对加速度或角速度传感器是否正常进行自我诊断的方法

    公开(公告)号:CN101776698A

    公开(公告)日:2010-07-14

    申请号:CN200910179501.X

    申请日:2009-09-30

    Inventor: 末次英治 林涉

    CPC classification number: G01P21/00 G01C19/56

    Abstract: 本发明涉及对加速度或角速度传感器是否正常进行自我诊断的方法。加速度或角速度传感器(1)的自我诊断装置(10)具备:诊断控制部(13)、积分运算部(11)、以及判定部(12)。诊断控制部(13)通过对检测加速度或角速度的传感器主体(8)施加规定大小的检查信号(14),对传感器主体(8)赋予伪加速度或角速度。积分运算部(11)对响应检查信号(14)从传感器主体(8)输出的传感器信号(17)进行积分。判定部(12)对积分运算部(11)从开始传感器信号(17)的积分时起经过了规定的积分时间时所得到的积分值(18)是否在规定的正常范围进行判定。

    具有多个动作模式的半导体装置

    公开(公告)号:CN101770810A

    公开(公告)日:2010-07-07

    申请号:CN200910208247.1

    申请日:2009-10-15

    Inventor: 末次英治 林涉

    CPC classification number: G11C5/066 G11C5/143 G11C5/147

    Abstract: 半导体装置(101)包括:第一电平检测电路(11),用于检测自电源端子(TPS1)上被供给电源电压起经过规定时间后的控制端子(TCK)上的电压电平;控制部(1),基于第一电平检测电路(11)的检测结果,选择以多个动作模式中的任意模式动作;以及调节器(5),基于供给电源端子(TPS1)的电源电压生成内部电源电压。第一电平检测电路(11)及控制部(1)接受内部电源电压作为动作电源电压,在多个动作模式中电源端子(TPS1)上被供给不同于其它动作模式的电平的电源电压的动作模式中,控制部(1)利用供给电源端子(TPS1)的电源电压进行数据处理。

    加速度或角速度传感器及其自我诊断装置

    公开(公告)号:CN105242072B

    公开(公告)日:2018-09-07

    申请号:CN201510589796.3

    申请日:2009-09-30

    Inventor: 末次英治 林涉

    CPC classification number: G01P21/00 G01C19/56

    Abstract: 本发明涉及对加速度或角速度传感器是否正常进行自我诊断的方法。加速度或角速度传感器(1)的自我诊断装置(10)具备:诊断控制部(13)、积分运算部(11)、以及判定部(12)。诊断控制部(13)通过对检测加速度或角速度的传感器主体(8)施加规定大小的检查信号(14),对传感器主体(8)赋予伪加速度或角速度。积分运算部(11)对响应检查信号(14)从传感器主体(8)输出的传感器信号(17)进行积分。判定部(12)对积分运算部(11)从开始传感器信号(17)的积分时起经过了规定的积分时间时所得到的积分值(18)是否在规定的正常范围进行判定。

    加速度或角速度传感器及其自我诊断装置

    公开(公告)号:CN105242072A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201510589796.3

    申请日:2009-09-30

    Inventor: 末次英治 林涉

    CPC classification number: G01P21/00 G01C19/56

    Abstract: 本发明涉及对加速度或角速度传感器是否正常进行自我诊断的方法。加速度或角速度传感器(1)的自我诊断装置(10)具备:诊断控制部(13)、积分运算部(11)、以及判定部(12)。诊断控制部(13)通过对检测加速度或角速度的传感器主体(8)施加规定大小的检查信号(14),对传感器主体(8)赋予伪加速度或角速度。积分运算部(11)对响应检查信号(14)从传感器主体(8)输出的传感器信号(17)进行积分。判定部(12)对积分运算部(11)从开始传感器信号(17)的积分时起经过了规定的积分时间时所得到的积分值(18)是否在规定的正常范围进行判定。

    具有多个动作模式的半导体装置

    公开(公告)号:CN101770810B

    公开(公告)日:2013-07-17

    申请号:CN200910208247.1

    申请日:2009-10-15

    Inventor: 末次英治 林涉

    CPC classification number: G11C5/066 G11C5/143 G11C5/147

    Abstract: 半导体装置(101)包括:第一电平检测电路(11),用于检测自电源端子(TPS1)上被供给电源电压起经过规定时间后的控制端子(TCK)上的电压电平;控制部(1),基于第一电平检测电路(11)的检测结果,选择以多个动作模式中的任意模式动作;以及调节器(5),基于供给电源端子(TPS1)的电源电压生成内部电源电压。第一电平检测电路(11)及控制部(1)接受内部电源电压作为动作电源电压,在多个动作模式中电源端子(TPS1)上被供给不同于其它动作模式的电平的电源电压的动作模式中,控制部(1)利用供给电源端子(TPS1)的电源电压进行数据处理。

Patent Agency Ranking