一种定位交互方法及系统

    公开(公告)号:CN102722254A

    公开(公告)日:2012-10-10

    申请号:CN201210204994.X

    申请日:2012-06-20

    Abstract: 本发明公开了一种定位交互方法及系统,定位交互方法包括以下步骤:1)通过投影系统投影形成投影场景,并通过摄像系统拍摄投影场景内的交互物体以及交互物体阴影的图像;2)处理交互物体以及交互物体阴影的图像得到交互物体尖端的位置信息;3)将步骤2)得到的位置信息转化为投影信息,投影到屏幕区域上。本发明的定位交互方法及系统,整个定位交互过程中,用户不需手持特定的交互设备,同时投影屏幕为普通投影屏幕并可实现上述定位交互过程。

    准直光束检测装置
    82.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101701804B

    公开(公告)日:2012-07-18

    申请号:CN200910209490.5

    申请日:2009-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种准直光束检测装置,包括两相互平行且柱面方向呈正交设置的第一柱面镜及第二柱面镜、分别对应安装于两柱面镜焦点处的第一光电探测器及第二光电探测器、准直镜、第一透射镜及第二透射镜;第一透射镜为透明介质且倾斜设置于准直镜与第一柱面镜之间,准直镜、第一透射镜、第一柱面镜及第一光电探测器依次排列于准直镜与第一柱面镜的光轴确定的直线上;第二透射镜与第一透射镜相互平行且位于同一直线上,第二透射镜、第二柱面镜及第二光电探测器依次排列于第二柱面镜的光轴确定的直线上;本发明利用柱面镜只存在单向轴对称曲率的特性,对准直光束的平行度进行检测,因此装置结构简单、容易调整、制造低廉且易于推广的准直光束检测装置。

    投影定位装置及方法、交互系统和交互方法

    公开(公告)号:CN102508578A

    公开(公告)日:2012-06-20

    申请号:CN201110302639.1

    申请日:2011-10-09

    CPC classification number: G06F3/0425 G06F3/0304

    Abstract: 本发明公开了一种投影定位装置,包括:投影仪,用于将具有设定规律的条纹图案投影到被测物体表面;摄像机,用于摄取由被测物体表面形状所调制的变形条纹图像;处理装置,用于根据所述变形条纹图像确定被测物体的空间位置和/或位置变化。在此还公开了相应的投影定位方法、交互系统和交互方法。通过将条纹图案投影到被测物体表面,摄取并分析被测物体表面起伏所调制的变形条纹图像,可以对被测物体例如具复杂三维手势的人手进行较高精度地定位和较快速度地实时跟踪,从而实现精准流畅的体感或触控操作。

    一种用于定位的发光装置及定位方法

    公开(公告)号:CN101446866B

    公开(公告)日:2011-12-14

    申请号:CN200810241412.9

    申请日:2008-12-19

    Abstract: 本发明提供一种用于定位的发光装置及定位方法。用于定位的发光装置,包括:发光模块(300),用于发出被光位置获取装置(800)获取并判断其相应位置的光;控制电路模块(200),为一处理单元,用于接收相应的数据进行处理并控制所述发光模块(300)工作;接触信号采集模块(100),用于把所受到的力转化为相应的电信号并传送到所述控制电路模块(200);通讯模块(400),用于所述控制电路模块(200)与外部设备的信息交换。与现有技术相比本发明的优点在于,能够以较低的成本实现了对显示屏交互式的输入,而且能够获得较为统一精确的接触的力的信息。

    准直光束检测装置
    86.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101701804A

    公开(公告)日:2010-05-05

    申请号:CN200910209490.5

    申请日:2009-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种准直光束检测装置,包括两相互平行且柱面方向呈正交设置的第一柱面镜及第二柱面镜、分别对应安装于两柱面镜焦点处的第一光电探测器及第二光电探测器、与第一柱面镜正对的准直镜、第一透射镜及第二透射镜;第一透射镜为透明介质且倾斜设置于准直镜与第一柱面镜之间,准直镜、第一透射镜、第一柱面镜及第一光电探测器依次排列于一条直线上;第二透射镜与第一透射镜相互平行且位于同一直线上,并面对第二柱面镜,第二透射镜、第二柱面镜及第二光电探测器依次排列于一条直线上;本发明利用柱面镜只存在单向轴对称曲率的特性,对准直光束的平行度进行检测,因此装置结构简单、容易调整、制造低廉且易于推广的准直光束检测装置。

    一种基于FPM算法的显微成像方法和系统

    公开(公告)号:CN106443998B

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN201610962263.X

    申请日:2016-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种基于FPM算法的显微成像方法和系统,该系统包括平面光源阵列、微反射镜阵列、物镜和相机,所述平面光源阵列发射光线到微反射镜阵列;所述微反射镜阵列将所述光线转换为直入射光线和斜入射光线;载物孔用于使入光线透过并照射至放置在载物孔上的成像物体;所述物镜和所述相机用于经成像得到多幅低分辨率图像。该系统利用微反射镜阵列可以得到多幅不同角度照明下的低分辨率图像,能够实现静态成像和荧光标记成像。随后利用FPM算法进行迭代重建,可以提高图像分辨率,其和高倍物镜的分辨率相当,且具有更宽的视场。该系统和传统显微镜相比具有体积小、重量轻的优点,适用于移动检测和现场检测。

    一种产品缺陷检测方法及装置

    公开(公告)号:CN109916914B

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN201910285540.1

    申请日:2019-04-10

    Abstract: 本发明提供一种产品缺陷检测方法及装置,该方法对原始图像中的产品提取外轮廓,并采用形态学操作依次提取次级内轮廓,将轮廓信息存储在链表中,并利用轮廓信息进行特定图像处理,实现高精度缺陷检测。本发明这种基于轮廓信息的缺陷检测方法达到了对边缘过渡圆角部分的缺陷检测。

    一种光谱共焦轴向距离检测方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN110044286B

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN201910299737.0

    申请日:2019-04-15

    Abstract: 本发明公开了一种光谱共焦轴向距离检测方法、装置及设备,所述方法包括以下步骤:驱动光谱共焦测头轴向扫描待测物体表面,比对各扫描位置的反射光谱信号,获取测量范围内每个光谱仪像素能够产生的最大光强,归为一组作为参比光强信号;获得噪声光谱信号;根据所述参比光强信号、所述噪声光谱信号和所述反射光谱信号,计算所述各扫描位置的色散反射率光谱。本发明通过获取测量范围内每个光谱仪像素能够产生的最大光强作为参比光强信号,并通过噪声光谱信号来计算色散反射率,进而对色散反射率寻峰,作为聚焦像素序号值,弥补了光源造成的不同波长光线的强度、透过率等差异,可以有效提高聚焦像素序号值的求解精度。

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