基于钙钛矿的超材料太赫兹调制器件及制备方法

    公开(公告)号:CN109799625A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201910048485.4

    申请日:2019-01-18

    Abstract: 本发明公开了一种高效的钙钛矿超材料太赫兹调制器件及制备方法,主要解决现有太赫兹调制器件灵敏度低和制备工艺复杂的问题。自下而上包括衬底(1)和周期性排布的铝开口谐振环单元(2),每个铝开口谐振单元的开口为不对称分布的两个,其开口间隙为2-4μm,每个开口之间填充有厚度为40-80nm的钙钛矿材料(3),铝开口谐振环单元(2)的表面也覆盖有同样厚度的钙钛矿材料,使用中,可通过光泵浦改变钙钛矿填充材料的电介质性质来改变等效电容,实现对太赫兹波段的谐振频率和振幅透过率调制。本发明工艺简单,调制灵敏度高,应用场景更宽,可用于短距高速宽带通信、超分辨率武器制导、生物传感、医学成像、材料特性检测和安全检查。

    基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器

    公开(公告)号:CN109698279A

    公开(公告)日:2019-04-30

    申请号:CN201811603343.1

    申请日:2018-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器,采用的异质结由二维材料和钙钛矿组成,二维材料和宽禁带半导体优异的光学和电学性质的结合,改善了传统钙钛矿光电探测器高的暗电流,同时提升了光电探测器在近红外波段的光探测。本发明制备的二维材料/钙钛矿异质结的光电探测器对近红外波段的光信号有高的探测率和响应度,同时弱光下光探测能力强。

    一种表面P型氧化镓的制备方法

    公开(公告)号:CN115424940B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202211026540.8

    申请日:2022-08-25

    Abstract: 一种表面P型氧化镓的制备方法,在衬底上生长氧化镓层,然后通过表面功能化生长制备单层极性氢氟化石墨烯,最后采用转印聚合物对极性氢氟化石墨烯进行二次转移调整方向之后,转移到氧化镓层上,构建形成氧化镓/极性氢氟化石墨烯异质结界面,利用异质结界面强烈的电荷转移获得无晶格受损的表面P型氧化镓。本发明摒弃了传统的离子掺杂工艺,采用异质工程转移自对准工艺制备表面P型氧化镓,降低了成本,简化了工艺。本发明通过界面电荷转移效率实现氧化镓表面的电子抽取和空穴注入,不会阻碍载流子的输运特性。本发明通过异质工程制备的P型氧化镓,通过界面强烈的电荷转移实现,对氧化镓表面进行有效的空穴注入,从而实现更加有效的P型氧化镓。

    一种AlN/Al1-xScxN异质结日盲探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN118198171A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410144376.3

    申请日:2024-02-01

    Abstract: 本发明公开了一种AlN/Al1‑xScxN异质结日盲探测器及其制备方法,使用铁电性能更佳的Al1‑xScxN铁电材料与AlN形成异质结,既能保证与AlN的最小晶格失配,又能保证铁电层的高质量生长。器件耗尽区的宽度与内置电场的强度变得可由去极化场来调节,充分促进了光生载流子的分离。其次使用较薄的AlN层能够有效提高内建电场强度与2DEG浓度,进而增加光生电子迁移率,且在外电场施加下呈现更好的铁电性,使器件在工作时探测更为精准、响应度和响应速率更高。同时本发明提出了所述AlN/Al1‑xScxN异质结日盲探测器的制备方法,能与现有CMOS工艺兼容,降低生产成本。

    基于Ga2O3/AlScN异质结的自驱动日盲探测器及制备方法

    公开(公告)号:CN116995114A

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN202310923405.1

    申请日:2023-07-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于Ga2O3/AlScN异质结的自驱动日盲探测器及制备方法,该自驱动日盲探测器采用新兴的铁电材料AlScN与Ga2O3构成的异质结,通过铁电侧的去极化场调节内置电场的强度及半导体侧的耗尽区宽度,促进光生载流子的分离,提升了Ga2O3异质结自驱动日盲探测器的响应度和响应速率。由于AlScN有着与大多数铁电材料不同的高电导率,使得器件性能不会受到电导率的限制。本发明使用的AlScN材料的带隙与Ga2O3接近,使得该自驱动日盲探测器不会对日盲波段外的光信号进行响应,提升了该自驱动日盲探测器的探测精度,避免了无关的光信号的干扰。

    一种AlBN基铁电隧道结器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN116801704A

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202310951315.3

    申请日:2023-07-31

    Abstract: 本发明提供了一种AlBN基铁电隧道结器件及其制备方法,主要解决现有器件无法平衡存储性能以及进行非破坏性读取,导致器件性能不佳的问题。主要结构为金属/铁电/绝缘体/半导体叠层结构,从下至上包括重掺杂P型Si衬底以及依次生长沉积的SiO2绝缘层、AlBN铁电层和钛/金顶电极;其中AlBN铁电层为厚度小于5nm的AlBN薄膜,钛/金顶电极是钛层位于金层下的两层结构,钛层直接接触AlBN铁电层。本发明利用AlBN材料的高极化强度和铁电特性的优势调节肖特基势垒形成高阻态和低阻态,能够进一步压缩器件尺寸,并提升存储性能和可擦写次数,在铁电隧道结存储器方面具备广阔的应用前景。

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