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公开(公告)号:CN113137958B
公开(公告)日:2022-07-19
申请号:CN202110441807.9
申请日:2021-04-23
Applicant: 上海华测导航技术股份有限公司
IPC: G01C15/00
Abstract: 本发明实施例公开了一种RTK主机的放样控制方法、系统及存储介质。其中,方法包括:获取设置在RTK主机底部的摄像头实时采集得到的目标图像;获取对中杆的杆尖在目标图像中的目标图像位置,其中,摄像头配置于对中杆之上;根据目标放样点的实际放置位置,以及摄像头的属性参数,确定目标放样点的理论图像位置;根据目标图像位置,以及理论图像位置,确定与RTK主机匹配的位置调整策略。本发明实施例的方案,解决了需要反复挪动RTK主机,才能完成一次放样操作,作业难度较大且作业效率低的问题,可以实现对RTK主机的精准放样控制,操作简单且效率高。
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公开(公告)号:CN113137958A
公开(公告)日:2021-07-20
申请号:CN202110441807.9
申请日:2021-04-23
Applicant: 上海华测导航技术股份有限公司
IPC: G01C15/00
Abstract: 本发明实施例公开了一种RTK主机的放样控制方法、系统及存储介质。其中,方法包括:获取设置在RTK主机底部的摄像头实时采集得到的目标图像;获取对中杆的杆尖在目标图像中的目标图像位置,其中,摄像头配置于对中杆之上;根据目标放样点的实际放置位置,以及摄像头的属性参数,确定目标放样点的理论图像位置;根据目标图像位置,以及理论图像位置,确定与RTK主机匹配的位置调整策略。本发明实施例的方案,解决了需要反复挪动RTK主机,才能完成一次放样操作,作业难度较大且作业效率低的问题,可以实现对RTK主机的精准放样控制,操作简单且效率高。
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