器模块和驱动器;每个所述继电器模块,第一端用于连接待测试芯片电容的一对待测试引脚,第二端用于连接LCR仪表的输入端;所述驱动器,在测试指定的目标待测试引脚时,控制所述目标待测试引脚对应的继电器模块闭合,并控制其他待测试引脚对应的继电器模块断开。本发明通过控制继电器模块的通断切换待测试引脚,相对于现有的基于移动滑台的切换引脚方式切换速度更快、操作更方便、控制难度更低、测试效率更高。

    关于连接结构的连结检测系统、装置以及方法

    公开(公告)号:CN115053142B

    公开(公告)日:2025-01-07

    申请号:CN202080095318.6

    申请日:2020-12-21

    Abstract: 本发明涉及关于连接结构的连结检测系统、装置以及方法,当第1装置附着到第2装置时能够自动检测到该情况,进而能够识别所述第1装置,本发明中公开了连结检测系统,构成为包括第1装置和第2装置,第1装置具备:第1连结端子,具备第1‑1接点和第1‑2接点;以及第1电抗元件,与所述第1连结端子连结;第2装置具备:第2连结端子,具备与所述第1‑1接点和第1‑2接点对应的第2‑1接点和第2‑2接点;第1电阻元件;第1频率发生器,将在预定范围内频率发生变化的信号经由所述第1电阻元件并通过所述第2连结端子施加到所述第1装置;第1比较器,两个输入端与所述第1电阻元件的两端连结,对所述第1电阻元件的两端的信号进行比较后输出;以及第1控制部,利用所述第1比较器的输出信号来判断所述第1装置的所述第1连结端子是否与所述第2连结端子连结。

    一种使用单感应式耦合器的散射参数在线测量装置及畸变补偿方法

    公开(公告)号:CN119246993A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202411363701.1

    申请日:2024-09-28

    Abstract: 本发明公开了一种使用单感应式耦合器的散射参数在线测量装置及畸变补偿方法,涉及待测设备散射参数的感应耦合式测量领域,装置包括:信号处理系统、矢量网络分析仪VNA、感应式耦合器、限位绝缘柱、待测设备DUT及供电电源;信号处理系统通过miniUSB电缆与矢量网络分析仪VNA建立通讯连接,控制矢量网络分析仪VNA实施测量,传输并处理测量的数据;矢量网络分析仪VNA通过N型连接器连接感应式耦合器,并将扫频式正弦激励信号注入感应式耦合器以测量待测设备DUT的散射参数;限位绝缘柱被套装在电源线上,用于限定感应式耦合器的位置,使电源线穿过感应式耦合器耦合窗口的中心;供电电源用于为待测设备DUT供电。

    一种电池的下线测试系统、电池生产线及测试方法

    公开(公告)号:CN119199531A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411250077.4

    申请日:2023-10-10

    Inventor: 邱世平

    Abstract: 本申请公开了一种电池的下线测试系统、电池生产线及测试方法,电池的下线测试系统包括主机和测试设备,主机用于响应于测试开始信号,确定待测试的电池的测试模式,根据测试模式向测试设备发送控制指令,以及接收测试设备发送的测试结果;测试设备上设置开关器件,测试设备和电池之间的每一线路均通过开关器件电性连接;测试设备用于响应于控制指令,控制开关器件连通或断开与电池之间的线路;以及基于测试模式对电池进行测试;响应于测试完成信号,将测试结果发送给主机。本申请实施例提供的技术方案,能够高效、准确地进行电池的下线测试。

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