制造半导体器件的方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108573860B

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN201710142850.9

    申请日:2017-03-10

    Abstract: 本发明构思的实施方案提供用于制造半导体器件的方法。所述方法包括:通过在基底上交替地且重复地堆叠绝缘层和牺牲层来形成堆叠结构,在所述堆叠结构上顺序地形成第一下部层和第一光刻胶图案,使用所述第一光刻胶图案作为蚀刻掩模蚀刻所述第一下部层以形成第一下部图案。使用所述第一下部图案作为蚀刻掩模蚀刻所述堆叠结构的第一部分以形成阶梯式结构。所述第一下部层包括基于酚醛清漆的有机聚合物,并且所述第一光刻胶图案包括包含硅的聚合物。

    抗蚀剂组合物
    5.
    发明公开
    抗蚀剂组合物 审中-实审

    公开(公告)号:CN113219787A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202011092502.3

    申请日:2020-10-13

    Abstract: 一种抗蚀剂组合物包括:聚合物;以及由式1表示的化合物,[式1]在式1中,R1为氢、卤素、具有1个至7个碳原子的烷基、具有1个至7个碳原子的羰基、具有1个至7个碳原子的酯基、具有1个至7个碳原子的缩醛基、具有1个至7个碳原子的烷氧基、具有1个至7个碳原子的醚基、或由式R表示的基团,R2、R3、R4和R5为氢、卤素、具有1个至7个碳原子的烷基、具有1个至7个碳原子的酯基、具有1个至7个碳原子的缩醛基、具有1个至7个碳原子的烷氧基、或具有1个至7个碳原子的醚基,[式R]

    光可分解化合物、光致抗蚀剂组合物和制造集成电路装置的方法

    公开(公告)号:CN113185432A

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN202011387643.8

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 提供一种光可分解化合物、光致抗蚀剂组合物和制造集成电路装置的方法。所述光可分解化合物包括:阴离子组分,包括金刚烷基;阳离子组分,包括C5至C40环烃基,并且与阴离子组分形成络合物。所述金刚烷基和所述环烃基中的至少一者具有取代基,所述取代基通过酸而分解并产生碱溶性基团。所述取代基包括酸不稳定性保护基。所述光致抗蚀剂组合物包括化学放大型聚合物、所述光可分解化合物和溶剂。为了制造集成电路(IC)装置,在特征层上使用光致抗蚀剂组合物形成光致抗蚀剂膜,对光致抗蚀剂膜的第一区域进行曝光以在第一区域中从光可分解化合物产生多种酸,化学放大型聚合物由于所述多种酸而脱保护,并且去除第一区域以形成光致抗蚀剂图案。

    用于深紫外光的光刻胶组合物以及制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN109581810A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811093301.8

    申请日:2018-09-19

    Abstract: 提供了包含等离子体光吸收剂的光刻胶组合物和使用该光刻胶组合物制造半导体器件的方法。光刻胶组合物可以包含可显影的聚合物、光致生酸剂、等离子体光吸收剂和有机溶剂。等离子体光吸收剂可以对用于光刻图案化过程的光(例如紫外光)较有透过性,所述光刻图案化过程用以将由光刻胶组合物形成的层图案化,并且对在后续刻蚀过程中产生的光(如由等离子体产生的光)较有吸收性。当形成半导体器件时,图案化的光刻胶层可以被更精确地产生并且可以更好地保持在用于刻蚀半导体器件的多个目标层时所需的性能。

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