负型光阻组合物及使用该负型光阻组合物的图案形成方法

    公开(公告)号:CN101900939B

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201010194426.7

    申请日:2010-05-28

    CPC classification number: G03F7/0382

    Abstract: 本发明提供一种负型光阻组合物,其至少包含:(A)碱可溶性且可通过酸的作用而成为碱不溶性的基质高分子、及/或碱可溶性且可通过酸的作用与交联剂进行反应而成为碱不溶性的基质高分子与交联剂的组合;(B)酸产生剂;(C)作为碱性成份的含氮化合物,其中,作为该基质高分子,是将含有两种以上通式(1)所代表的单体、或一种以上通式(1)所代表的单体及一种以上通式(2)所代表的苯乙烯单体的混合物聚合所获得的高分子,或是将该高分子所具有的官能团更进一步加以化学转化所获得的高分子,且相对于构成前述所获得的高分子的全部重复单元,源于通式(1)所代表的单体的重复单元合计为50摩尔%以上。

    负型光阻组合物、图案形成方法、负型光阻组合物的检查方法及调制方法

    公开(公告)号:CN101893824B

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201010178168.3

    申请日:2010-05-13

    CPC classification number: G03F7/0382 G03F7/0045 G03F7/30 G03F7/322

    Abstract: 本发明的目的是提供一种负型光阻组合物、使用其的图案形成方法、其检查方法及调制方法,该负型光阻组合物至少含有:(A)碱可溶性且可由于酸的作用而变为碱不溶性的基础树脂及/或碱可溶性且可由于酸的作用与交联剂反应而变为碱不溶性的基础树脂与交联剂的组合、(B)产酸剂、(C)含有氮作为碱性成分的化合物,其形成为了形成光阻图案而实施曝光处理、显影处理且具有50nm~100nm厚的X nm的光阻膜,其特征在于:该负型光阻组合物在形成图案时的成膜条件下形成光阻膜的情况,对于在形成图案时的显影处理中所使用的碱性显影液的溶解速度,成为0.0333X-1.0nm/sec以上0.0667X-1.6nm/sec以下的值。

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