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公开(公告)号：CN105572072A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510962240.4
申请日：2015-12-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N21/41
CPC classification number: G01N21/41
Abstract: 一种透明光学材料群折射率测量装置及测量方法，涉及光学测量领域，解决了现有测量透明光学材料群折射率的方法存在的工作量大、精度低的问题。该方法为：在被测平面镜上、下面均放置一块平面镜，将两块平面镜与被测平面镜调平行，利用镜面定位仪测量上平面镜下表面与被测平面镜上表面距离d2以及下平面镜上表面与被测平面镜下表面中心的距离d3，并在镜面定位仪上参数设置处将被测平面镜的群折射率设置为1，得到被测平面镜的读取厚度d′，然后将被测平面镜取下，测量上平面镜下表面与下平面镜上表面之间的距离d1，被测平面镜的中心厚度d即为d＝d1-d2-d3，被测平面镜光学材料的群折射率即为n＝d′/d。本发明具有快速、简单、精度高、检测不确定度高等优点。
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公开(公告)号：CN105572050A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510962193.3
申请日：2015-12-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/17
Abstract: 球面透镜材料均匀性的检测方法属于光学干涉测量技术领域，该方法结合移相干涉测量技术、折射率匹配液和贴置板实现球面透镜材料均匀性检测。通过折射率匹配液与被检透镜折射率的匹配，使被检透镜可以利用干涉仪平面波前检测。同时，通过搅动折射率匹配液，然后反复测量满腔状态下的干涉检测结果消除折射率匹配液均匀性对检测结果的影响。最后，利用满腔和空腔干涉检测结果相减可以获得被检透镜的材料均匀性。该方法的有益效果是不仅可以测量平板玻璃的材料均匀性，还可以测量球面透镜的材料均匀性。
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公开(公告)号：CN105571514A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510962238.7
申请日：2015-12-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/2441
Abstract: 旋转平移绝对检测法中快速调节光学元件的装置及方法，涉及高精度光学元件面形检测领域，解决了现有方法存在的检测调整时间长、过程复杂的问题。该方法为整光学元件使干涉仪条纹为零条纹，记录第二调整机构在X，Y方向倾斜位置信息(X1，Y1)；将转台旋转180度，倾斜调整光学元件使干涉仪条纹为零条纹，记录第二调整机构在X，Y方向倾斜位置信息(X2，Y2)；将第二调整机构倾斜调整到((X1+X2)/2，(Y1+Y2)/2)位置，转台转轴与干涉仪光轴一致；用第一调整机构平移调整光学元件使干涉仪条纹为零条纹，光学元件光轴与干涉仪光轴一致，最后干涉仪光轴、光学元件光轴及转台转轴同轴，光学元件调整到位。本发明结构简单、成本低、调整快速、精度高。
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公开(公告)号：CN105468062A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201510980154.6
申请日：2015-12-23
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G05D27/02
CPC classification number: G05D27/02
Abstract: 本发明高精度恒温控制装置及方法，属于恒温控制领域，解决了现有技术在对超高精度光学元件检测和光学系统检测时，干涉腔内温度变化导致的检测误差的技术问题：本发明包括气源模块、换热模块、储气模块和控制模块；气源模块通过管道与换热模块联通，换热模块通过管道与储气模块300联通，控制模块通过管道分与换热模块联通；本发明满足了超高精度光学测量对温度稳定性的要求；本发明中设有空气搅动装置，实现了空气的无规律搅动，很好地抑制了气流扰动对高精度光学测量的影响。
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公开(公告)号：CN105444895A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510962226.4
申请日：2015-12-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J9/02
CPC classification number: G01J9/0246
Abstract: 一种干涉仪激光波长的测量方法属于光学干涉测量技术领域，该方法提出一种利用多光束干涉原理和高反射率标准具实现干涉仪激光波长快速简易测量的方法。根据多光束干涉原理，当干涉仪激光入射至高反射率标准具时，仅在某些特定的入射角度下激光透射功率较高，而在大多数入射角度下激光透射功率都接近零。在精确测量标准具的物理厚度和折射率后，可以根据标准具透射光功率达到极大值时的两个相邻入射角方便地确定干涉仪激光波长。该方法的有益效果是干涉仪激光波长测量过程简单易用，涉及到的核心光学元件仅为一块高反射率标准具，制造成本较低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105277338A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201410318139.0
申请日：2014-07-04
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 , VTT-NTM有限责任公司
Inventor： 马冬梅
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01B9/02038 , G01B9/02041 , G01B9/02072 , G01B11/2441 , G01M11/005 , G01M11/0271
Abstract: 本发明涉及一种大数值孔径移相式双针孔衍射干涉仪及其测试方法，该衍射干涉仪包括：测试基准光路，测试光路，针孔基板；所述针孔基板上设有测试针孔和测试基准针孔；在所述测试针孔发出的衍射波前经所述针孔基板附近的被测试光学元部件反射后会聚到测试基准针孔附近，其波前中带有被测试光学元部件的面形信息，其经过针孔基板反射后与由测试基准针孔发出的衍射波前干涉形成干涉条纹。本发明的大数值孔径移相式双针孔衍射干涉仪采用双针孔基板和双光路会聚照明形式实现测试光路与基准光路的分离，防止两光路的相互干扰导致移相式过程中的干涉图像状态改变；通过小视场干涉图光学成像系统避开了测试光路对图像的影响，实现移相方式的大数值孔径测试。
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公开(公告)号：CN102865829B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210312545.7
申请日：2012-08-29
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 立式大量程高精度光学平面测试装置属于光学测试仪器研究领域，该装置包括升降支腿、支撑底台、水平转台、配重块、精密转台、连接轴、长导轨承载板、两个反射镜、第一测角装置、第二测角装置、长导轨、电控系统和数据采集分析系统，两个反射镜在长导轨上等间隔移动，通过两个测角装置获得测试点之间的角度变化值，用此角度变化值和间隔量的乘积可获得测试点间的高度变化值，从而测出平面镜在此方向上的轮廓形状；经过精密转台实现对平面镜在不同方向上的轮廓形状测试，最后对测试数据进行分析计算而获得平面镜整体、全口径面形轮廓图。本发明可实现大口径光学平面反射镜在使用过程中的面形校准与监测，对测试环境敏感度低，可达到高测试精度。
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公开(公告)号：CN102620909B
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201210080134.X
申请日：2012-03-23
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种光学星点图像的采集方法，涉及图像的采集方法，它解决现有在光学星点图像采集过程中图像边缘信噪比下降和模数转换位数低的问题，本发明通过在保证采集星点图像的CCD相机不会由于过饱和而损坏的情况下，采用不同亮度照明，多次采集星点图像。调节照明光强，使CCD相机上星点图像的中心区域接近CCD相机探测器的饱和值。增加照明光强，增强光学星点图像边缘区域的光强值，同时又不会因为亮斑中心区域过饱和而导致CCD相机损坏。将接近饱和星点图像的中心区域与增加光强星点图像的边缘区域拼接在一起，得到图像边缘信噪比高的星点图像。本发明具有装置简单、成本低廉的优点，适合工厂、科研单位准确探测动态范围很大的图像。
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公开(公告)号：CN103697808A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201410016043.9
申请日：2014-01-14
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01B9/02
Abstract: 点衍射移相式干涉仪高度传递函数测试装置及其测试方法，属于光学测试领域，为解决现有技术无法对球面测试时干涉仪传递函数测试问题，技术方案为：打开点衍射相移干涉仪中的光学照明系统与干涉图接收采集光电系统的电源，使其处于工作状态；在测试光路中与光轴方向夹角45°放置高度传递函数测试基准板使光路折转，在其后放置高精度球面反射镜，使其球心与衍射光出射点即针孔衍射板重合；在干涉图接收采集光电系统上可获得基准板的干涉图，通过测试采集相移图像将得到基准板的面形测试图，即测试基准板的高度测试结果hi；建立计算模型，通过高度测试结果hi与基准板相应频域的高度值h0相比较，测得干涉仪高度测试传递函数值H=hi/h0。
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公开(公告)号：CN103207022A
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN201310086087.4
申请日：2013-03-18
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 相位复原测试过程中消除旋转非对称误差的标定方法涉及光学测试过程中系统误差的标定领域，该方法包括如下步骤：将光学放大系统和传感器放置在精密调整机构上，旋转精密调整机构360°，进行等间隔旋转测量，获得相应波前的测量结果；将波前测量的结果进行平均运算，该平均结果中不含有被测波前的旋转非对称误差信息；将每次旋转后的波前测量结果分别减去中获得平均结果，以获得该旋转状态下被测试波前的旋转非对称误差信息：将获得的每个旋转状态下被测试波前的旋转非对称误差信息进行坐标修正，将其统一到同一坐标系下进行平均，获得被测试波前中旋转非对称误差信息，抑制随机误差。本发明通过该方法消除光学放大系统引入的旋转非对称误差。
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