一种精细微纳米玻璃结构的加工方法

    公开(公告)号:CN113788452B

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202111014187.7

    申请日:2021-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种精细微纳米玻璃结构的加工方法,包括如下步骤:准备玻璃基片,并进行清洗吹干;当掩膜材料为非光刻胶材料,将掩模薄膜沉积到玻璃基片上,再涂覆光刻胶;当掩膜材料为光刻胶材料,在玻璃基片上涂覆光刻胶;采用光刻的方式,将待加工的结构转移至基片表面的光刻胶上;当掩膜材料为非光刻胶材料,先对掩膜材料进行刻蚀,再对玻璃基片进行刻蚀;当掩膜材料为光刻胶材料,仅对玻璃基片进行刻蚀即可;利用干法刻蚀或湿法腐蚀的方法去除光刻胶及掩膜材料,形成最终的玻璃器件结构。采用本发明的制备工艺,可使得刻蚀玻璃速率达到了710nm/min,粗糙度降低到40nm以下,侧壁垂直度接近90°。

    提高FIB刻蚀超浅光栅结构侧壁垂直度的方法及系统

    公开(公告)号:CN114924341B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202210488488.1

    申请日:2022-05-06

    Abstract: 本发明提供一种提高FIB刻蚀超浅光栅结构侧壁垂直度的方法及系统,涉及离子束加工技术领域,包括:步骤S1:在目标材料上制备掩膜层;步骤S2:根据需要刻蚀的光栅结构设计优化FIB刻蚀参数;步骤S3:利用FIB刻蚀参数从掩膜层表面开始刻蚀,刻蚀深度至目标材料表面以下;步骤S4:去除掩膜层,在目标材料表面形成高侧壁垂直度的超浅光栅结构。本发明能够在铌酸锂等非导电材料表面实现刻蚀深度100nm以下、深度可控精度小于10nm、侧壁垂直度80°以上的超浅光栅结构。

    一种用椭圆偏振光谱仪无损检测金属衬底氧化变性的方法

    公开(公告)号:CN113466141B

    公开(公告)日:2022-11-15

    申请号:CN202110552737.4

    申请日:2021-05-20

    Abstract: 本发明涉及一种用椭圆偏振光谱仪无损检测金属衬底氧化变性的方法,所述方法使用“金属衬底‑目标氧化物”光谱作为目标光谱,使用“金属衬底‑金属氧化界面‑目标氧化物”光谱作为参考光谱,通过拟合及对比能够快速判断出金属氧化界面的存在,并进一步分析其成分及厚度等信息,与此同时获得目标氧化物的厚度及光学常数。本方法测量精度高、对样品无损伤、对薄膜材料具有普适性。

    提高FIB刻蚀超浅光栅结构侧壁垂直度的方法及系统

    公开(公告)号:CN114924341A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202210488488.1

    申请日:2022-05-06

    Abstract: 本发明提供一种提高FIB刻蚀超浅光栅结构侧壁垂直度的方法及系统,涉及离子束加工技术领域,包括:步骤S1:在目标材料上制备掩膜层;步骤S2:根据需要刻蚀的光栅结构设计优化FIB刻蚀参数;步骤S3:利用FIB刻蚀参数从掩膜层表面开始刻蚀,刻蚀深度至目标材料表面以下;步骤S4:去除掩膜层,在目标材料表面形成高侧壁垂直度的超浅光栅结构。本发明能够在铌酸锂等非导电材料表面实现刻蚀深度100nm以下、深度可控精度小于10nm、侧壁垂直度80°以上的超浅光栅结构。

    一种精细微纳米玻璃结构的加工方法

    公开(公告)号:CN113788452A

    公开(公告)日:2021-12-14

    申请号:CN202111014187.7

    申请日:2021-08-31

    Abstract: 本发明公开了一种精细微纳米玻璃结构的加工方法,包括如下步骤:准备玻璃基片,并进行清洗吹干;当掩膜材料为非光刻胶材料,将掩模薄膜沉积到玻璃基片上,再涂覆光刻胶;当掩膜材料为光刻胶材料,在玻璃基片上涂覆光刻胶;采用光刻的方式,将待加工的结构转移至基片表面的光刻胶上;当掩膜材料为非光刻胶材料,先对掩膜材料进行刻蚀,再对玻璃基片进行刻蚀;当掩膜材料为光刻胶材料,仅对玻璃基片进行刻蚀即可;利用干法刻蚀或湿法腐蚀的方法去除光刻胶及掩膜材料,形成最终的玻璃器件结构。采用本发明的制备工艺,可使得刻蚀玻璃速率达到了710nm/min,粗糙度降低到40nm以下,侧壁垂直度接近90°。

    集成有底部反射层的、垂直耦合的二元闪耀亚波长光栅耦合器及制备方法

    公开(公告)号:CN114578487A

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN202210160444.6

    申请日:2022-02-22

    Abstract: 本发明公开了一种集成有底部反射层的、垂直耦合的二元闪耀亚波长光栅耦合器,自上而下的薄膜功能层、键合层、底部反射层和衬底层。功能层为脊型结构,包括输入/出光栅耦合器、光子波导器件区域。输入/出光栅耦合器呈对称分布内设置有周期性排布的二元闪耀亚波长结构的光栅阵列,每个周期中设置有一个不同宽度的主级和次级亚波长光栅,相邻亚波长光栅之间形成宽度不一的间隔槽,最后一个次级亚波长光栅与中间的光波导区域相临近。降低器件复杂度的同时优化设计以实现最大光耦合效率,额外设置了底部反射层来防止光线向底部泄露,光纤和光栅之间所采用的完全垂直耦合方式还便于器件的测试和芯片的封装,结构较紧凑、制备工艺简单、可重复性好。

    一种用椭圆偏振光谱仪无损检测金属衬底氧化变性的方法

    公开(公告)号:CN113466141A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110552737.4

    申请日:2021-05-20

    Abstract: 本发明涉及一种用椭圆偏振光谱仪无损检测金属衬底氧化变性的方法,所述方法使用“金属衬底‑目标氧化物”光谱作为目标光谱,使用“金属衬底‑金属氧化界面‑目标氧化物”光谱作为参考光谱,通过拟合及对比能够快速判断出金属氧化界面的存在,并进一步分析其成分及厚度等信息,与此同时获得目标氧化物的厚度及光学常数。本方法测量精度高、对样品无损伤、对薄膜材料具有普适性。

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